【技术实现步骤摘要】
表面测量设备的操作方法
本专利技术涉及一种用于测量工件表面的表面测量设备的操作方法。
技术介绍
相应的表面测量设备，例如以粗糙度测量设备的形式而众所周知，特别是被应用在工业制造测量技术中。它们具有探头，该探头具有能够围绕摆动轴发生角度偏移的探测臂，该探测臂在它的远离摆动轴的端部上具有探测元件，其中，探头能够相对于表面测量设备的基体沿着直线轴移动。已知的表面测量设备还具有评价装置以及用于控制测量过程的控制装置，该评价装置被设计并编程，使得在对工件表面进行扫描期间探测臂的角度偏移被转换成代表工件表面的表面形状的测量值。为了适应不同的测量目的，在已知的表面测量设备中，探测臂是可更换的，其中，可以使用具有不同长度的探测臂并且探测臂的长度限定了探头进而是表面测量设备的测量范围。为了将探测臂的更换设计得特别简单，探测臂例如可以通过磁耦合与探头连接。由于对于具有特定长度的每个探测臂来说，表面测量设备都有一个特定的测量范围，因此需要在更换探测臂之后根据所使用的探测臂设定测量范围。在这里已知的是，操作人员在更换...
【技术保护点】
1.用于测量工件表面的表面测量设备的操作方法，其中，所述表面测量设备具有探头，所述探头具有能够围绕摆动轴发生角度偏移的探测臂，所述探测臂在它的远离所述摆动轴的端部上具有探测元件，其中，所述探头相对于所述表面测量设备的基体沿着直线轴移动，其特征在于：/na)通过沿着所述直线轴移动探头，借助于所述探测元件对工件进行探测，/nb)在对所述工件进行探测之后使所述探测臂沿着所述直线轴移动规定的移动行程，/nc)对所引起的所述探测臂围绕所述摆动轴的角度偏移进行测量，以及/nd)根据所规定的所述探测臂的移动行程和所测得的所述探测臂的角度偏移，对所述探测臂在长度方面进行分类。/n
【技术特征摘要】
20181219 DE 102018132912.1;20190228 DE 102019105051.用于测量工件表面的表面测量设备的操作方法，其中，所述表面测量设备具有探头，所述探头具有能够围绕摆动轴发生角度偏移的探测臂，所述探测臂在它的远离所述摆动轴的端部上具有探测元件，其中，所述探头相对于所述表面测量设备的基体沿着直线轴移动，其特征在于：
a)通过沿着所述直线轴移动探头，借助于所述探测元件对工件进行探测，
b)在对所述工件进行探测之后使所述探测臂沿着所述直线轴移动规定的移动行程，
c)对所引起的所述探测臂围绕所述摆动轴的角度偏移进行测量，以及
d)根据所规定的所述探测臂的移动行程和所测得的所述探测臂的角度偏移，对所述探测臂在长度方面进行分类。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤d)中，
d1)从所规定的所述探测臂的移动行程和所测得的所引起的探测臂的角度偏移算出所述探测臂的长度以及
d2)通过将算出的所述探测臂的长度与规定的探测臂的各种长度进行比较而对所述探测臂进行分类。
3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，根据所述探测臂在其长度上的分类自动地设定所述表面测量设备的测量范围。
4.如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述表面测量设备是粗糙度测量设备、轮廓测量设备或者形状测量设备。
5.如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述直线轴是垂直轴或者水平轴。
6.如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述直线轴由所述表面测量设备的测量柱限定。
7.如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述探头是触觉式探头。
8.如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述探头通过进给装置与所述表面测量设备的基体连接，并且所述进给装置限定了直线型进给轴，其中，对所述直线型进给轴相对于水平轴的倾斜度进行确定并且将该倾斜度包含在所述探测臂在其长度方面的分类中。
9.如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述直线轴配有行程测量系统。
10.用于在测量过程中对工件(32)的表面进行测量的表面测量设备(2)，
所述表面测量设备包括：
基体；
探头(3)，所述探头具有能够围绕摆动轴(24)发生角度偏移的探测臂(4)，所述探测臂在它的远离所述摆动轴(24)的端部上具有用于对所述工件(32)的表面进行扫描的探测元件(30)，其中...
【专利技术属性】
技术研发人员：阿德尔伯特·勒伯，
申请(专利权)人：业纳工业计量德国公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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