本发明专利技术适用于地表测绘领域,提供了测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质,其中,所述测绘仪器包括:相机;复合框架,所述相机安装于所述复合框架,所述复合框架包括机身、机身内框架和机身外框架,所述机身内框架用于带动所述相机在俯仰方向上转动,所述机身外框架用于带动所述相机在横滚方向上转动,以实现对地表二维扫描成像。其中,测绘仪器可以提供基于二维扫描的工作方式,以能够实现单航带内大基高比倾斜宽幅成像,即根据飞行方向重访和垂直飞行方向大角度摆扫成像相结合,实现单航带内大倾斜、宽幅、高效及高精度测绘,从而使得航空测绘效率和精度均得到提升。
Surveying instrument, surveying method and device, terminal equipment and storage medium
【技术实现步骤摘要】
测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质
本专利技术属于地表测绘领域,尤其涉及一种测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质。
技术介绍
为实现高空远距离大比例尺高精度测绘,需要长焦距的测绘相机。目前国内外已有的测绘相机焦距较短,一般不超过200mm,不仅不能满足高空远距离高精度测绘需求,而且效率和精度较低,工作时需要采用垂直过顶的工作方式,不能应用于倾斜测绘。因此,有必要对现有的航空测绘技术进行改进,以期实现航空测绘效率及精度的提升。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术实施例提供一种测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质,以解决现有技术中的航空测绘效率和精度低的问题。本专利技术实施例的第一方面提供了一种测绘仪器,搭载于飞行体上用以地表测绘,所述测绘仪器包括:相机;复合框架,所述相机安装于所述复合框架,所述复合框架包括机身、机身内框架和机身外框架,所述机身内框架用于带动所述相机在俯仰方向上转动,所述机身外框架用于带动所述相机在横滚方向上转动,以实现对地表二维扫描成像。进一步地,所述复合框架还包括第一轴承、第二轴承,所述机身内框架通过所述第一轴承安装于所述机身外框架而形成俯角轴系,所述机身外框架通过所述第二轴承安装于所述机身而形成位角轴系。进一步地,所述测绘仪器还包括:位角电机,其通过所述位角轴系驱动所述机身外框架旋转以带动所述相机在横滚方向上转动,实现对地表目标横向摆扫成像;第一角度传感器组件,其用于反馈所述位角轴系的旋转角度。进一步地,所述测绘仪器还包括:俯角电机,其通过所述俯角轴系驱动所述机身内框架旋转以带动所述相机在俯仰滚方向上转动,实现对地表目标飞行方向像移补偿与重访;第二角度传感器组件,其用于反馈所述俯角轴系的旋转角度。进一步地,所述测绘仪器还包括惯性测量组件、减震器,所述惯性测量组件安装于所述机身内框架,用于记录相机拍照时的姿态;所述机身通过所述减震器安装于所述飞行体的搭载平台;所述相机安装于所述机身内框架。本专利技术实施例的第二方面提供了一种利用上述的测绘仪器实现对地表测绘的方法,包括:调整机身内框架至第一预定位置,使机身外框架用于带动相机在横滚方向上转动以实现横向摆扫成像;将机身外框架复位至初始位置并且调整机身内框架至第二预定位置,使机身外框架用于带动相机在横滚方向上转动以实现横向摆扫成像;循环执行上述步骤,每次循环过程中相机覆盖的区域限定出单条带,多个单条带拼接形成一个合成画幅。进一步地,所述方法还包括:控制相邻两个合成画幅的摄影周期以使相邻两个合成画幅之间的重叠率不小于预设比例。本专利技术实施例的第三方面提供了一种利用上述的测绘仪器实现对地表测绘的装置,包括:第一摆扫模块,用于调整机身内框架至第一预定位置,使机身外框架用于带动相机在横滚方向上转动以实现横向摆扫成像;第二摆扫模块,用于将机身外框架复位至初始位置并且调整机身内框架至第二预定位置,使机身外框架用于带动相机在横滚方向上转动以实现横向摆扫成像;循环模块,用于循环执行所述第一摆扫模块和所述第二摆扫模块。本专利技术实施例的第四方面提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如本专利技术实施例的第二方面中所述的方法。本专利技术实施例的第五方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如本专利技术实施例的第二方面中所述的方法。本专利技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是:本专利技术实施例的测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质,其中测绘仪器可以提供基于二维扫描的工作方式,以能够实现单航带内大基高比倾斜宽幅成像,即根据飞行方向重访和垂直飞行方向大角度摆扫成像相结合,实现单航带内大倾斜、宽幅、高效及高精度测绘,从而使得航空测绘效率和精度均得到提升。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术第一实施例提供的测绘仪器的工作示意图;图2是本专利技术第一实施例提供的测绘仪器的结构示意图;图3是本专利技术第一实施例提供的测绘仪器的又一结构示意图;图4是本专利技术第二实施例提供的利用第一实施例中的测绘仪器实现对地表测绘的方法的示意图;图5是本专利技术第二实施例提供的利用第一实施例中的测绘仪器实现对地表测绘的方法的又一示意图;图6是本专利技术第二实施例提供的利用第一实施例中的测绘仪器实现对地表测绘的方法的又一示意图;图7是本专利技术第二实施例提供的利用第一实施例中的测绘仪器实现对地表测绘的方法的又一示意图;图8为本专利技术第二实施例提供的利用第一实施例中的测绘仪器实现对地表测绘的方法中的俯角摆扫示意图;图9为本专利技术第二实施例提供的利用第一实施例中的测绘仪器实现对地表测绘的方法中的相邻合成画幅重叠示意图;图10是第三实施例提供的利用第一实施例中所述的测绘仪器实现对地表测绘的装置的硬件结构示意图;图11是本专利技术实施例提供的一种终端设备的示意图。附图标记说明:1相机、11探测器、12激光雷达、2复合框架、21机身、22机身内框架、23机身外框架、24第一轴承、25第二轴承、D1俯角轴系、A1位角轴系、3位角电机、4第一角度传感器组件、5俯角电机、6终端设备、60处理器、61存储器、62计算机程序、7第二角度传感器组件、8惯性测量组件。具体实施方式以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本专利技术实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本专利技术。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本专利技术的描述。为了说明本专利技术所述的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。本专利技术的第一实施例提供一种测绘仪器,其搭载于飞行体上用以地表测绘。如图1-3所示,所述测绘仪器可以包括相机1和复合框架2。如图1所示,所述相机1可以是长焦距相机,其可以包括探测器11和激光雷达12,其中,所述探测器11的数量可以为1个或多个。所述相机1安装于所述复合框架2。如图2-3所示,所述复合框架2包括机身21、机身内框架22和机身外框架23。其中,所述机身内框架22带动所述相机1在俯仰方向上转动,所述机身外框架23带动所述相机1在横滚方向上转动,从而实现对地表二维扫描成像。本专利技术实施例的测绘仪器可以提供基于二维扫描的工作方式,其能够实现单航带内大基高比倾斜宽幅成像,即根据飞行方向重访和垂直飞行方向大角度摆扫成像相结合,实现单航带内大倾斜、宽幅、高效及高精度测绘。其外,还可以利用本专利技术实施例的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种测绘仪器,搭载于飞行体上用以地表测绘,其特征在于,所述测绘仪器包括:/n相机;/n复合框架,所述相机安装于所述复合框架,所述复合框架包括机身、机身内框架和机身外框架,所述机身内框架用于带动所述相机在俯仰方向上转动,所述机身外框架用于带动所述相机在横滚方向上转动,以实现对地表二维扫描成像。/n
【技术特征摘要】
1.一种测绘仪器,搭载于飞行体上用以地表测绘,其特征在于,所述测绘仪器包括:
相机;
复合框架,所述相机安装于所述复合框架,所述复合框架包括机身、机身内框架和机身外框架,所述机身内框架用于带动所述相机在俯仰方向上转动,所述机身外框架用于带动所述相机在横滚方向上转动,以实现对地表二维扫描成像。
2.根据权利要求1所述的测绘仪器,其特征在于:所述复合框架还包括第一轴承、第二轴承,所述机身内框架通过所述第一轴承安装于所述机身外框架而形成俯角轴系,所述机身外框架通过所述第二轴承安装于所述机身而形成位角轴系。
3.根据权利要求2所述的测绘仪器,其特征在于:所述测绘仪器还包括:
位角电机,其通过所述位角轴系驱动所述机身外框架旋转以带动所述相机在横滚方向上转动,实现对地表目标横向摆扫成像;
第一角度传感器组件,其用于反馈所述位角轴系的旋转角度。
4.根据权利要求2所述的测绘仪器,其特征在于:所述测绘仪器还包括:
俯角电机,其通过所述俯角轴系驱动所述机身内框架旋转以带动所述相机在俯仰滚方向上转动,实现对地表目标飞行方向像移补偿与重访;
第二角度传感器组件,其用于反馈所述俯角轴系的旋转角度。
5.根据权利要求1所述的测绘仪器,其特征在于:所述测绘仪器还包括惯性测量组件、减震器,所述惯性测量组件安装于所述机身内框架,用于记录相机拍照时的姿态;所述机身通过所述减震器安装于所述飞行体的搭载平台;所述相机安装于所述机身内框架。
6.一种利用权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:丁亚林,远国勤,郑丽娜,张洪文,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:吉林;22
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