水平平整度测量装置及测量工具组件制造方法及图纸

技术编号:24676997 阅读:139 留言:0更新日期:2020-06-27 06:26
本发明专利技术公开了一种水平平整度测量装置及测量工具组件,涉及测量根据技术领域。本发明专利技术的主要技术方案为:水平平整度测量装置,其包括本体、至少一台光发射与接收器、控制器、显示装置,本体具有容纳空间,且本体的第一表面上具有至少一个光线过孔,所述第一表面为平直表面;至少一台所述光发射与接收器设置在所述容纳空间内,且所述至少一台光发射与接收器与所述至少一个光线过孔一一对应,用于向被测点发送并接收测量光线;所述控制器与所述至少一台光发射与接收器信号连接,用于控制所述至少一台所述光发射与接收器发射、接收光线并计算所述测量光线传播距离;所述显示装置与所述控制器信号连接,用于显示所述第一表面到所述被测点之间的距离。

Horizontal flatness measuring device and measuring tool assembly

【技术实现步骤摘要】
水平平整度测量装置及测量工具组件
本专利技术涉及测量工具
,尤其涉及一种水平平整度测量装置及测量工具组件。
技术介绍
产品生产过程中,背板、后壳、档条等结构易发生翘曲变形,会影响到产品外观或后续的装配工序,因此需要在产品生产过程中以及产品成型后都要进行的平整度进行检测。通常现有的测量方式是将被测物体与一标准平面相贴合,利用不同厚度的塞尺在二者之间的缝隙一个个尝试着测量,一个水平面需要多次取点测量,且存在人为测量误差,平整度测量精度较低。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术实施例提供一种水平平整度测量装置及测量工具组件,主要目的是解决现有显示装置产品生产过程测量平整度时操作繁琐,精确度较低的问题。为达到上述目的,本专利技术主要提供如下技术方案:本专利技术实施例提供了一种水平平整度测量装置,其包括本体,所述本体具有容纳空间,且所述本体的第一表面上具有至少一个光线过孔,所述第一表面为平直表面;至少一台光发射与接收器,至少一台所述光发射与接收器设置在所述容纳空间内,且所述至少一台光发射与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种水平平整度测量装置,其特征在于:其包括/n本体,所述本体具有容纳空间,且所述本体的第一表面上具有至少一个光线过孔,所述第一表面为平直表面;/n至少一台光发射与接收器,至少一台所述光发射与接收器设置在所述容纳空间内,且至少一台所述光发射与接收器与至少一个所述光线过孔一一对应,用于向被测点发送测量光线并接收由被测点反射的测量光线;/n控制器,所述控制器与至少一台所述光发射与接收器信号连接,用于控制至少一台所述光发射与接收器发射、接收光线并计算所述第一表面到所述被测点之间的距离;/n显示装置,所述显示装置与所述控制器信号连接,用于显示所述第一表面到所述被测点之间的距离。/n

【技术特征摘要】
1.一种水平平整度测量装置,其特征在于:其包括
本体,所述本体具有容纳空间,且所述本体的第一表面上具有至少一个光线过孔,所述第一表面为平直表面;
至少一台光发射与接收器,至少一台所述光发射与接收器设置在所述容纳空间内,且至少一台所述光发射与接收器与至少一个所述光线过孔一一对应,用于向被测点发送测量光线并接收由被测点反射的测量光线;
控制器,所述控制器与至少一台所述光发射与接收器信号连接,用于控制至少一台所述光发射与接收器发射、接收光线并计算所述第一表面到所述被测点之间的距离;
显示装置,所述显示装置与所述控制器信号连接,用于显示所述第一表面到所述被测点之间的距离。


2.根据权利要求1所述的水平平整度测量装置,其特征在于:
至少一台光发射与接收器的发射端和接收端均与至少一个所述光线过孔在所述第一表面上相平齐。


3.根据权利要求2所述的水平平整度测量装置,其特征在于:
所述控制器包括计时电路;
所述计时电路和所述光发射与接收器信号连接,用于计算所述测量光线由所述光线过孔发出并回到所述光线过孔的时间。


4.根据权利要求3所述的水平平整度测量装置,其特征在于:
所述控制器包括计算电路;
所述计算电路与所述计时电路、所述显示装置信号连接,用于接收所述测量光线由所述光线过孔发出并回到所述光线过孔的时间,计算所述第一表面到所述各被测点之间的距离,并将所述第一表面到所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭子健
申请(专利权)人:合肥京东方视讯科技有限公司京东方科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:安徽;34

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