一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置制造方法及图纸

技术编号:24612497 阅读:41 留言:0更新日期:2020-06-24 00:38
本申请实施例提供一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,涉及电力监测技术领域,所述数据获取装置包括扫频信号发生器、信号整形器和处理器,其中,所述扫频信号发生器与所述处理器和所述信号整形器件相连接。可见,实施这种实施方式,能够获取到用于对变压器绕组变形测试仪进行校准的准确数据,从而提高对变压器绕组变形测试仪校准的准确程度。

A data acquisition device for calibration of transformer winding deformation tester

【技术实现步骤摘要】
一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置
本申请涉及电力监测
,具体而言,涉及一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置。
技术介绍
变压器绕组变形测试仪是根据国家电力行业标准DL/T911-2004测量变压器的绕组变形的仪器,主要是通过检测变压器各个绕组的幅频响应特性,并对检测结果进行纵向或横向比较,根据幅频响应、相频响应特性的变化程度,判断变压器可能发生的绕组变形。然而,虽然变压器绕组变形测试仪具有较强的功效,但是对于变压器绕组变形测试仪本身而言,其校准检测却是通过穿行连接固定衰减器到变压器绕组变形测试仪中来进行校准检测的。在实践中发现,目前的这种变压器绕组变形测试仪校准检测方式准确度无法得到保障,从而导致了变压器绕组变形测试仪的准确度较低。
技术实现思路
本申请实施例的目的在于提供一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,能够获取到用于对变压器绕组变形测试仪进行校准的准确数据,从而提高对变压器绕组变形测试仪校准的准确程度。本申请实施例提供了一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,所述数据获取装置包括扫频信号发生器、信号整形器和处理器,其中,所述处理器,用于获取扫频信号参数和所述变压器绕组变形测试仪的单次运行时间,并发送所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间至所述扫频信号发生器;所述信号整形器,用于获取所述变压器绕组变形测试仪输出的开始信号,对所述开始信号进行整形处理得到触发信号,并发送所述触发信号至所述扫频信号发生器;所述扫频信号发生器与所述处理器和所述信号整形器件相连接,用于接收所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间,并在接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的两路扫频信号,以使所述变压器绕组变形测试仪进行测试并得到测试结果数据;其中,所述扫频信号设置参数用于固定所述两路扫频信号的相位差和幅度差。在上述实现过程中,该数据获取装置可以通过处理器预先获取到变压器绕组变形测试仪独立运行的一次完整运行时间,并使处理器获取扫频信号发生器所需要的所有扫频信号参数,以使扫频信号发生器可以根据扫频信号参数和单次运行时间对将要生成的扫频信号进行参数设置,同时该数据获取装置还将通过信号整形器来获取变压器绕组变形测试仪的开始触发信号,并通过信号整形器对变压器绕组变形测试仪发送的开始触发信号进行整形处理,得到呈脉冲信号的触发信号,以使该数据获取装置可以通过扫频信号发生器得知变压器绕组变形测试仪已经开始运行,并输出根据扫频信号参数预设好的两路扫频信号,其中两路扫频信号具有的固定相位差和固定幅度差可以极大限度的提高对变压器绕组变形测试仪进行校准的数据的准确程度。可见,实施这种实施方式,可以通过扫频信号发生器、信号整形器和处理器三者的搭配组合输出准确的扫频信号,并使变压器绕组变形测试仪根据扫频信号生成测试数据,因扫频信号参数已知,又获知了测试数据,因此册数数据中的不准确数据将更加准确的被显示出来,从而提高了数据获取的准确性,进而提高了对变压器绕组变形测试仪校准的准确程度。进一步地,所述数据获取装置还包括测时器,其中,所述测时器分别与所述处理器和所述变压器绕组变形测试仪两者相连接,用于检测变压器绕组变形测试仪的单次运行时间,并发送所述单次运行时间至所述处理器。在上述实现过程中,数据获取装置还可以通过其内置的测时器来获取变压器绕组变形测试仪一次完整运行时间,并将该单次运行时间(即上述一次完整运行时间)发送至处理器。可见,实施这种实施方式,该数据获取装置可以通过测时器来获取被校准的变压器绕组变形测试仪的实时单次运行时间,从而使得处理器中具有的单次运行时间具有实时性,进而进一步提高对变压器绕组变形测试仪进行校准的数据获取准确度。进一步地,所述处理器还用于获取所述扫频信号设置参数和所述测试结果数据,并根据所述扫频信号设置参数和所述测试结果数据进行计算,得到校准数据。在上述实现过程中,处理器可以根据扫频信号设置参数计算得到扫频信号的各种数据,同时,基于上述的各种数据也可以进一步计算出多个扫频信号之间的差异数据,因此,在差异数据固定(即两路扫频信号具有固定的相位差和固定的幅度差)时,变压器绕组变形测试仪测试这两路扫频信号理论上得到的测试结果数据应与固定的相位差和固定的幅度差相匹配。然而,在实践中可以得知,变压器绕组变形测试仪测试出来的测试结果数据与上述的差异数据是存在不同之处的,因此这些不同之处变为处理器可以再次计算得到的校准数据,以使该校准数据可以更加直观明显的指出变压器绕组变形测试仪的问题所在,从而可以有效地提高数据输出的有效性,并增加数据输出的可直接使用性。进一步地,所述扫频信号发生器包括电源适配电路、通讯电路、同步电路、第一直接数字式频率合成器电路、第二直接数字式频率合成器电路以及微处理器,其中,所述电源适配电路与所述微处理器相连接,用于为所述微处理器供电;所述通讯电路与所述微处理器相连接,用于接收所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间;所述同步电路与所述微处理器相连接,用于接收所述触发信号;所述第一直接数字式频率合成器电路与所述微处理器相连接,用于在所述同步电路接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的一路扫频信号;所述第二直接数字式频率合成器电路与所述微处理器相连接,用于在所述同步电路接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的另一路扫频信号;其中,两路扫频信号具有固定相位差和幅度差;所述微处理器,用于对所述通讯电路、所述同步电路、所述第一直接数字式频率合成器电路以及所述第二直接数字式频率合成器电路进行供电、数据信号传输以及数据信号处理的操作。在上述实现过程中,该数据获取装置中的扫频信号发生器包括电源适配电路、通讯电路、同步电路、第一直接数字式频率合成器电路、第二直接数字式频率合成器电路以及微处理器,其中,通讯电路和同步电路用于与其他器件的信息交互并实现将数据传输给微处理器的功能,第一直接数字式频率合成器电路和第二直接数字式频率合成器电路则根据微处理电路中具有的参数和数据信息进行扫频信号的生成,至于电源适配电路则是为扫频信号发生器中的其余电路进行供电,其中,微处理器还具有电力间接分配的功能。可见,实施这种实施方式,该种扫频信号发生器可以有效地将工作进行分工,并通过微处理器进行有机组合,从而实现高效准确地生成扫频信号的功能,从而提高整体测试结果数据的准确程度。进一步地,所述扫频信号发生器还包括控制电路和显示电路,其中,所述控制电路与所述微处理器相连接,用于接收对所述微处理器进行控制的控制信号;所述显示电路与所述微处理器相连接,用于显示所述微处理器包括的数据信息。在上述实现过程中,扫频信号发生器还可以根据控制电路来连接键盘等外设器件,并且还可以根据显示电路来连接显示器或播放器等器件,从而能够实现扫频信号发生器的可操作性和可视性,进而提高该数据获取装置的使用效本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述数据获取装置包括扫频信号发生器、信号整形器和处理器,其中,/n所述处理器,用于获取扫频信号参数和所述变压器绕组变形测试仪的单次运行时间,并发送所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间至所述扫频信号发生器;/n所述信号整形器,用于获取所述变压器绕组变形测试仪输出的开始信号,对所述开始信号进行整形处理得到触发信号,并发送所述触发信号至所述扫频信号发生器;/n所述扫频信号发生器与所述处理器和所述信号整形器件相连接,用于接收所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间,并在接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的两路扫频信号,以使所述变压器绕组变形测试仪进行测试并得到测试结果数据;其中,所述扫频信号设置参数用于固定所述两路扫频信号的相位差和幅度差。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述数据获取装置包括扫频信号发生器、信号整形器和处理器,其中,
所述处理器,用于获取扫频信号参数和所述变压器绕组变形测试仪的单次运行时间,并发送所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间至所述扫频信号发生器;
所述信号整形器,用于获取所述变压器绕组变形测试仪输出的开始信号,对所述开始信号进行整形处理得到触发信号,并发送所述触发信号至所述扫频信号发生器;
所述扫频信号发生器与所述处理器和所述信号整形器件相连接,用于接收所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间,并在接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的两路扫频信号,以使所述变压器绕组变形测试仪进行测试并得到测试结果数据;其中,所述扫频信号设置参数用于固定所述两路扫频信号的相位差和幅度差。


2.根据权利要求1所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述数据获取装置还包括测时器,其中,
所述测时器分别与所述处理器和所述变压器绕组变形测试仪两者相连接,用于检测变压器绕组变形测试仪的单次运行时间,并发送所述单次运行时间至所述处理器。


3.根据权利要求1所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述处理器还用于获取所述扫频信号设置参数和所述测试结果数据,并根据所述扫频信号设置参数和所述测试结果数据进行计算,得到校准数据。


4.根据权利要求1所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述扫频信号发生器包括电源适配电路、通讯电路、同步电路、第一直接数字式频率合成器电路、第二直接数字式频率合成器电路以及微处理器,其中,
所述电源适配电路与所述微处理器相连接,用于为所述微处理器供电;
所述通讯电路与所述微处理器相连接,用于接收所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间;
所述同步电路与所述微处理器相连接,用于接收所述触发信号;
所述第一直接数字式频率合成器电路与所述微处理器相连接,用于在所述同步电路接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的一路扫频信号;
所述第二直接数字式频率合成器电路与所述微处理器相连接,用于在所述同步电路接收到所述触发信号时输出与所述扫频信号设置参数和所述单次运行时间相对应的另一路扫频信号;其中,两路扫频信号具有固定相位差和幅度差;
所述微处理器,用于对所述通讯电路、所述同步电路、所述第一直接数字式频率合成器电路以及所述第二直接数字式频率合成器电路进行供电、数据信号传输以及数据信号处理的操作。


5.根据权利要求4所述的用于变压器绕组变形测试仪校准的数据获取装置,其特征在于,所述扫频信号发生器还包括控制电路和显示电路,其中,
所述控制电路与所述微处理器相连接,用于接收对所述微处理器进行控制的控制信号;
所述显示电路与所述微处理器相连接,用于显示所述微处理器包括的数据信息。

...

【专利技术属性】
技术研发人员:燕鸣李诺郝松金月红张圣男杨鸣孙家林陈乔溪梁国鼎刘延博
申请(专利权)人:辽宁省计量科学研究院
类型:发明
国别省市:辽宁;21

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1