【技术实现步骤摘要】
工程应用中光模块的性能状态检测方法、装置及电子设备
本专利技术实施例涉及光电子通讯
，具体涉及一种工程应用中光模块的性能状态检测方法、装置及电子设备。
技术介绍
光模块(opticaltransceiver)是由光电子器件、功能电路和光接口等组成的器件，光电子器件包括发射和接收两部分。光模块在通讯光链路中属于关键器件，将系统两端信息进行光电转换，发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号，是整个系统中关键的中转枢纽。但实际工程应用中该枢纽往往是一个黑盒子，无法检测光模块的性能状态，光模块的外场运行质量也无法监控。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种工程应用中光模块的性能状态检测方法、装置及电子设备，以解决工程应用中光模块的性能检测困难的问题。有鉴于此，第一方面，本申请实施例提供一种工程应用中光模块的性能状态检测方法，包括：获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值；计算所述关键参数的理论值与实际值的差值；基于预先构建...
【技术保护点】
1.一种工程应用中光模块的性能状态检测方法，其特征在于，包括：/n获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值；/n计算所述关键参数的理论值与实际值的差值；/n基于预先构建的差值与性能状态的对应关系，根据所述差值确定所述光模块的性能状态。/n
【技术特征摘要】
20181204 CN 20181147471361.一种工程应用中光模块的性能状态检测方法，其特征在于，包括：
获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值；
计算所述关键参数的理论值与实际值的差值；
基于预先构建的差值与性能状态的对应关系，根据所述差值确定所述光模块的性能状态。
2.根据权利要求1所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的关键参数的理论值和实际值，包括：
获取光模块在设定温度值下的工作电流的理论值和实际值；
获取光模块在设定温度值下的发射光功率的理论值和实际值；
获取光模块在设定温度值下的接收光功率的理论值和实际值。
3.根据权利要求2所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的工作电流的理论值，包括：
获取多个温度值和所述光模块在所述多个温度值下的实测工作电流值；
根据所述多个温度值和对应的实测工作电流值得到所述光模块的温度与工作电流的关系式；
对所述关系式进行修正；
根据所述修正后的关系式，计算所述光模块在设定温度值下的工作电流理论值。
4.根据权利要求3所述的性能状态检测方法，其特征在于，所述对所述关系式进行修正，包括：
对获取的所述多个温度值进行分区，得到温度区间；
计算各个温度区间对应的电流随温度的变化率；
将各个温度区间对应的电流随温度的变化率分别与所述关系式相乘，得到各个温度区间各自对应的温度与工作电流关系式。
5.根据权利要求4所述的性能状态检测方法，其特征在于，计算各个温度区间对应的电流随温度的变化率，包括：
将同一个温度区间的最大温度值与最小温度值做差得到温度差值；
将与所述最大温度值对应的实测工作电流值和与所述最小温度值对应的实测工作电流值做差得到电流差值；
用所述电流差值除以所述温度差值得到与温度区间对应的电流随温度的变化率。
6.根据权利要求3所述的性能状态检测方法，其特征在于，所述对所述关系式进行修正，包括：
将所述光模块的至少两个实测工作电流值和与所述至少两个实测工作电流值分别对应的温度值带入所述关系式，对所述关系式的参数进行修正。
7.根据权利要求2所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的工作电流的理论值，包括：
查找预设的光模块的工作电流配置表，确定与所述设定温度值对应的工作电流值作为所述光模块的工作电流理论值。
8.根据权利要求2所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的发射光功率的理论值，包括：
在工程安装完成的情况下，采集所述光模块在所述设定温度值下的发射光功率；
判断第一次采集的所述发射光功率是否在预设发射光功率范围内；
若在，则以第一次采集的所述光模块在所述设定温度值下的发射光功率作为发射光功率理论值。
9.根据权利要求2所述的性能状态检测方法，其特征在于，获取光模块在设定温度值下的发射光功率的理论值，包括：
按下式计算所述光模块的发射光功率理论值：
Power(T)＝I(T)*SE(T)+Pth
式中，Power(T)表示光模块在温度T下的发射光功率理论值，I(T)表示光模块在温度T下的理论工作电流值；SE(T)表示在温度T下光模块内部激光器的斜效率，S...
【专利技术属性】
技术研发人员：张彪，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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