对中校准方法和装置制造方法及图纸

技术编号:24449000 阅读:31 留言:0更新日期:2020-06-10 13:47
本公开涉及一种对中校准方法和装置。该方法应用于广角光散射设备,该方法包括:依次调节旋转臂至多个旋转角度α,并在每个旋转角度α下控制图像采集部件采集参考物的图像;根据在多个旋转角度α下采集到的参考物的图像,确定标准中心成像位置,其中,标准中心成像位置为旋转中心在图像采集部件采集到的图像中的成像位置;根据标准中心成像位置,调节样品仓的位置。本公开可以避免对样品仓的盲调节,简化了对中校准过程的操作步骤,有效降低了对中校准过程的耗时。

Alignment calibration method and device

【技术实现步骤摘要】
对中校准方法和装置
本公开涉及光学散射
,尤其涉及一种对中校准方法和装置。
技术介绍
广角光散射是一种通过在多个散射角度处测量散射光的光强度或者光强度变化来确定样品中相关参数的技术。例如,通过广角静态光散射,可以确定样品中微粒的平均分子量;通过广角动态光散射,可以确定样品中微粒的微粒直径等。图1示出相关技术中广角光散射设备的结构示意图。如图1所示,激光器出射的激光经过狭缝、会聚透镜之后照射到样品仓的中心位置上,探测光路及探测器旋转接收不同散射角度对应的散射光,通过电子学电路确定所接收到的散射光的光强度或光强度变化,进而确定样品仓中样品的相关参数。在广角光散射测量过程中,散射角度是影响测量结果的重要参数,例如,散射角度每偏差1度,光强度误差为6%。为了确保散射角度的准确,需要确保探测光路的旋转中心与样品仓的中心重合(以下简称对中)。现有的对中校准过程包括:首先,调节样品仓的位置,使其基本位于探测光路的旋转中心附近;其次,在样品仓中放置参考物,其中,参考物的中心易于通过人眼看到(例如,设置有经过特殊加工处理的针尖),且参考物的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种对中校准方法,其特征在于,所述方法应用于广角光散射设备,所述广角光散射设备包括样品仓、旋转臂及图像采集部件,所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端,所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端,所述样品仓中设置有参考物,所述参考物的中心与所述样品仓的中心重合;/n所述方法包括:/n依次调节所述旋转臂至多个旋转角度α,并在每个旋转角度α下控制所述图像采集部件采集所述参考物的图像;/n根据在所述多个旋转角度α下采集到的所述参考物的图像,确定标准中心成像位置,其中,所述标准中心成像位置为所述旋转中心在所述图像采集部件采集到的图像中的成像位置;/n根据所述标准中心成像位置,调...

【技术特征摘要】
1.一种对中校准方法,其特征在于,所述方法应用于广角光散射设备,所述广角光散射设备包括样品仓、旋转臂及图像采集部件,所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端,所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端,所述样品仓中设置有参考物,所述参考物的中心与所述样品仓的中心重合;
所述方法包括:
依次调节所述旋转臂至多个旋转角度α,并在每个旋转角度α下控制所述图像采集部件采集所述参考物的图像;
根据在所述多个旋转角度α下采集到的所述参考物的图像,确定标准中心成像位置,其中,所述标准中心成像位置为所述旋转中心在所述图像采集部件采集到的图像中的成像位置;
根据所述标准中心成像位置,调节所述样品仓的位置。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据在所述多个旋转角度α下采集到的所述参考物的图像,确定标准中心成像位置,包括:
根据在任一旋转角度α下采集到的所述参考物的图像,确定在所述旋转角度α下的参考物中心成像位置,其中,所述参考物中心成像位置为所述参考物的中心在所述图像采集部件采集到的图像中的成像位置;
根据每个旋转角度α下的所述参考物中心成像位置,得到所述标准中心成像位置。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述标准中心成像位置,调节所述样品仓的位置,包括:
依次调节所述旋转臂至多个旋转角度β;
在平行于所述旋转臂的旋转平面,且与每个旋转角度β下的所述旋转臂垂直的方向上,调节所述样品仓的位置,直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合。


4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述标准中心成像位置,调节所述样品仓的位置,包括:
调节所述旋转臂至旋转角度θ;
在平行于所述旋转臂的旋转平面,且与旋转角度θ下的所述旋转臂垂直的方向上,调节所述样品仓的位置,直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合;
调节所述旋转臂至与旋转角度θ垂直的旋转角度φ;
在平行于所述旋转臂的旋转平面,且与旋转角度φ下的所述旋转臂垂直的方向上,调节所述样品仓的位置,直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合。


5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述广角光散射设备中还包括激光器,所述样品仓的中心放置被测样品,所述激光器出射的激光照射到所述样品仓;
所述方法还包括:
在预设旋转角度范围内调节所述旋转臂,并在所述预设角度范围内控制所述图像采集部件采集所述被测样品的多个图像,其中,所述预设旋转角度范围内包括初始0度;
根据在所述预设旋转角度范围内采集到的所述被测样品的多个图像,确定所述标准中心成像位置对应的多个光信号强度值;
确定所述多个光信号强度值中的最大光信号强度值对应的旋转角度;
根据所述最大光信号强度值对应的旋转角度,确定所述旋转臂对应的标准零旋转角度。


6.根据权利要求5所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:张达王继军江学舟
申请(专利权)人:北京世纪朝阳科技发展有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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