【技术实现步骤摘要】
固体灰尘颗粒径谱分析仪
本专利技术公开了一种测量固体颗粒密度与径谱分布的原理及技术。本专利技术采用喇叭口电晕灰尘带电技术与灰尘成像分析技术,构造固体灰尘径谱识别与灰尘颗粒直径测量。颗粒径谱的显示与测量的环境可以通过自动设置与手动设置完成,并将测量结果显示到LCD屏,为快速灰尘固态颗粒径的测量提供了一种有效、快速的解决方案。
技术介绍
灰尘颗粒测量,是灰尘颗粒检测中的一个难点,传统的灰尘检测方式如离子化灰尘探测技术、光电灰尘探测技术,运用了不同的方法获取粒径。传统分析理论使用物理化学方法,进行的模型建设与模拟[1],实际使用效果不高;空气采样检测灰尘颗粒中,吸气散射法[2]与粉尘法[3]、化学胶体法[4],仅仅限于对大颗粒灰尘尘感知,而无法获得颗粒径与密度。使用激光全散射法成像形成的颗粒探测[5,6],由于动态图像分辨率差,成本高,所形成的颗粒径应用性差;传统的灰尘尘图像斑点识别技术[7]限于像素识别,物理直径计算不准确;而用于光学成像测距的斑点物理距离计算[8],由于没动态捕获斑点最小值算法,智能性不足,在对灰尘场应用中效果较差。灰尘是较大粒径微颗粒,中位值为0.5μm。颗粒带电方式多样,本专利技术采用低密度小颗粒的感灰尘探测技术,与吸气法的大颗粒感灰尘探测技术综合优点,可以快捷宽谱(颗粒径谱)探测颗粒直径的分布范围。[1]TheGenevaAssoeiation.GenevaAssociationNewLetter:WbrldFirestatisties.Oct.2003[2]李宏文,冉鹏.吸气式感 ...
【技术保护点】
1.一种测量灰尘微颗粒密度与直径谱的智能电子测量技术方案,其特征包括灰尘微颗粒样的泡室技术原理与颗粒粒径的图像计算显示框架、电路时序与计算系统控制逻辑;其中,/n灰尘微颗粒样的泡室技术原理,包括高压电场的产生与颗粒选择原理、可复用泡面灰尘颗粒斑成像原理;颗粒粒径的图像计算公式与算法,包括了泡面图像的存储过程,泡面斑点图像像素物理直径算法,电场与直径构造的颗粒径谱计算,颗粒的密度与径谱显示;电路时序与计算系统控制逻辑,包括了泡室的灰尘颗粒气体取样时序、时序电路的使能信号与ARM计算系统的算法。/n
【技术特征摘要】
1.一种测量灰尘微颗粒密度与直径谱的智能电子测量技术方案,其特征包括灰尘微颗粒样的泡室技术原理与颗粒粒径的图像计算显示框架、电路时序与计算系统控制逻辑;其中,
灰尘微颗粒样的泡室技术原理,包括高压电场的产生与颗粒选择原理、可复用泡面灰尘颗粒斑成像原理;颗粒粒径的图像计算公式与算法,包括了泡面图像的存储过程,泡面斑点图像像素物理直径算法,电场与直径构造的颗粒径谱计算,颗粒的密度与径谱显示;电路时序与计算系统控制逻辑,包括了泡室的灰尘颗粒气体取样时序、时序电路的使能信号与ARM计算系统的算法。
2.根据权利要求1所述的高压电场的产生与颗粒选择原理,其特征是二种高电压脉冲电路,泡室的结构,空间灰尘颗粒的带电技术,水平降速电场室与垂直电场室,垂直电场作用下的颗粒选择公式,具体包括;高电压脉冲电路,包括了时序电路形成的固定频率脉冲电路所形成的高压升压电路,与ARM系统的PWM(脚)输出降频,形成的升压开关电路;泡室的结构,包括了泡室外高电场颗粒带电电路,室内带电颗粒水平加速结构,垂直电场偏移选择结构,颗粒加速后吸附到泡面所在位置;空间灰尘颗粒带电电路,包括双电极空间放电的电晕颗粒带电;水平降速电场室与垂直电场室,包括了极板位置与电场强度的计算方法,极板的距离;垂直电场作用下的颗粒选择公式,包括了在固定泡室、固定加速电场强度下,垂直电场强度对颗粒m的选择。
3.根据权利要求1所述的复用泡面灰尘颗粒斑成像原理,其特征是包括泡面灰尘颗粒吸附控制技术,清洗泡面已经吸附灰尘颗粒方法,颗粒斑的吸附图像形成,具体包括:泡面灰尘颗粒吸附控制技术,包括固定垂直电场强度下的时序周期;清洗泡面已经吸附灰尘颗粒方法,包括时序控制周期泡室的进气孔位置,泄气孔子位置;颗粒斑的吸附图像形成,使用泡面与透镜分离结构,颗粒多次吸取灰尘尘累积形成。
4.根据权利要求1所述的泡面图像的存储过程,其特征是包括泡面灰尘颗粒图像,透镜成像与光学传感器像素生成,存储器存储传感数据,具体包括:泡面灰尘颗粒累积,指多次吸取灰尘尘颗粒所形成的颗粒在泡面上的累积;透镜成像与光学传感器像素生成,包括泡面位置,与透镜准确成...
【专利技术属性】
技术研发人员:童彬,
申请(专利权)人:合肥市诚泰模具有限责任公司,
类型:发明
国别省市:安徽;34
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。