辐射强度计冷却装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种辐射强度计冷却装置，包括支架，所述支架包括第一板件，所述第一板件的中部沿其厚度方向设有若干个第一通孔；壳体，所述壳体上设有沿其厚度方向贯穿设置的一个第二通孔，所述壳体上还设有一个第一凹槽，所述第一凹槽与所述第二通孔连通，所述壳体上还设有第二凹槽，所述第二凹槽沿所述壳体的厚度方向设置，所述第二凹槽环绕所述第二通孔设置，所述壳体上还设有第三通孔和第四通孔，所述第三通孔与所述第二凹槽的一端连通，所述第四通孔与所述第二凹槽的另一端连通；辐照强度计，所述辐照强度计穿设在书第二通孔内，所述辐射强度计的一端设有探头。另一端设有用于导电的电线。其能够在高温环境下进行实验测量。

Radiator cooling device

【技术实现步骤摘要】
辐射强度计冷却装置
本技术涉及了阳光辐射检测领域，具体的是一种辐射强度计冷却装置。
技术介绍
辐照强度计是用于检测光线的辐照强度的。在阳光辐照试验机中，辐照强度计用于检测当前试验的光照强度，随着试验强度的增加，试验箱的测试温度也从50度升到110度的温度范围，而辐照强度计的工作时环境温度要求再60度以下，超过此值对测量精度、辐照强度计寿命影响较大，长期高温会直接损坏辐照强度计。现有的辐照强度计受环境温度湿度限制较大，只能在0℃-40℃，湿度小于80％RH的环境下使用。现有的辐照强度计在进行大功率测量时，传感器照射稍长，温度就会过高，无法进行工作，还会造成仪器损害。
技术实现思路
为了克服现有技术中的缺陷，本技术实施例提供了一种辐射强度计冷却装置，其能够在高温环境下进行实验测量。为实现上述目的，本申请实施例公开了一种辐射强度计冷却装置，包括：支架，所述支架包括第一板件，所述第一板件的中部沿其厚度方向设有若干个第一通孔；壳体，所述壳体上设有沿其厚度方向贯穿设置的一个第二通孔，所述壳体上还设有一个第一凹槽，所述第一凹槽与所述第二通孔连通，所述壳体上还设有第二凹槽，所述第二凹槽沿所述壳体的厚度方向设置，所述第二凹槽部分所述第二通孔设置，所述壳体上还设有第三通孔和第四通孔，所述第三通孔与所述第二凹槽的一端连通，所述第四通孔与所述第二凹槽的另一端连通；辐照强度计，所述辐照强度计穿设在书第二通孔内，所述辐射强度计的一端设有探头。另一端设有用于导电的电线；所述壳体可拆卸固定在所述支架上，所述第二通孔对应设置在所述第一通孔上，所述辐照强度计的电线穿设在所述第一通孔内，所述辐照强度计的探头设置在所述第二通孔远离所述支架的一端。优选的，所述支架整体呈L型，所述支架还包括第二板件，所述第一板件垂直设置在所述第二板件的一端上。优选的，所述壳体整体呈长方体状，所述第二通孔的横截面呈圆形，所述第二凹槽的横截面呈环型，所述第二通孔设置在所述第二凹槽的内侧。优选的，所述第二通孔设置在所述壳体的中央位置。优选的，所述支架和所述壳体之间设有第一密封圈和第二密封圈，所述第一密封圈分别设置在所述第二凹槽的两侧。优选的，所述壳体通过螺丝固定在所述第一板件上。本技术的有益效果如下：1、本技术提供的辐射强度计冷却装置结构简单，易于安装使用，有效的降低辐射强度计的温度，确保辐射强度计能够工作。为让本技术的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例中辐射强度计冷却装置的结构示意图；图2是本技术实施例中辐射强度计冷却装置的仰视图；图3是本技术实施例中壳体的横截面图；图4是本技术实施例中辐射强度计冷却装置的纵截面图；以上附图的附图标记：1、支架；11、第一板件；12、第一通孔；13、第二板件；2、壳体；21、第二通孔；22、第一凹槽；23、第二凹槽；24、第三通孔；25、第四通孔；26、螺丝；3、第一密封圈；4、第二密封圈；5、探头。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或隐含地包括一个或者更多个该特征。为达到上述目的，本技术提供一种辐射强度计冷却装置，包括支架1、壳体2以及辐射强度计。在本实施例中，请参照图1，所述支架1包括第一板件11和第二板件13，所述第一板件11水平设置，所述第二板件13垂直设置在所述第一板件11的右端，所述第一板件11的上方设有壳体2，所述壳体2整体呈长方体状，所述壳体2的四个角上通过螺丝26固定在所述第一板件11上。进一步的，请参考图1，所述壳体2的中部设有第二通孔21，所述第二通孔21内容纳有辐射强度计，所述辐射强度计的探头5设置在所述第二通孔21的上端，所述壳体2的正面上设有第一凹槽22，所述第一凹槽22与所述第二通孔21连通，所述壳体2的正面上还设有第三通孔24和所述第四通孔25，所述第三通孔24设置在所述第一凹槽22的左侧，所述第四通孔25设置在所述第一凹槽22的右侧。进一步的，请参考图1和图3，所述壳体2的底面上设有第二凹槽23，所述第二凹槽23的两端分别设置在所述第一凹槽22的两侧，所述第二凹槽23的两端分别与所述第三通孔24和所述第四通孔25连通。进一步的，请参考图4，所述壳体2和所述第一板件11之间还摄于第一密封圈3和第二密封圈4，所述第一密封圈3沿所述第二凹槽23的内侧的边沿设置，所述第二密封圈4沿所述第二凹槽23的外侧的边沿设置。进一步的，请参考图1和图4，所述第二板件13上穿设有用于固定支架1的螺栓。通过螺栓将整个辐射强度计冷却装置固定在检测设备上。进一步的，请参考图2，所述第一板件11上穿设有3个第一通孔12，所述辐射强度计下端的电线穿设在所述第一通孔12内。借由上述结构，请参考图1，将所述辐射强度冷却装置固定在检测设备上，开始进行检测阳光辐射强度，向所述第三通孔24通入冷水，所述冷水通过第二凹槽23进入第四通孔25排出，通过第二凹槽23内流动的冷水对所述辐射强度计进行水循环降温处理，使得辐射强度计能够在该问环境下进行测量。本技术中应用了具体实施例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辐射强度计冷却装置，其特征在于，包括：/n支架，所述支架包括第一板件，所述第一板件的中部沿其厚度方向设有若干个第一通孔；/n壳体，所述壳体上设有沿其厚度方向贯穿设置的一个第二通孔，所述壳体上还设有一个第一凹槽，所述第一凹槽与所述第二通孔连通，所述壳体上还设有第二凹槽，所述第二凹槽沿所述壳体的厚度方向设置，所述第二凹槽环绕所述第二通孔设置，所述壳体上还设有第三通孔和第四通孔，所述第三通孔与所述第二凹槽的一端连通，所述第四通孔与所述第二凹槽的另一端连通；/n辐照强度计，所述辐照强度计穿设在书第二通孔内，所述辐射强度计的一端设有探头；另一端设有用于导电的电线；/n所述壳体可拆卸固定在所述支架上，所述第二通孔对应设置在所述第一通孔上，所述辐照强度计的电线穿设在所述第一通孔内，所述辐照强度计的探头设置在所述第二通孔远离所述支架的一端。/n

【技术特征摘要】
1.一种辐射强度计冷却装置，其特征在于，包括：
支架，所述支架包括第一板件，所述第一板件的中部沿其厚度方向设有若干个第一通孔；
壳体，所述壳体上设有沿其厚度方向贯穿设置的一个第二通孔，所述壳体上还设有一个第一凹槽，所述第一凹槽与所述第二通孔连通，所述壳体上还设有第二凹槽，所述第二凹槽沿所述壳体的厚度方向设置，所述第二凹槽环绕所述第二通孔设置，所述壳体上还设有第三通孔和第四通孔，所述第三通孔与所述第二凹槽的一端连通，所述第四通孔与所述第二凹槽的另一端连通；
辐照强度计，所述辐照强度计穿设在书第二通孔内，所述辐射强度计的一端设有探头；另一端设有用于导电的电线；
所述壳体可拆卸固定在所述支架上，所述第二通孔对应设置在所述第一通孔上，所述辐照强度计的电线穿设在所述第一通孔内，所述辐照强度计的探头设置在所述第二通孔远离所述支架的一端。

【专利技术属性】
技术研发人员：卜英杰，王小凡，
申请(专利权)人：泰美科环境仪器昆山有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32