检测LED串中缺陷的方法以及具有至少一个LED串的电子电路技术

公开了一种方法和电子电路。该方法包括：检测包括被监控的LED串(3)的电子电路中的至少一个操作参数；基于检测的至少一个操作参数调整电压阈值(S3

Method of detecting defects in LED string and electronic circuit with at least one LED string

【技术实现步骤摘要】
检测LED串中缺陷的方法以及具有至少一个LED串的电子电路
本公开总体上涉及用于检测LED(发光二极管)串中的缺陷的方法以及具有至少一个LED串的电子电路。
技术介绍
包括串联连接的多个LED的LED串被广泛用于各种应用中的照明目的，诸如汽车的内部或外部照明或者建筑物的照明(仅举几例)。LED串可通过生成被LED串接收的驱动电流的驱动电路来驱动。驱动电路还可以被配置为监控LED串并且检测LED串中的一个LED的缺陷。缺陷可包括串中的一个LED的短路。检测具有至少一个LED串的系统中的缺陷可包括：测量LED串两端的电压，并将测量的电压与有系统制造商预定义且存储在系统的存储器中的阈值进行比较。这种类型的缺陷检测基于以下假设：当串中的每个LED都点亮时，LED串两端的电压(串电压)高于阈值，而当一个LED中发生短路时，串电压降至阈值以下。串电压基本上与串中LED的数量和LED的正向电压成比例。一个LED中发生短路时的串电压的降低基本上与串中的LED数量n的倒数成比例。例如，当串包括n＝2个LED且其中一个LED发生短路时，串电压下降约50％(本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种方法，包括：/n检测包括被监控的LED串(3)的电子电路中的至少一个操作参数；/n基于检测的所述至少一个操作参数调整电压阈值(S3

【技术特征摘要】
20181211 DE 102018131803.01.一种方法，包括：
检测包括被监控的LED串(3)的电子电路中的至少一个操作参数；
基于检测的所述至少一个操作参数调整电压阈值(S3TH)；
检测所述被监控的LED串(3)两端的串电压(S3)；
将所述串电压(S3)与所述电压阈值(S3TH)进行比较；以及
基于所述比较检测所述LED串(3)中的缺陷。


2.根据权利要求1所述的方法，
其中所述至少一个操作参数包括通过所述LED串(3)的串电流(I3)；并且
其中调整所述电压阈值(S3TH)包括随着所述串电流(I3)的增加而增加所述电压阈值(S3TH)。


3.根据权利要求1或2所述的方法，
其中所述至少一个操作参数包括所述LED串(3)的估计温度；并且
其中调整所述电压阈值(S3TH)包括随着所述估计温度的增加而降低所述电压阈值(S3TH)。


4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，
其中所述电子电路包括至少一个附加的LED串(31、32)，并且
其中所述至少一个操作参数包括所述至少一个附加的LED串(31、32)的串电压(V31、V32)。


5.根据权利要求4所述的方法，
其中所述至少一个附加的LED串包括多个附加的LED串(31、32)，并且
其中所述至少一个操作参数包括所述多个附加的LED串(31、32)的串电压(V31、V32)的最大值。


6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述至少一个操作参数包括所述LED串中的被监控的LED(3m)两端的电压(VF3m)，并且
其中调整所述电压阈值(S3TH)包括随着所述电压(VF3m)的增加来增加所述电压阈值(S3TH)。


7.根据权利要求6所述的方法，还包括：
当所述被监控的LED(3m)两端的所述电压下降到预定最小值(VMIN)以下时，检测缺陷。


8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，
其中所述电子电路还包括可变电流源(2A、2B、2C)，
其中所述可变电流源(2A、2B、2C)与所述被监控的LED串(3)串联，并且被配置为根据控制信号提供具有可变幅度的电流，并且
其中所述至少一个操作参数包括所述控制信号(S2A、S2B、S2C)。


9.一种电子电路，包括：
被监控的LED串...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·帕玛托，D·萨托利，G·昂特维杰，
申请(专利权)人：英飞凌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE