【技术实现步骤摘要】
电子产品测试系统和测试方法
本专利技术涉及一种电子产品测试系统和测试方法。
技术介绍
芯片是半导体元件产品的统称，一般是指集成电路(IC,integratedcircuit)的载体，由晶圆分割而成，在电子领域具有很广泛的运用。芯片生产过程中需要经历多次测试，以保证各种功能的可靠性。而现有技术中，芯片等电子产品的测试，一般采用单条流水线运输，效率较低，无法满足日益增长的测试需求。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中的缺陷，提供一种电子产品测试系统和测试方法。本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：一种电子产品测试系统，其特点在于，其包括：多条主流水线，各所述主流水线沿着与所述主流水线的流动方向垂直的方向并排设置；以及多个测试工位，各测试工位沿多条所述主流水线的流动方向间隔排列，每个所述测试工位设有搬运设备以及测试设备，所述测试设备设置在多条所述主流水线的侧边，所述搬运设备用于在所述主流水线与所述测试设备之间搬运产品。较佳地，所述主流水...
【技术保护点】
1.一种电子产品测试系统，其特征在于，其包括：/n多条主流水线，各所述主流水线沿着与所述主流水线的流动方向垂直的方向并排设置；以及/n多个测试工位，各测试工位沿多条所述主流水线的流动方向间隔排列，每个所述测试工位设有搬运设备以及测试设备，所述测试设备设置在多条所述主流水线的侧边，所述搬运设备用于在所述主流水线与所述测试设备之间搬运产品。/n
【技术特征摘要】
1.一种电子产品测试系统，其特征在于，其包括：
多条主流水线，各所述主流水线沿着与所述主流水线的流动方向垂直的方向并排设置；以及
多个测试工位，各测试工位沿多条所述主流水线的流动方向间隔排列，每个所述测试工位设有搬运设备以及测试设备，所述测试设备设置在多条所述主流水线的侧边，所述搬运设备用于在所述主流水线与所述测试设备之间搬运产品。
2.如权利要求1所述的电子产品测试系统，其特征在于，所述主流水线包括串联的多段主流水分线。
3.如权利要求1所述的电子产品测试系统，其特征在于，每个所述测试工位还设有若干条辅流水线。
4.如权利要求3所述的电子产品测试系统，其特征在于，所述辅流水线设置在多条所述主流水线之间。
5.如权利要求4所述的电子产品测试系统，其特征在于，所述搬运设备设置在所述辅流水线的上方。
6.如权利要求3所述的电子产品测试系统，其特征在于，所述辅流水线包括：
缓存流水线，所述缓存流水线用于运输所述测试设备无法及时测试的待测试产品；和/或
复测流水线，所述复测流水线用于运输待复测产品；和/或
回收流水线，所述回收流水线用于运输不合格产品。
7.如权利要求6所述的电子产品测试系统，其特征在于，所述辅流水线包括：缓存流水线、复测流水线以及回收流水线，所述缓存流水线与所述复测流水线并排设置，所述回收流水线位于所述缓存流水线的一端或所述复测流水线的一端。
8.如权利要求1所述的电子产品测试系统，其特征在于，每个所述测试工位设有多个测试设备，多个所述测试设备设置在多条所述主流水线的两侧。
9.如权利要求8所述的电子产品测试系统，其特征在于，多个所述测试设备以所述搬运设备为中心呈圆周排列。
10.如权利要求1所述的电子产品测试系统，其特征在于，所述搬运设备为机械手。
11.如权利要求1所述的电子产品测试系统，其特征在于，所述电子产品测试系统具有2～4个所述测试工位。
12.如权利要求1-11中任一项所述的电子产品测试系统，其特征在于，所述主流水线为皮带流水线。
13.一种电子产品测试方法，其特征在于，其包括以下步骤：
多个待测试产品在多条主流水线上运输，各所述主流水线沿着与所述主流水线的流动方向垂直的方向并排设置，其中单个待测试产品在多条所述主流水线中的单条主流水线上运输；以及
多个待测试产品在多个测试工位进行测试，各测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：高鑫，江厚成，
申请(专利权)人：希姆通信息技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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