工程应用中光模块的性能状态检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供的一种工程应用中光模块的性能状态检测方法、装置及电子设备，获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值，计算关键参数的理论值与实际值的差值，通过预先构建的关键参数的差值与光模块性能健康状态的对应关系，自动确定光模块的性能健康状态，保证了光模块性能的可监控性以及其性能健康状态的实时更新和可预测性。

Detection method, device and electronic equipment of performance state of optical module in engineering application

【技术实现步骤摘要】
工程应用中光模块的性能状态检测方法、装置及电子设备
本专利技术实施例涉及光电子通讯
，具体涉及一种工程应用中光模块的性能状态检测方法、装置及电子设备。
技术介绍
光模块(opticaltransceiver)是由光电子器件、功能电路和光接口等组成的器件，光电子器件包括发射和接收两部分。光模块在通讯光链路中属于关键器件，将系统两端信息进行光电转换，发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号，是整个系统中关键的中转枢纽。但实际工程应用中该枢纽往往是一个黑盒子，无法检测光模块的性能状态，光模块的外场运行质量也无法监控。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种工程应用中光模块的性能状态检测方法、装置及电子设备，以解决工程应用中光模块的性能检测困难的问题。有鉴于此，第一方面，本申请实施例提供一种工程应用中光模块的性能状态检测方法，包括：获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值；计算所述关键参数的理论值与实际值的差值；基于预先构建的差值与性能状态的对应关系，根据所述差值确定所述光模块的性能状态。第二方面，本申请实施例还提供一种工程应用中光模块的性能状态检测装置，包括：参数获取模块，用于获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值；差值计算模块，用于计算所述关键参数的理论值与实际值的差值；状态确定模块，用于基于预先构建的差值与性能状态的对应关系，根据所述差值确定所述光模块的性能状态。r>第三方面，本申请实施例还提供一种电子设备，包括处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器；其中，所述处理器用于运行所述计算机程序时，执行第一方面所述方法。相比现有技术，本申请实施例提供的技术方案包括以下有益效果：通过获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值，并计算关键参数的理论值与实际值的差值，根据预先构建的关键参数的差值与光模块性能健康状态的对应关系，自动确定光模块的性能健康状态，保证了光模块性能的可监控性以及其性能健康状态的实时更新和可预测性。本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请实施例提供的一种工程应用中光模块的性能状态检测方法流程图；图2为本申请实施例确定光模块在设定温度值下的工作电流理论值的方法流程图；图3为本申请实施例确定光模块在设定温度值下的发射光功率理论值的方法流程图；图4为本申请实施例确定光模块在设定温度值下的接收光功率理论值的方法流程图；图5为本申请实施例通过退化方程判断所述光模块的性能状态的方法流程图；图6为本申请实施例提供的一种工程应用中光模块的性能状态检测装置示意图；图7为本申请实施例提供的一种电子设备示意图。具体实施方式为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。实施例一图1为本申请实施例提供的一种工程应用中光模块的性能状态检测方法流程图，如图1所示，所述方法包括：S1.获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值；具体的，在本申请实施例中，所述设定温度值为根据具体情况自行设定的温度值，可以为任意温度值。所述关键参数的理论值可以根据预设的计算公式计算，也可以通过查找预设的关键参数配置表获取；所述关键参数的实际值为工程应用中实时采集的光模块的实际运行值。S2.计算所述关键参数的理论值与实际值的差值；S3.基于预先构建的差值与性能状态的对应关系，根据所述差值确定所述光模块的性能状态。具体的，在本申请实施例中，不断重复上述S1-S3，对光模块的性能状态进行实时检测。具体的，在本申请实施例中，S1包括：获取光模块在设定温度值下的工作电流的理论值和实际值；获取光模块在设定温度值下的发射光功率的理论值和实际值；获取光模块在设定温度值下的接收光功率的理论值和实际值。具体的，在本申请实施例中，如图2所示，获取光模块在设定温度值下的工作电流理论值的方法包括：S110.获取多个温度值和所述光模块在所述多个温度值下的实测工作电流值；S111.根据所述多个温度值和对应的实测工作电流值得到所述光模块的温度与工作电流的关系式；例如，温度与工作电流的关系式为可以通过实际数据修正系数的N次方方程基础多项式，以3次多项式I(T)＝A*T^3+B*T^2+C*T+D为例，I(T)代表温度T下的电流值；A，B，C为系数，D为常数项；S112.对所述关系式进行修正；进而将获取的精准温度与工作电流关系式的系数存入相应的系数分配单元；具体的，对关系式进行修正可以采用下述两种方式的任一一种，但不限于下述两种方式：方式1：对获取的所述多个温度值进行分区，得到温度区间，例如，将获取的多个温度值根据常温、高温和低温三个温度点划分为两个温度区间；计算各个温度区间各自对应的电流随温度的变化率K，K可以根据同一温度区间的两个端点温度点下工作电流差值δI和两个端点温度点的温度差值δT计算，如K＝δI/δT；将各个温度区间各自对应的电流随温度的变化率分别与所述关系式相乘，得到各个温度区间各自对应的温度与工作电流关系式。方式2:将所述光模块的至少两个实测工作电流值和与所述至少两个实测工作电流值分别对应的温度值带入所述关系式，对所述关系式的参数进行修正。例如：可以根据光模块的出厂数据对温度和工作电流的表达式的最大影响系数进行精确计算，如光模块的出厂数据有两组，分别为25摄氏度和25摄氏度下光模块的实测工作电流值，和85摄氏度和85摄氏度下光模块的实测工作电流值，将两组出厂数据带入多项式I(T)＝A*T^3+B*T^2+C*T+D，从而推算出系数C＝[IH-IR-A*(TH-TR)^3-B*(TH-TR)^2]/(TH-TR)；IH表示85摄氏度下光模块的实测工作电流值，IR表示25摄氏度下光模块的实测工作电流值，TH表示85摄氏度，TR表示25摄氏度，同理如果获取更多的实测数据(温度和工作电流)，可以实现对多项式的所有的参数都进行修正。S113.根据所述修正后的关系式，计算所述光模块在设定温度值下的工作电流理论值。具体的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种工程应用中光模块的性能状态检测方法，其特征在于，包括：/n获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值；/n计算所述关键参数的理论值与实际值的差值；/n基于预先构建的差值与性能状态的对应关系，根据所述差值确定所述光模块的性能状态。/n

【技术特征摘要】
20181204 CN 20181147471361.一种工程应用中光模块的性能状态检测方法，其特征在于，包括：
获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值；
计算所述关键参数的理论值与实际值的差值；
基于预先构建的差值与性能状态的对应关系，根据所述差值确定所述光模块的性能状态。


2.根据权利要求1所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值，包括：
获取光模块在设定温度值下的工作电流的理论值和实际值；
获取光模块在设定温度值下的发射光功率的理论值和实际值；
获取光模块在设定温度值下的接收光功率的理论值和实际值。


3.根据权利要求2所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的工作电流的理论值，包括：
获取多个温度值和所述光模块在所述多个温度值下的实测工作电流值；
根据所述多个温度值和对应的实测工作电流值得到所述光模块的温度与工作电流的关系式；
对所述关系式进行修正；
根据所述修正后的关系式，计算所述光模块在设定温度值下的工作电流理论值。


4.根据权利要求3所述的性能状态检测方法，其特征在于，所述对所述关系式进行修正，包括：
对获取的所述多个温度值进行分区，得到温度区间；
计算各个温度区间对应的电流随温度的变化率；
将各个温度区间对应的电流随温度的变化率分别与所述关系式相乘，得到各个温度区间各自对应的温度与工作电流关系式。


5.根据权利要求4所述的性能状态检测方法，其特征在于，计算各个温度区间对应的电流随温度的变化率，包括：
将同一个温度区间的最大温度值与最小温度值做差得到温度差值；
将与所述最大温度值对应的实测工作电流值和与所述最小温度值对应的实测工作电流值做差得到电流差值；
用所述电流差值除以所述温度差值得到与温度区间对应的电流随温度的变化率。


6.根据权利要求3所述的性能状态检测方法，其特征在于，所述对所述关系式进行修正，包括：
将所述光模块的至少两个实测工作电流值和与所述至少两个实测工作电流值分别对应的温度值带入所述关系式，对所述关系式的参数进行修正。


7.根据权利要求2所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的工作电流的理论值，包括：
查找预设的光模块的工作电流配置表，确定与所述设定温度值对应的工作电流值作为所述光模块的工作电流理论值。


8.根据权利要求2所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的发射光功率的理论值，包括：
在工程安装完成的情况下，采集所述光模块在所述设定温度值下的发射光功率；
判断第一次采集的所述发射光功率是否在预设发射光功率范围内；
若在，则以第一次采集的所述光模块在所述设定温度值下的发射光功率作为发射光功率理论值。


9.根据权利要求2所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的发射光功率的理论值，包括：
按下式计算所述光模块的发射光功率理论值：
Power(T)＝I(T)*SE(T)+Pth
式中，Power(T)表示光模块在温度T下的发射光功率理论值，I(T)表示光模块在温度T下的理论工作电流值；SE(T)表示在温度T下光模块内部激光器的斜效率，S...

【专利技术属性】
技术研发人员：张彪，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44