【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有延迟线编码的多路复用表面声波传感器相关申请的交叉引用本申请主张2017年7月7日提交的美国临时专利申请62/529,725以及该临时专利申请一起提交的题为《用于调频表面声波传感器的设备和方法》的附录A和题为《体声波和/或表面声波》的附件B的优先权,其整体内容通过引用而并入本文。
本公开一般涉及使用表面声波(SAW)或体声波(BAW)传感器同步地鉴别、检测、测量或传感多种被分析物的装置和方法。更具体地,本公开涉及能使用具有不同长度的延迟线的SAW和/或BAW传感器来同步传感多种目标材料的多路复用SAW和/或BAW传感器装置。
技术介绍
表面声波(SAW)或体声波(BAW)传感器是用于鉴别、检测、传感或测量各种化学或生物材料,如液体介质和有机或无机气体中的那些材料的物理、化学或生物学数量或数量变化的元件或装置。迫切需要具有高灵敏度和特异性且无需任何样品处理的定点护理(出结果的时间小于30分钟)、便携、多路复用(可同步筛选来自生物流体的多种目标被分析物)的传感器。
技术实现思路
SAW传感器是无源电子装置。将输入电信号施加到垫上。转换器将电信号转化为被称为表面声波(SAW)的机械信号。传感器响应等同于机械波的性质改变(相位、振幅和频率或延迟)。例如,接收信号(Rx)和/或激励信号的脉冲之间的振幅、相位、频率或时间延迟中至少一者的变化。例如,多路复用SAW测量系统可包括相位检测,其可测定对应于多个相对于彼此的脉冲中的每一个和/或激励信号的相位。例如,SAW传感器的延迟线长度差导致所接收 ...
【技术保护点】
1.一种表面声波(SAW)装置,包括:/n压电基板;以及/n多个SAW传感器,其附接到所述压电基板并排列在所述压电基板的表面上,所述多个SAW传感器包括/n第一SAW传感器,包括被构造成传播第一表面声波的第一延迟线,以及/n第二SAW传感器,包括被构造成传播第二表面声波的第二延迟线,其中所述第一延迟线的长度大于所述第二延迟线的长度。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170707 US 62/529,7251.一种表面声波(SAW)装置,包括:
压电基板;以及
多个SAW传感器,其附接到所述压电基板并排列在所述压电基板的表面上,所述多个SAW传感器包括
第一SAW传感器,包括被构造成传播第一表面声波的第一延迟线,以及
第二SAW传感器,包括被构造成传播第二表面声波的第二延迟线,其中所述第一延迟线的长度大于所述第二延迟线的长度。
2.根据权利要求1所述的SAW装置,其中所述第一SAW传感器包括:
第一转换器,用于沿着所述第一延迟线传输所述第一表面声波,以及
第二转换器,用于在所述第一表面声波沿着所述第一延迟线传播时接收所述第一表面声波。
3.根据权利要求1所述的SAW装置,其中所述第一SAW传感器包括位于所述基板上的转换器和位于基板上且位于所述转换器对面的反射器,其中所述转换器沿着所述第一延迟线传输所述第一表面声波,并且所述转换器在所述第一表面声波从所述反射器反射出来并且沿着所述第一延迟线二次传播时接收所述第一表面声波。
4.根据权利要求3所述的SAW装置,其中所述反射器是第一反射器,以及其中所述第一SAW传感器还包括位于所述基板上且相对于所述转换器更接近所述第一反射器的第二反射器,其中所述转换器被构造成当所述第一表面声波从所述第二反射器反射出来并且沿着所述第一延迟线二次传播时接收所述第一表面声波。
5.根据权利要求4所述的SAW装置,其中所述第一反射器被构造成反射具有第一频率的表面声波,并且所述第二反射器被构造成反射具有第二频率的表面声波。
6.根据权利要求1所述的SAW装置,其中所述第一SAW传感器包括第一对电触头,并且所述第二SAW传感器包括第二对电触头,以及其中所述第一对和第二对电触头是电性连接的。
7.根据权利要求1所述的SAW装置,其中所述SAW传感器各自被构造成接收激励信号。
8.根据权利要求7所述的SAW装置,其中所述激励信号包括脉冲电压、正弦电信号、调频、线性调频、双曲调频、正交频率编码、随机调制、连续相位调制、频移键控、多频移键控、相移键控、小波调制或宽带频率信号中的至少一种。
9.根据权利要求7所述的SAW装置,其中所述SAW传感器各自被构造成同步接收所述激励信号。
10.根据权利要求1所述的SAW装置,还包括:
与所述第一SAW传感器和所述第二SAW传感器中的每一个通讯的一个或多个处理器,所述一个或多个处理器被构造成至少部分地基于从所述第一SAW传感器和所述第二SAW传感器接收的信号来生成接收信号。
11.根据权利要求10所述的SAW装置,其中所述一个或多个处理器还被构造成至少部分地基于所述接收信号而测定或监控至少一种被分析物。
12.根据权利要求11所述的SAW装置,其中所述一个或多个处理器被构造成通过检测对应于所述激励信号的脉冲、对应于所述第一SAW传感器的脉冲、或对应于所述第二SAW传感器的脉冲中的至少两者间的振幅、相位、频率或时间延迟的变化来测定或监控鉴别所述至少一种被分析物。
13.根据权利要求10所述的SAW装置,其中所述接收信号包含具有多个脉冲的压缩脉冲串。
14.根据权利要求13的SAW装置,其中所述压缩脉冲串的所述多个脉冲包含:
对应于所述第一SAW传感器的第一脉冲,和对应于所述第二SAW传感器的第二脉冲。
15.根据权利要求14所述的SAW装置,其中所述第一脉冲的定时至少部分地基于所述第一延迟线的长度,以及其中所述第二脉冲的定时至少部分地基于所述第二延迟线的长度。
16.根据权利要求13的SAW装置,其中所述压缩脉冲串的所述多个脉冲包含对应于所述激励信号的脉冲。
17.根据权利要求1所述的传感器,其中所述压电基板包含36°Y石英、36°YX钽酸锂、硅酸镓镧、钽酸镓镧、铌酸镓镧、锆钛酸铅、硫化镉、块磷铝矿、碘酸锂、四硼酸锂、或氧化铋锗中的至少一者。
18.根据权利要求1所述的传感器,其中所述压电基板包括压电晶体层。
19.根据权利要求18所述的传感器,其中所述压电晶体层包含大于拉夫波在非压电基板上的渗透深度的厚度。
20.根据权利要求1所述的SAW装置,还包括位于所述第一延迟线并且被构造成附接到被分析物或与被分析物反应的传感区域。
21.根据权利要求20所述的传感器,还包括用于测量表面声波相位响应的检测器,所述相位响应作为被添加到传感区域的被分析物的函数。
22.根据权利要求20所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:M·拉莫思,MH·李,
申请(专利权)人:艾维亚纳分子技术有限公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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