RCS测量背景对消的测试方法和室内RCS测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种RCS测量背景对消的测试方法、RCS测量背景对消装置和室内RCS测试系统，其中方法包括：使用室内RCS测试系统测量目标回波信号，其中室内RCS测试系统包括金属屏蔽壳体，以及置于金属屏蔽壳体内的雷达收发系统、目标和金属支架；测量移除目标和金属支架后的背景回波信号；根据所述目标回波信号和背景回波信号进行矢量相消，得到背景对消后的回波信号，并基于该回波信号得到目标的RCS值。本发明专利技术通过移除金属支架后的空暗室背景数据来进行背景对消，在保证不引入支架散射影响的同时，消除天线直漏、墙壁、地面等处的固定杂波对测试的影响，提高了RCS测试中背景对消的效果，提升了测试准确性。

Test method of RCS measurement background cancellation and indoor RCS test system

【技术实现步骤摘要】
RCS测量背景对消的测试方法和室内RCS测试系统
本专利技术涉及RCS测试
，尤其涉及一种RCS测量背景对消的测试方法、RCS测量背景对消装置和室内RCS测试系统。
技术介绍
雷达散射截面(RCS)作为一个重要的指标越来越受到人们的重视，RCS的测试方法也随着技术的发展而愈发准确、可靠、高效。RCS的测量方法按受场地条件可以分为室内测量和室外测量两个方向。其中室内测量往往受限于空间而需要利用紧缩场达到RCS测试所需的远场条件。室内场最大的优势就是电磁环境稳定，不易受到外部因素的干扰，而室内场的杂波多以固定杂波为主，其来源主要是馈源直漏、反射面和墙面的反射波，因此可以通过背景对消的手段降低测试场的背景水平。室内场的实际测量中，常常使用的支撑机构主要有泡沫支架与金属支架两种。泡沫支架本体散射量值较低，而且目标架设后对本体散射影响较小，因此可以进行背景对消；而金属支架主要由二维转顶和低散射金属支架本体构成，被测目标底部留有接口，可以将二维转顶深入目标内部，进行紧固。由于拆除目标后金属支架会露出二维转顶，其散射很高，与放置目标后的散射情况本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种RCS测量背景对消的测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：/nS1、使用室内RCS测试系统测量目标回波信号，其中室内RCS测试系统包括金属屏蔽壳体，以及置于金属屏蔽壳体内的雷达收发系统、目标和金属支架；/nS2、测量移除目标和金属支架后的背景回波信号；/nS3、根据所述目标回波信号和背景回波信号进行矢量相消，得到背景对消后的回波信号，并基于该回波信号得到目标的RCS值。/n

【技术特征摘要】
1.一种RCS测量背景对消的测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
S1、使用室内RCS测试系统测量目标回波信号，其中室内RCS测试系统包括金属屏蔽壳体，以及置于金属屏蔽壳体内的雷达收发系统、目标和金属支架；
S2、测量移除目标和金属支架后的背景回波信号；
S3、根据所述目标回波信号和背景回波信号进行矢量相消，得到背景对消后的回波信号，并基于该回波信号得到目标的RCS值。


2.根据权利要求1所述的RCS测量背景对消的测试方法，其特征在于，所述金属支架包括支架本体和二维转顶；所述二维转顶插入目标内部进行紧固。


3.根据权利要求1所述的RCS测量背景对消的测试方法，其特征在于，所述金属屏蔽壳体内部覆盖有吸波材料。


4.根据权利要求1所述的RCS测量背景对消的测试方法，其特征在于，所述步骤S3中根据所述目标回波信号和背景回波信号进行矢量相消，具体为计算背景对消后的回波信号Atarget：
Atarget＝Ameas-AER；
其中，Ameas为目标回波信号，AER为背景回波信号。


5.根据权利要求1所述的RCS测量背景对消的测试方法，其特征在于，所述雷达收发系统包括：射...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨景轩，侯鑫，刘拓，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11