I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质，I2C总线测试装置与示波器通信连接，示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括I2C总线，I2C总线包括串行数据线与串行时钟线，第一探针与串行数据线连接，第二探针与串行时钟线连接；I2C总线测试方法包括：获取用户输入的测试路径；根据测试路径，获取测试配置文件；将配置文件发送至示波器，以供示波器根据配置文件更新配置参数；向示波器发送测试指令，并接收示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。本发明专利技术提供一种I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中I2C总线测试需要测试人员手动设置测试参数，测试效率低的问题。

I2C bus test method, test device and computer readable storage medium

【技术实现步骤摘要】
I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质
本专利技术涉及硬件测试
，尤其涉及一种I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
集成电路总线(InterIntegratedCircuitBus，I2C)是一种两线式串行总线，主要应用于集成电路设计中，I2C总线包括串行数据线(SerialData，SDA)与串行时钟线(SerialClock，SCL)两根数据传输线，并通过SDA与SCL在器件之间传输信息。现有技术中，在对具有I2C协议的主板进行I2C总线测试时，需要测试人员手动输入测试参数，并根据测试得到的波形进行判断获得测试数据，这要求测试人员不仅对I2C协议具有一定的了解，还需要测试人员能够熟练的掌握测试数据的确定方式，在I2C总线测试中，由于需要设置的测试参数较多，在测试人员进行设置时，需要多次对测试参数进行确认，从而影响I2C总线的测试效率。
技术实现思路
本专利技术提供一种I2C总线测试方法，测试装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中I2C总线测试需要测试人员手动设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种I2C总线测试方法，其特征在于，应用于I2C总线测试装置，所述I2C总线测试装置与示波器通信连接，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括I2C总线，所述I2C总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；所述I2C总线测试包括：/n获取用户输入的测试路径；/n根据所述测试路径，获取测试配置文件；/n将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；/n向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种I2C总线测试方法，其特征在于，应用于I2C总线测试装置，所述I2C总线测试装置与示波器通信连接，所述示波器包括第一探针与第二探针，待测设备包括I2C总线，所述I2C总线包括串行数据线与串行时钟线，所述第一探针与所述串行数据线连接，所述第二探针与所述串行时钟线连接；所述I2C总线测试包括：
获取用户输入的测试路径；
根据所述测试路径，获取测试配置文件；
将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数；
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果。


2.如权利要求1所述的I2C总线测试方法，其特征在于，所述将所述配置文件发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数的步骤，包括：
根据所述配置文件，确定所述示波器的第一配置参数与所述I2C测试通道；
根据所述I2C测试通道，确定所述I2C测试测试通道关联的第二配置参数；
将所述第一配置参数与所述第二配置参数发送至所述示波器，以供所述示波器根据所述配置文件更新配置参数。


3.如权利要求1所述的I2C总线测试方法，其特征在于，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤包括：
向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试波形；
根据所述测试波形，获取所述测试波形的特征参数；
根据所述特征参数，确定所述测试数据；
根据所述测试数据及预设合格范围进行对比，输出测试结果。


4.如权利要求2所述的I2C总线测试方法，其特征在于，所述测试波形包括第一测试波形与第二测试波形，所述向所述示波器发送测试指令，并接收所述示波器根据测试指令进行测试后返回的测试结果的步骤，包括：
向所述示波器发送测试指令...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡浩，
申请(专利权)人：深圳宝龙达信创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44