温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种红外测温仪外置温度参考源校正系统及方法，其系统包括位移装置和内置有温度传感器的金属挡片；位移装置用于带动金属挡片移动至红外测温仪的镜头前遮蔽镜头，并在镜头前停留预设时间后带动金属挡片从镜头前移除；金属挡片用于作为外部温度测量参...
该专利属于北京波谱华光科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京波谱华光科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。