一种用于POGO PIN同轴连接器的测试工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于POGO PIN同轴连接器的测试工装，包括上底座和下底座，其特征在于，还包括导向组件、固定组件和多个测试组件；所述每个测试组件包括两个上测试杆和两个下测试杆，用于通过四个测试杆接触待测POGO PIN同轴连接器并进行测试；所述导向组件包括导向柱和导向孔，用于通过插入导向孔内的导向柱保持上底座和下底座移动时水平方向上相对位置不变；所述固定组件包括吸附层和固定层，所述吸附层用于使待测POGO PIN同轴连接器吸附在下底座上，所述固定层用于固定吸附层。本实用新型专利技术通过工装将以上开尔文四线测试方式扩大化，将工装设备与测试设备有效的联系在一起，多路测试线能够同时测试出多个射频POGO PIN同轴连接器的接触电阻测试值。

A test tool for pogo pin coaxial connector

【技术实现步骤摘要】
一种用于POGOPIN同轴连接器的测试工装
本技术属于射频连接器领域，具体涉及一种用于POGOPIN同轴连接器的测试工装。
技术介绍
POGOPIN一般应用于手机、通讯、汽车、医疗、航空航天等电子产品中，传统测试POGOPIN产品的接触电阻时采取逐个测试，然而在5G通信的背景下，对于产品的需求量急剧增加，因此对产品进行逐个测试，效率低下，无法满足市场的需求。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的现有的测试方式效率低下的问题，本技术提供了一种用于POGOPIN同轴连接器的测试工装，采用如下技术方案：包括上底座和下底座，其特征在于，还包括导向组件、固定组件和多个测试组件；所述每个测试组件包括两个上测试杆和两个下测试杆，用于通过四个测试杆接触待测POGOPIN同轴连接器并进行测试；所述导向组件包括导向柱和导向孔，用于通过插入导向孔内的导向柱保持上底座和下底座移动时水平方向上相对位置不变；所述固定组件包括吸附层和固定层，所述吸附层用于使待测POGOPIN同轴连接器吸附在下底座上，所述固定层用于固定吸附层。进一步的，所述上底座上设置有多个绝缘垫片，每个绝缘垫片上设置有两个上测试杆，所述下底座上设有多个凹槽，每个凹槽内设置有两个下测试杆，所述绝缘垫片和凹槽的位置一一对应；所述上底座的两端各设有一个导向孔，所述下底座的两端各设有一个立于下底座上表面的导向柱；所述下底座上设置有吸附层和固定层，所述吸附层设置在下底座上且吸附层上设有吸气槽，所述固定层设置在吸附层上。进一步的，所述凹槽的数量为8个。进一步的，所述凹槽上设有弧形缺口。进一步的，所述固定层和吸附层等宽，宽度小于任一组的两个上测试杆的间距且大于等于任一组的两个下测试杆的宽度。本技术具有如下有益效果：本技术公开了一种用于POGOPIN同轴连接器的测试工装，配合接触电阻的测量，采用开尔文四线法原理，通过工装将以上开尔文四线测试方式扩大化，将工装设备与测试设备有效的联系在一起，测试设备输出多路测试线，多路测试线同时测试出多个射频POGOPIN同轴连接器的接触电阻测试值。同时还可以记录测试值以备后期审核追溯，更好地发挥了设备的作用，提高了生产效率。附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为上测试杆的结构示意图；图3为导向柱的结构示意图；图4为下底座结构示意图；图5为上底座结构示意图；图6为吸附层结构示意图；图7为下测试杆结构示意图；图8为固定层结构示意图。图中各标号含义为：1-上测试杆、2-上底座、3-下底座、4-pogopin同轴连接器、5-吸附层、6-固定层、7-绝缘垫片、8-下测试杆、10-导向孔、11-吸气槽、12-弧形缺口、13-凹槽。具体实施方式以下给出本技术的具体实施方式，需要说明的是本技术并不局限于以下具体实施例，凡在本申请技术方案基础上做的等同变换均落入本技术的保护范围。在本技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下”通常是指以相应附图的图面为基准定义的，“内、外”是指相应部件轮廓的内和外。开尔文四线检测(KelvinFour-terminalsensing)也被称之为四端子检测(4T检测)、四线检测或4点探针法，它是一种电阻抗测量技术，使用单独的对载电流和电压检测电极，相比传统的两个终端(2T)传感能够进行更精确的测量。开尔文四线检测被用于一些欧姆表和阻抗分析仪，并在精密应变计和电阻温度计的接线配置。也可用于测量薄膜的薄层电阻。开尔文四线法连接有两个要求：对于每个测试点都有一条激励线F和一条检测线S，二者严格分开，各自构成独立回路；同时要求S线必须接到一个有极高输入阻抗的测试回路上，使流过检测线S的电流极小，近似为零。如图1-8所示，本实施例公开了一种用于POGOPIN同轴连接器的测试工装，包括上底座2和下底座3，还包括测试组件、导向组件和固定组件；所述测试组件包括两个上测试杆1和两个下测试杆8，用于通过四个测试杆接触待测POGOPIN同轴连接器并进行测试；所述导向组件包括导向柱9和导向孔10，用于通过插入导向孔10内的导向柱9保持上底座2和下底座3移动时水平方向上相对位置不变；所述固定组件包括吸附层5和固定层6，所述吸附层5用于使待测POGOPIN同轴连接器吸附在下底座3上，所述固定层5用于固定吸附层5。具体的，所述上底座2上设置有多个绝缘垫片7，每个绝缘垫片上设置有两个上测试杆1，所述下底座3上设有多个凹槽13，每个凹槽13内设置有两个下测试杆8，所述绝缘垫片7和凹槽13的位置一一对应；所述上底座2的两端各设有一个导向孔10，所述下底座3的两端各设有一个立于下底座3上表面的导向柱9，导向柱9能够使上下底座的相对位置固定，避免下压时偏移；所述下底座3上设置有吸附层5和固定层6，所述吸附层5设置在下底座3上且吸附层5上设有吸气槽11，所述固定层6设置在吸附层5上。吸附层5和下底座上所有组下测试杆8构成了多组封闭室，放入pogopin同轴连接器后，通过吸气槽11吸取所有封闭室内的气体，使得pogopin同轴连接器4紧紧固定在下底座3上，避免移动导致测量出现误差，抽完气后堵住每个凹槽13两边的吸气槽11避免漏气。如图1所示本技术的上底座2下压后，两个上测试杆1以及两个下测试杆8接触pogopin同轴连接器4，形成4点与接触，采用开尔文四线法原理，通过4条线路校准掉线路电阻后，测试设备测出接触电阻数值，多路并行可以输出8路或者大于8路测试线路，完成同时测试多个pogopin的任务提升效率。具体的，所述凹槽13的数量为8个，相比较于单个通道的测试效率，8路测试提高了效率，同时，该测试设备独有的功能允许8只甚至更多的射频POGOPIN同轴连接器同时测试做了相对应的铺垫，设备与工装间的联系，更好的发挥设备的作用，提高了生产效率。具体的，所述凹槽13上设有弧形缺口12，测试杆8的直径略大于凹槽13的宽度，放置在弧形缺口12上，防止吸气时漏气。具体的，所述固定层6和吸附层5等宽，宽度小于任一组的两个上测试杆1的间距且大于等于任一组的两个下测试杆8的宽度，使上测试杆1可以无障碍的接触pogopin同轴连接器4，同时避免漏气。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于POGO PIN同轴连接器的测试工装，包括上底座(2)和下底座(3)，其特征在于，还包括导向组件、固定组件和多个测试组件；/n所述每个测试组件包括两个上测试杆(1)和两个下测试杆(8)，用于通过四个测试杆接触待测POGO PIN同轴连接器并进行测试；所述导向组件包括导向柱(9)和导向孔(10)，用于通过插入导向孔(10)内的导向柱(9)保持上底座(2)和下底座(3)移动时水平方向上相对位置不变；所述固定组件包括吸附层(5)和固定层(6)，所述吸附层(5)用于使待测POGO PIN同轴连接器吸附在下底座(3)上，所述固定层(6)用于固定吸附层(5)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于POGOPIN同轴连接器的测试工装，包括上底座(2)和下底座(3)，其特征在于，还包括导向组件、固定组件和多个测试组件；
所述每个测试组件包括两个上测试杆(1)和两个下测试杆(8)，用于通过四个测试杆接触待测POGOPIN同轴连接器并进行测试；所述导向组件包括导向柱(9)和导向孔(10)，用于通过插入导向孔(10)内的导向柱(9)保持上底座(2)和下底座(3)移动时水平方向上相对位置不变；所述固定组件包括吸附层(5)和固定层(6)，所述吸附层(5)用于使待测POGOPIN同轴连接器吸附在下底座(3)上，所述固定层(6)用于固定吸附层(5)。


2.如权利要求1所述的用于POGOPIN同轴连接器的测试工装，其特征在于，所述上底座(2)上设置有多个绝缘垫片(7)，每个绝缘垫片上设置有两个上测试杆(1)，所述下底座(3)上设有多个凹槽(13)，每个凹槽(13)内设置有两个下测试杆(8)...

【专利技术属性】
技术研发人员：武向文，党作红，卞朋辉，
申请(专利权)人：中航富士达科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61