【技术实现步骤摘要】
紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置、紫外线照射装置
本专利技术涉及评价从紫外线照射器向沿长度方向输送的光学膜照射的紫外线的照度的紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置以及具备该紫外线照度评价装置的紫外线照射装置。特别是,本专利技术涉及可适当地评价是否获得了足以使涂布于光学膜的紫外线固化型粘接剂固化的紫外线照度的紫外线照度评价方法、紫外线照度评价装置以及紫外线照射装置。
技术介绍
以往,光学膜被用于液晶显示装置和有机EL(有机电致发光)显示装置等图像显示装置等。作为光学膜,例如可列举偏光膜(偏光片)、包括偏光膜的偏光板、相位差膜、防眩膜等。光学膜通常使用长条带状的原材料膜来制造。通过在利用输送设备沿长度方向输送原材料膜的同时,依次实施各种处理,来制造作为产品的长条带状的光学膜。长条带状的光学膜被切断为与用途对应的尺寸,被用于图像显示装置等。以下,在本说明书中,不仅将作为产品的光学膜称为光学膜,也将原材料膜以及中间产品的膜称为光学膜。例如,在偏光膜的情况下,存在将保护膜层叠在偏光膜的单面或两面的情况。 ...
【技术保护点】
1.一种紫外线照度评价方法,是评价从紫外线照射器向沿长度方向输送的光学膜照射的紫外线的照度的方法,其特征在于,/n与所述紫外线照射器对置地配置紫外线照度计,一边使所述紫外线照度计沿所述光学膜的长度方向移动一边测定所述紫外线的累计照度。/n
【技术特征摘要】
20181203 JP 2018-2267051.一种紫外线照度评价方法,是评价从紫外线照射器向沿长度方向输送的光学膜照射的紫外线的照度的方法,其特征在于,
与所述紫外线照射器对置地配置紫外线照度计,一边使所述紫外线照度计沿所述光学膜的长度方向移动一边测定所述紫外线的累计照度。
2.如权利要求1所述的紫外线照度评价方法,其特征在于,在所述紫外线的照射区域中使所述紫外线照度计以恒定速度移动。
3.如权利要求1或2所述的紫外线照度评价方法,其特征在于,在与所述光学膜的宽度方向中央部以及宽度方向两端部对应的位置测定所述紫外线的累计照度。
4.如权利要求1或2所述的紫外线照度评价方法,其特征在于,判定与所述光学膜的宽度方向两端部对应的位置的所述紫外线的累计照度是否为规定值以上,在与所述宽度方向两端部对应的位置的所述紫外线的累计照度均为规定值以上的情况下,判定为从所述紫外线照射器照射的紫外线的照度良好,在任一方未达到规定值的情况下,判定为从所述紫外线照射器照射的紫外线的照度不良。
5.如权利要求1或2所述的紫外线照度评价方法,其特征在于,使所述紫外线照度计沿着所述光学膜的输送路径移动。
6.一种紫外线...
【专利技术属性】
技术研发人员:井上龙一,植敷大地,
申请(专利权)人:日东电工株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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