【技术实现步骤摘要】
混合集成电路老炼试验工装
本技术涉及混合集成电路老炼试验工装,属于元器件可靠性测试
技术介绍
目前,混合集成电路老炼设备多数是由电源、电子负载等各种仪器、仪表系统集成。混合集成电路器件引脚排列、数目和粗细不一致,夹具缺乏规范化和通用化。常规夹具采用锁紧座方式,对器件管脚有效接触性和保护性较差。大功率混合集成电路在试验时,消耗功率散热,如果热量不能有效扩散,会导致器件损坏。专利CN102435876A、CN202113034U、CN204989229U提供了采用金属弹簧探针测试芯片的夹具或测试座,该类芯片测试夹具适用于单片集成电路,且一个夹具只能用于一种单片测试,通用性差;而对于体积大、金属管脚粗且排列不规则、功率耗散大的混合集成电路,该类芯片测试夹具无法适用。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术不足,提供一种散热性好、对器件无伤害、保证与管脚有效接触的混合集成电路老炼试验工装。本技术的技术解决方案:混合集成电路老炼试验工装,包括老炼板、承载板、器件固定结构和测试结构,老炼板和承载板平行固定,两者之间存在一定空隙,器件固定结构和测试结构安装在承载板上,测试结构对称分布在器件固定结构两侧,器件固定结构固定待测器件;所述的测试结构包括测试第一固定载板、测试第二固定载板、探针结构、框架锁紧结构、导向结构、定位柱和移动载板,测试第一固定载板和测试第二固定载板固定安装在承载板上,框架锁紧结构安装在承载板上,用于移动载板在测试位置和非测试位置的定位,定位柱安装在靠近移动载板 ...
【技术保护点】
1.混合集成电路老炼试验工装,其特征在于:包括老炼板、承载板、器件固定结构和测试结构,老炼板和承载板平行固定,两者之间存在一定空隙,器件固定结构和测试结构安装在承载板上,测试结构对称分布在器件固定结构两侧,器件固定结构固定待测器件;/n所述的测试结构包括测试第一固定载板、测试第二固定载板、探针结构、框架锁紧结构、导向结构、定位柱和移动载板,测试第一固定载板和测试第二固定载板固定安装在承载板上,框架锁紧结构安装在承载板上,用于移动载板在测试位置和非测试位置的定位,定位柱安装在靠近移动载板一侧的测试第一固定载板两端,移动载板在向测试第一固定载板移动过程中,定位柱穿过移动载板;/n所述的探针结构由探针安装板和若干金属弹簧探针构成,金属弹簧探针安装在探针安装板的一端,探针安装板的另一端固定安装在移动载板上,测试第一固定载板和测试第二固定载板之间连接导向结构,移动载板通过导向结构在测试第一固定载板和测试第二固定载板之间移动,带动探针结构从两端向待测器件管脚移动,金属弹簧探针与待测器件管脚侧面接触,框架锁紧结构将移动载板固定在测试位置。/n
【技术特征摘要】
1.混合集成电路老炼试验工装,其特征在于:包括老炼板、承载板、器件固定结构和测试结构,老炼板和承载板平行固定,两者之间存在一定空隙,器件固定结构和测试结构安装在承载板上,测试结构对称分布在器件固定结构两侧,器件固定结构固定待测器件;
所述的测试结构包括测试第一固定载板、测试第二固定载板、探针结构、框架锁紧结构、导向结构、定位柱和移动载板,测试第一固定载板和测试第二固定载板固定安装在承载板上,框架锁紧结构安装在承载板上,用于移动载板在测试位置和非测试位置的定位,定位柱安装在靠近移动载板一侧的测试第一固定载板两端,移动载板在向测试第一固定载板移动过程中,定位柱穿过移动载板;
所述的探针结构由探针安装板和若干金属弹簧探针构成,金属弹簧探针安装在探针安装板的一端,探针安装板的另一端固定安装在移动载板上,测试第一固定载板和测试第二固定载板之间连接导向结构,移动载板通过导向结构在测试第一固定载板和测试第二固定载板之间移动,带动探针结构从两端向待测器件管脚移动,金属弹簧探针与待测器件管脚侧面接触,框架锁紧结构将移动载板固定在测试位置。
2.根据权利要求1所述的混合集成电路老炼试验工装,其特征在于:所述的框架锁紧结构由对称分布在测试第二固定载板两端的第一框架和第二框架构成,第一、二框架分别通过框架转轴安装在承载板上,第一、二框架由固定端、连接部和捏合端组成,固定端加工凹槽和端部凹槽,弹簧压缩后分别安装在第一、二框架连接部和测试第二固定载板之间,在移动载板移动过程中,使得第一、二框架与测试第二固定载板保持接触,移动载板非测试时,两端分别插入到第一、二框架的凹槽中固定位置,测试时,第一、二框架的捏合端相向用力,在弹簧作用下,第一、二框架...
【专利技术属性】
技术研发人员:温恒娟,陈覃,李骥尧,
申请(专利权)人:北京振兴计量测试研究所,
类型:新型
国别省市:北京;11
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