多分散性粉体荷质比的测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种多分散性粉体荷质比的测量装置，所述多分散性粉体荷质比的测量装置包括一取样器、一流体化床及一垂直串联排列的法拉第筒组，所述取样器与所述法拉第筒组连通，所述取样器从所述流体化床中采集带电粉体样品后送入所述法拉第筒组中；其中，所述法拉第筒组包括：至少一第一法拉第筒和一接地的第二法拉第筒，所述第二法拉第筒位于所述法拉第筒组的最末位置。通过测量垂直串联排列的法拉第筒组中每个法拉第筒的内筒上的粉体的质量和电荷，从而获得粉体平均荷质比作为测量得到的多分散性粉体荷质比。基于本实用新型专利技术设计的测量装置可以有效地分离并测量双极性带电粉体的电荷分布，从而获得多分散性粉体的荷质比。

A device for measuring charge mass ratio of polydisperse powder

【技术实现步骤摘要】
多分散性粉体荷质比的测量装置
本技术涉及静电测量
，特别涉及一种多分散性粉体荷质比的测量装置。
技术介绍
粉体物料在生产、输送过程中，会带上可观的静电荷。若静电荷及其相关的静电放电，会引起燃烧、爆炸等灾害事故。为了防治这种静电灾害，测量带电粉体的带电极性及带电量(粉体荷质比)成为静电安全
最基本的技术要求。经确认，多分散性粉体混合物展现出带有双极性电荷的性质。随着多分散性粉体混合物的种类与产品越来越多，使得多分散性粉体的静电荷测量已成为国内外的研究热点。多分散性粉体的静电荷测量不仅涉及静电安全技术，也涉及静电应用技术。这些粒子的电荷分布以及荷质比，对粒子的工业应用特性，扮演了重要的角色；此外，对于静电应用领域，例如，静电喷漆，静电涂覆，电摄影，电子成像，静电除尘技术，都有重要意义。以静电涂覆为例，由于双极性粉体粒子的存在，会降低涂覆淀积效率。另如电摄影领域，错误的调色剂的带电极性，会使复印件、打印件出现背景污染。再如粉体加工领域，带电粉体的双极性，会使粉体生产过程、应用过程中出现粉体阻塞、熔融、静电放电、甚至引起火灾爆炸。因此，精确测量多分散性粉体的带电极性及带电多寡，无疑意义巨大。目前，应用最广泛的测量粉体带电极性的方法是采用法拉第筒(又称法拉第室)测量。具体的，把少量的粉体粒子送进法拉第筒，测试内筒上的电压即可获得粉体粒子的电荷量。但是，法拉第筒只适用于带有单极性电荷的粉体粒子，却不能测试带双极性电荷的粉体粒子。粉体的双极性粒子会使法拉第筒的测试误差大大增加。因此，如何检测双极性粒子的电荷及带电量级，成为技术突破的关键。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种多分散性粉体荷质比的测量装置，以解决基于现有技术无法实现对多分散性粉体的荷质比的测量的问题。为解决上述技术问题，本技术提供一种多分散性粉体荷质比的测量装置，所述多分散性粉体荷质比的测量装置包括：一取样器、一流体化床及一垂直串联排列的法拉第筒组，所述取样器与所述法拉第筒组连通，所述取样器从所述流体化床中采集带电粉体样品后送入所述法拉第筒组中；其中，所述法拉第筒组包括：至少一第一法拉第筒和一接地的第二法拉第筒，所述第二法拉第筒位于所述法拉第筒组的最末位置。可选的，在所述的多分散性粉体荷质比的测量装置中，每个第一法拉第筒和所述第二法拉第筒均包括内筒和外筒；其中，所述第一法拉第筒的内筒和外筒的顶部和底盖均开设有孔；所述第二法拉第筒的内筒和外筒的顶部均开设有孔；所有第一法拉第筒的内筒和外筒的顶部和底盖开设的孔与所述第二法拉第筒的内筒和外筒的顶部都开设的孔共同构成所述法拉第筒组的沿垂直方向串联的通路。可选的，在所述的多分散性粉体荷质比的测量装置中，所述第一法拉第筒的内筒的顶部开设的孔的孔径为105cm，所述第一法拉第筒的内筒的底盖开设的孔的孔径为70cm；所述第一法拉第筒的外筒的顶部开设的孔的孔径为142cm，所述第一法拉第筒的外筒的底盖开设的孔的孔径为70cm；所述第二法拉第筒的内筒的顶部开设的孔的孔径为105cm，所述第二法拉第筒的外筒的顶部开设的孔的孔径为142cm。可选的，在所述的多分散性粉体荷质比的测量装置中，所述取样器为一接地的取样管，在所述取样管的各个高度的管壁上开设有孔洞，所述取样管以垂直插入方式安装于所述流体化床的中心，并通过控制孔洞的开闭，将经由打开的孔洞进入所述取样管内的粉体作为采集到的样品。可选的，在所述的多分散性粉体荷质比的测量装置中，所述取样管包括管体和涂覆所述管体表面的涂覆层，所述涂覆层由与所述流体化床中粉体一样的粉体粒子构成；所述取样管的内径为21.0cm，外径为27.5cm，所述孔洞的孔径为5.0cm。可选的，在所述的多分散性粉体荷质比的测量装置中，所述第一法拉第筒和所述第二法拉第筒的筒长均为186cm。可选的，在所述的多分散性粉体荷质比的测量装置中，所述法拉第筒组包括六个第一法拉第筒和一第二法拉第筒，所述第二法拉第筒接地。在本技术所提供的多分散性粉体荷质比的测量装置中，所述多分散性粉体荷质比的测量装置包括一取样器、一流体化床及一垂直串联排列的法拉第筒组，所述取样器与所述法拉第筒组连通，所述取样器从所述流体化床中采集带电粉体样品后送入所述法拉第筒组中；其中，所述法拉第筒组包括：至少一第一法拉第筒和一接地的第二法拉第筒，所述第二法拉第筒位于所述法拉第筒组的最末位置。通过测量垂直串联排列的法拉第筒组中每个法拉第筒的内筒上的粉体的质量和电荷，从而获得粉体平均荷质比作为测量得到的多分散性粉体荷质比。基于本技术设计的测量装置可以有效地分离并测量双极性带电粉体的电荷分布，从而获得多分散性粉体的荷质比。附图说明图1是本技术一实施例中多分散性粉体荷质比的测量装置的结构示意图；图2是本技术一实施例中多分散性粉体荷质比的测量装置中任一第一法拉第筒的结构示意图；图3是本技术一试验中单个法拉第筒的测量试验示意图；图4是图3中单个法拉第筒内沿轴向不同高度粉体样品的荷质比变化示意图；图5是多分散性粉体荷质比的测量装置存在7个法拉第筒时，7个法拉第筒内粉体A粒子的荷质比分布示意图；图6是多分散性粉体荷质比的测量装置存在7个法拉第筒时，7个法拉第筒内粉体B粒子的荷质比分布示意图；图7是多分散性粉体荷质比的测量装置存在7个法拉第筒时，7个法拉第筒内粉体C粒子的荷质比分布示意图；图8是多分散性粉体荷质比的测量装置存在7个法拉第筒时，7个法拉第筒内粉体A、B、C粒子的平均体积直径分布示意图；图9是多分散性粉体荷质比的测量装置存在7个法拉第筒时，7个法拉第筒内粉体A、B、C粒子的质量分布示意图；图10是法拉第筒长度对粉体C粒子的荷质比分布的影响示意图；图11是校验法拉第筒开口因电通量泄露造成的误差设备示意图。图中：10-取样器；11-流体化床；12-垂直串联排列的法拉第筒组；120-内筒；121-外筒。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本技术提出的多分散性粉体荷质比的测量装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本技术实施例的目的。<实施例一>请参考图1，其为本技术的多分散性粉体荷质比的测量装置的结构示意图。如图1所示，所述多分散性粉体荷质比的测量装置包括：一取样器10、一流体化床11及一垂直串联排列的法拉第筒组12，所述取样器10与所述法拉第筒组连通12，所述取样器10从所述流体化床11中采集带电粉体样品后送入所述法拉第筒组中；其中，所述法拉第筒组12包括：至少一第一法拉第筒和一接地的第二法拉第筒，所述第二法拉第筒位于所述法拉第筒组12的最末位置。为了更好的理解本技术的测量装置，下面结合图1分别就取样器、流体化床本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多分散性粉体荷质比的测量装置，其特征在于，包括：一取样器、一流体化床及一垂直串联排列的法拉第筒组，所述取样器与所述法拉第筒组连通，所述取样器从所述流体化床中采集带电粉体样品后送入所述法拉第筒组中；其中，所述法拉第筒组包括：至少一第一法拉第筒和一接地的第二法拉第筒，所述第二法拉第筒位于所述法拉第筒组的最末位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种多分散性粉体荷质比的测量装置，其特征在于，包括：一取样器、一流体化床及一垂直串联排列的法拉第筒组，所述取样器与所述法拉第筒组连通，所述取样器从所述流体化床中采集带电粉体样品后送入所述法拉第筒组中；其中，所述法拉第筒组包括：至少一第一法拉第筒和一接地的第二法拉第筒，所述第二法拉第筒位于所述法拉第筒组的最末位置。


2.如权利要求1所述的多分散性粉体荷质比的测量装置，其特征在于，每个第一法拉第筒和所述第二法拉第筒均包括内筒和外筒；其中，所述第一法拉第筒的内筒和外筒的顶部和底盖均开设有孔；所述第二法拉第筒的内筒和外筒的顶部均开设有孔；所有第一法拉第筒的内筒和外筒的顶部和底盖开设的孔与所述第二法拉第筒的内筒和外筒的顶部都开设的孔共同构成所述法拉第筒组的沿垂直方向串联的通路。


3.如权利要求2所述的多分散性粉体荷质比的测量装置，其特征在于，所述第一法拉第筒的内筒的顶部开设的孔的孔径为105cm，所述第一法拉第筒的内筒的底盖开设的孔的孔径为70cm；所述第一法拉第筒的外筒的顶部开设的孔的孔径为142cm，所述第一法拉第筒的外筒的底盖开设的孔的孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩玲玲，顾大元，乔畅君，孙可平，
申请(专利权)人：深圳市中明科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44