一种测算装置、测算方法及存储介质制造方法及图纸

一种测算装置、测算方法及存储介质，其能够在实现降低成本的同时实现实际加工时间测算精度的提高。针对具有加工被加工物的加工部和根据加工控制信息控制加工部的操作的加工控制部的加工装置，测算加工部加工被加工物的加工时间。具体地，输入由能够检测到伴随加工部加工被加工物而产生的振动地安装在加工装置或被加工物上的振动传感器发出的检测信号，通过与加工控制部进行通信，确定作为加工控制部根据加工控制信息使加工部对被加工物进行加工操作的这一段时间的加工控制期间，并且仅以加工控制期间内的检测信号为对象，进行基于检测信号的被加工物的加工时间测算。

A measuring device, measuring method and storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种测算装置、测算方法及存储介质
本专利技术涉及针对例如NC(数控)机床等具有加工被加工物的加工部和根据加工控制信息控制加工部的操作的加工控制部的加工装置，用于测算实际加工时间的
，该实际加工时间是加工部实际加工被加工物的时间。
技术介绍
针对例如NC(数控)机床等具有加工被加工物的加工部和根据加工控制信息控制加工部的操作的加工控制部的加工装置，测算加工部实际加工被加工物的时间，即实际加工时间是很重要的。这是因为，通过正确地测算实际加工时间，可以恰当地判断用于切削的钻头等工具的更换时间以及加工作业的效率。根据上述加工控制信息能够大致掌握实际加工时间。具体而言，将加工控制部根据加工控制信息使加工部对被加工物进行加工操作的这一段时间，即加工控制期间，视为实际加工时间。但是，加工控制信息中规定的加工范围比实际的加工范围要广，例如，因为工件上可能会形成有意外的非加工部分，因此，若想要使加工部进行加工操作的开始、结束位置与实际的加工开始位置(即加工部接触被加工物的位置)和加工结束位置完全一致，使加工部开始进行加工操作的坐标位置会设置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测算装置，针对具有加工被加工物的加工部和根据加工控制信息控制所述加工部的操作的加工控制部的加工装置，测算所述加工部加工所述被加工物的加工时间，其特征在于，包括：/n输入部，输入由能够检测到伴随所述加工部加工所述被加工物而产生的振动地安装在所述加工装置或所述被加工物上的振动传感器发出的检测信号；以及/n测算部，通过与所述加工控制部进行通信，确定作为所述加工控制部根据所述加工控制信息使所述加工部对所述被加工物进行加工操作的这一段时间的加工控制期间，并且仅以所述加工控制期间内的所述检测信号为对象，进行基于所述检测信号的所述被加工物的加工时间测算。/n

【技术特征摘要】
20181204 JP 2018-2273361.一种测算装置，针对具有加工被加工物的加工部和根据加工控制信息控制所述加工部的操作的加工控制部的加工装置，测算所述加工部加工所述被加工物的加工时间，其特征在于，包括：
输入部，输入由能够检测到伴随所述加工部加工所述被加工物而产生的振动地安装在所述加工装置或所述被加工物上的振动传感器发出的检测信号；以及
测算部，通过与所述加工控制部进行通信，确定作为所述加工控制部根据所述加工控制信息使所述加工部对所述被加工物进行加工操作的这一段时间的加工控制期间，并且仅以所述加工控制期间内的所述检测信号为对象，进行基于所述检测信号的所述被加工物的加工时间测算。


2.根据权利要求1所述的测算装置，其特征在于，所述测算部将所述加工控制期间内所述检测信号的振幅值超过阈值的时间作为所述被加工物的加工时间进行测算。


3.根据权利要求2所述的测算装置，其特征在于，所述测算部配置为能够变更所述阈值。


4.根据权利要求3所述的测算装置，其特征在于，所述加工部具有使工具旋转的主轴，所述测算部基于在所述主轴的空转状态下得到的所述检测信号的振幅值确定所述阈值。


5.根据权利要求4所述的测算装置，其特征在于，所述测算部基于所述加工控制期间开始时的所述主轴的空转期间内的所述检测信号的振幅值确定所述阈值。


6.根据权利要求1-3中任一项所述的测算装置，其特征在于，所述测算部基于提取了所述检测信号的特定频段分量的信号进行所述加工时间测算。


7.根据权利要求6所述的测算装置，其特征在于，所述加工部具有使工具旋转的主轴，所述测算部基于从所述检测信号中除去了作为所述主轴的旋转振动的频率分量的主轴旋转振动分量的信号，进行所述加工时间测算。


8.根据权利要求7所述的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：工藤翔太郎，高安理宽，
申请(专利权)人：双叶电子工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP