【技术实现步骤摘要】
散射光信号强度获取方法和装置
本公开涉及光学散射
，尤其涉及一种散射光信号强度获取方法和装置。
技术介绍
广角静态光散射是一种通过在多个散射角度处测量散射光信号强度来确定样品中相关参数的技术。例如，通过广角静态光散射，可以确定样品中微粒的平均分子量。图1示出相关技术中广角静态光散射设备的结构示意图。如图1所示，激光器出射的激光被透镜(L1)会聚到样品池中央放置的被测样品，在透镜前后有各有一个小孔光阑(S1和S2)。以θ角出射的散射光依次通过偏振分析器(P)、小孔光阑(S3)、透镜(L2)、狭缝(SLIT)、可调小孔(AW)和可调滤光片(FW)，最终被光电倍增管(PMT)接收并转换为电信号，进而确定散射光信号强度。从偏振分析器开始，到光电倍增管为止的器件被统一地安装在旋转臂上。旋转臂可以围绕样品池的中心旋转。在广角光散射测量过程中，散射光信号强度是影响测量结果的重要参数，而通过改变狭缝宽度可以调整散射光信号强度。但是，在现有的广角光散射设备中，狭缝的宽度是已经预先调节好的，无法实现在获取散射光信号强度时进...
【技术保护点】
1.一种散射光信号强度获取方法，其特征在于，所述方法应用于广角光散射设备，所述广角光散射设备包括激光源、旋转臂、图像采集部件及样品仓，所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端，所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端，所述样品仓中放置有被测样品，其中，所述激光源发出的入射光束照射到所述被测样品上并被所述被测样品散射；/n所述方法包括：/n在所述旋转臂处于散射角度θ
【技术特征摘要】
1.一种散射光信号强度获取方法，其特征在于，所述方法应用于广角光散射设备，所述广角光散射设备包括激光源、旋转臂、图像采集部件及样品仓，所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端，所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端，所述样品仓中放置有被测样品，其中，所述激光源发出的入射光束照射到所述被测样品上并被所述被测样品散射；
所述方法包括：
在所述旋转臂处于散射角度θ1下时，控制所述图像采集部件采集所述被测样品对应的散射光图像；
确定所述散射光图像的初始光信号强度；
根据所述初始光信号强度，确定消除杂散光信号强度之后的有效光信号强度；
根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度，包括：
根据所述有效光信号强度，判断是否存在干扰信号；
当不存在干扰信号时，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，
其中，根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应的散射光信号强度，包括：
根据所述有效光信号强度，在所述散射角度θ1和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设定狭缝宽度包括多个模拟狭缝宽度，
其中，根据所述有效光信号强度，确定在设定狭缝宽度下所述被测样品对应散射光信号强度，包括：
根据所述有效光信号强度，在散射角度θ2和每个模拟狭缝宽度下，分别确定所述被测样品对应的散射光信号强度，其中，所述散射角度θ2与所述散射角度θ1不同。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述散射光图像的初始光信号强度，包括：
在所述散射光图像中确定目标区域，其中，所述目标区域的中心为所述被测样品在所述散射光图像中的成像位置，所述目标区域在平行于所述旋转臂的旋转平面的方向上的宽度大于所述设定狭缝宽度，所述目标区域在垂直于所述旋转平面的方向上的高度为所述散射角度θ1对应的散射光在垂直于所述旋转平面的方向上的光束高度的第一预设倍数；
分别确定所述目标区域中的多个像素点的初始光...
【专利技术属性】
技术研发人员：张达，王继军，江学舟，
申请(专利权)人：北京世纪朝阳科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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