紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置、紫外线照射装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置、紫外线照射装置，该紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置、紫外线照射装置可适当地评价是否获得了足以使涂布在光学膜上的紫外线固化型粘接剂固化的紫外线照度。其中，紫外线照度评价方法是评价从紫外线照射器(30)向沿长度方向(Z方向)输送的光学膜(F1)照射的紫外线(UV)的照度的方法，与紫外线照射器对置地配置紫外线照度计(21)，一边利用单轴平台(222)使紫外线照度计沿光学膜的长度方向移动一边测定紫外线的累计照度。

UV illumination evaluation method, UV illumination evaluation device, UV irradiation device

【技术实现步骤摘要】
紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置、紫外线照射装置
本专利技术涉及评价从紫外线照射器向沿长度方向输送的光学膜照射的紫外线的照度的紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置以及具备该紫外线照度评价装置的紫外线照射装置。特别是，本专利技术涉及可适当地评价是否获得了足以使涂布于光学膜的紫外线固化型粘接剂固化的紫外线照度的紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置以及紫外线照射装置。
技术介绍
以往，光学膜被用于液晶显示装置和有机EL(有机电致发光)显示装置等图像显示装置等。作为光学膜，例如可列举偏光膜(偏光片)、包括偏光膜的偏光板、相位差膜、防眩膜等。光学膜通常使用长条带状的原材料膜来制造。通过在利用输送设备沿长度方向输送原材料膜的同时，依次实施各种处理，来制造作为产品的长条带状的光学膜。长条带状的光学膜被切断为与用途对应的尺寸，被用于图像显示装置等。以下，在本说明书中，不仅将作为产品的光学膜称为光学膜，也将原材料膜以及中间产品的膜称为光学膜。例如，在偏光膜的情况下，存在将保护膜层叠在偏光膜的单面或两面的情况。作为将保护膜层叠在偏光膜上的方法，已知有如下方法：在事先将紫外线固化型粘接剂涂布在保护膜的表面之后，利用贴合辊(捏合辊)将偏光膜和保护膜夹压而使二者贴合，接下来通过从紫外线照射装置照射紫外线而使粘接剂固化(例如，参照专利文献1)。注意，专利文献1记载的方法是事先在保护膜的表面涂布紫外线固化型粘接剂，但也存在事先在偏光膜的表面涂布紫外线固化型粘接剂的情况或在保护膜以及偏光膜双方的表面涂布紫外线固化型粘接剂的情况。为了确保偏光膜和保护膜的足够的粘接性，需要将所照射的紫外线的照度维持在一定水平以上，使紫外线固化型粘接剂可靠地固化。因此，以往以如下方式进行管理：在适当的时间点测定和评价从紫外线照射装置照射的紫外线的照度，使紫外线照度为一定水平以上。然而，以往的紫外线照度评价方法是在来自紫外线照射装置的紫外线照射区域中配置紫外线照度计，利用在适当变更其配置位置的同时测定到的照度的最大值(峰值照度)的大小进行评价。因此，存在无法适当地评价是否获得了足以使紫外线固化型粘接剂固化的紫外线照度的情况。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2009-134190号公报
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述现有技术的问题而作出的，其课题在于提供一种可适当地评价是否获得了足以使涂布在偏光膜和保护膜的层叠膜等光学膜上的紫外线固化型粘接剂固化的紫外线照度的紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置以及紫外线照射装置。为了解决所述课题，本专利技术提供一种紫外线照度评价方法，其是评价从紫外线照射器向沿长度方向输送的光学膜照射的紫外线的照度的方法，与所述紫外线照射器对置地配置紫外线照度计，一边使所述紫外线照度计沿所述光学膜的长度方向移动一边测定所述紫外线的累计照度。根据本专利技术的紫外线照度评价方法，一边使与紫外线照射器对置地配置的紫外线照度计沿光学膜的长度方向(光学膜的输送方向)移动，一边测定累计照度。在光学膜上涂布有紫外线固化型粘接剂的情况下，对使该紫外线固化型粘接剂固化有用的紫外线是沿着光学膜的输送方向(长度方向)的光学膜上的整个紫外线照射区域的紫外线。根据本专利技术的紫外线照度评价方法，由于测定沿着光学膜的输送方向的整个紫外线照射区域的累计照度、即与实际对使紫外线固化型粘接剂固化有用的紫外线整体的照度的累计量具有相关性的累计照度，因此能够通过该累计照度的大小，适当地评价是否获得了足以使紫外线固化型粘接剂固化的紫外线照度。注意，在实施本专利技术的紫外线照度评价方法时，只要在从紫外线照射器照射的紫外线的照射区域中没有光学膜的状态下，使紫外线照度计与紫外线照射器对置配置并移动即可。但是，本专利技术并不限定于此，在没有空间的限制的情况下，也可以在紫外线的照射区域中有光学膜的状态下，使紫外线照度计比光学膜靠跟前侧(紫外线照射器侧)对置配置并移动。在从紫外线照射器向沿长度方向输送的光学膜照射紫外线时，在紫外线的照射区域中，一般以事先设定的恒定速度输送光学膜。因此，为了测定与在输送光学膜时实际照射的紫外线的累计照度的相关性强的累计照度，优选的是，紫外线照度计也在紫外线照射区域中以恒定速度移动。即，在本专利技术的紫外线照度评价方法中，优选的是，在所述紫外线的照射区域中使所述紫外线照度计以恒定速度移动。根据上述优选方法，能够测定与在输送光学膜时实际照射的紫外线的累计照度的相关性强的累计照度，因此能够更适当地评价是否获得了足够的紫外线照度。一般来说，在光学膜的宽度方向中央部和宽度方向两端部，照射的紫外线的照度产生差异的情况较多。因此，在本专利技术的紫外线照度评价方法中，优选的是，在与所述光学膜的宽度方向中央部以及宽度方向两端部对应的位置测定所述紫外线的累计照度。根据上述优选方法，能够对光学膜的整个宽度方向适当地评价是否获得了足够的紫外线照度。一般来说，照射到光学膜的宽度方向两端部的紫外线的照度比照射到光学膜的宽度方向中央部的紫外线的照度小的情况较多。因此，在判定从紫外线照射器照射的紫外线的照度的好坏时，只要判定与光学膜的宽度方向两端部对应的位置的紫外线的累计照度是否为规定值以上即可(不需要判定与光学膜的宽度方向中央部对应的位置的紫外线的累计照度是否为规定值以上)的情况较多。即，在本专利技术的紫外线照度评价方法中，优选的是，判定与所述光学膜的宽度方向两端部对应的位置的所述紫外线的累计照度是否为规定值以上，在与所述宽度方向两端部对应的位置的所述紫外线的累计照度均为规定值以上的情况下，判定为从所述紫外线照射器照射的紫外线的照度良好，在任一方未达到规定值的情况下，判定为从所述紫外线照射器照射的紫外线的照度不良。根据上述优选方法，由于不需要测定与光学膜的宽度方向中央部对应的位置的紫外线的累计照度，因此可减轻在评价是否获得了足够的紫外线照度时的负担。在本专利技术的紫外线照度评价方法中，优选的是，使所述紫外线照度计沿着所述光学膜的输送路径移动。根据上述优选方法，能够测定与输送光学膜时实际照射的紫外线的累计照度的相关性强的累计照度，能够更适当地评价是否获得了足够的紫外线照度。另外，为了解决所述课题，本专利技术还提供一种紫外线照度评价装置，其是用于评价从紫外线照射器向沿长度方向输送的光学膜照射的紫外线的照度的装置，具备：紫外线照度计，其与所述紫外线照射器对置地配置；驱动机构，其使所述紫外线照度计沿所述光学膜的长度方向移动。在本专利技术的紫外线照度评价装置中，优选的是，所述驱动机构具备：安装杆，其沿所述光学膜的宽度方向延伸，且安装有所述紫外线照度计；单轴平台，其具有固定部、移动部以及驱动部，所述驱动部使所述移动部相对于所述固定部沿所述光学膜的长度方向移动；所述安装杆安装于所述移动部。根据上述优选结构，通过利用单轴平台的驱动部使移动部沿光学膜的长度方向移动，从而使安装于移动部的安装杆也沿光学膜的长度方向移动。只要安装杆沿光学膜的长度方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种紫外线照度评价方法，是评价从紫外线照射器向沿长度方向输送的光学膜照射的紫外线的照度的方法，其特征在于，/n与所述紫外线照射器对置地配置紫外线照度计，一边使所述紫外线照度计沿所述光学膜的长度方向移动一边测定所述紫外线的累计照度。/n

【技术特征摘要】
20181203 JP 2018-2267051.一种紫外线照度评价方法，是评价从紫外线照射器向沿长度方向输送的光学膜照射的紫外线的照度的方法，其特征在于，
与所述紫外线照射器对置地配置紫外线照度计，一边使所述紫外线照度计沿所述光学膜的长度方向移动一边测定所述紫外线的累计照度。


2.如权利要求1所述的紫外线照度评价方法，其特征在于，在所述紫外线的照射区域中使所述紫外线照度计以恒定速度移动。


3.如权利要求1或2所述的紫外线照度评价方法，其特征在于，在与所述光学膜的宽度方向中央部以及宽度方向两端部对应的位置测定所述紫外线的累计照度。


4.如权利要求1或2所述的紫外线照度评价方法，其特征在于，判定与所述光学膜的宽度方向两端部对应的位置的所述紫外线的累计照度是否为规定值以上，在与所述宽度方向两端部对应的位置的所述紫外线的累计照度均为规定值以上的情况下，判定为从所述紫外线照射器照射的紫外线的照度良好，在任一方未达到规定值的情况下，判定为从所述紫外线照射器照射的紫外线的照度不良。


5.如权利要求1或2所述的紫外线照度评价方法，其特征在于，使所述紫外线照度计沿着所述光学膜的输送路径移动。


6.一种紫外线...

【专利技术属性】
技术研发人员：井上龙一，植敷大地，
申请(专利权)人：日东电工株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP