一种尺寸测量机构制造技术

本发明专利技术提出一种尺寸测量机构，突破传统厚度等尺寸测量装置的构造形式，标定厚度为d0；1、将标定件伸入到第一探头和第二探头之间，通过第一探头检测到标定件的第一表面的距离A11，通过第二探头检测到标定件的第二表面的距离A12，算出标定件的厚度d1；2、算出d1与d0的差值P1＝d1‑d0：3、通过第一探头检测到第1块板的第一表面的距离B11，通过第二探头检测到第1块板的第二表面的距离B12，算出第1块板的厚度D1，并减去差值P1得到第1块板的真实厚度Z1＝D1‑d1+d0。将人造板输送至第一探头和第二探头之间，在对人造板进行厚度测量前，将标定件从第一探头和第二探头之间撤出。可对人造板进行连续的精准测量，可以克服震动和温度变化等因素造成的测量误差。

A dimension measuring mechanism

【技术实现步骤摘要】
一种尺寸测量机构
本专利技术涉及产品测量领域，具体涉及一种尺寸测量机构。
技术介绍
产品的尺寸测量，如人造板等板件的厚度测量是工业生产中常见的作业工序。现有的厚度等测量手段包括物理接触测量、超声波测量、X射线测量和激光测量等，其中激光测量因具有一定的效率优势而越来越广泛普及。激光测厚仪的结构已为公知，其一般是由两个激光传感器上下对射的方式组成的，上下的两个激光传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。但是无论是激光测厚仪还是其他尺寸测量装置的两个探头很容易因为震动和温度变化等产生偏移，造成最初设置的基准值发生变化，产生零点漂移现象，进而造成测量误差，很难实现高精度测量，尤其是连续的高精度测量。鉴于此，本案专利技术人对上述问题进行深入研究，遂有本案产生。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可对产品尺寸进行精准测量，尤其可对连续输送的产本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种尺寸测量机构，包括第一探头和第二探头，其特征在于：还包括间歇式处于所述第一探头和第二探头之间的标定件。/n

【技术特征摘要】
1.一种尺寸测量机构，包括第一探头和第二探头，其特征在于：还包括间歇式处于所述第一探头和第二探头之间的标定件。


2.根据权利要求1所述的一种尺寸测量机构，其特征在于：还包括用于驱动所述标定件移动的驱动件，所述标定件具有标定位置和非标定位置两种状态，所述驱动件驱动所述标定件在标定位置和非标定位置之间切换。


3.根据权利要求2所述的一种尺寸测量机构，其特征在于：所述标定件为厚度均匀的板状结构。


4.根据权利要求3所述的一种尺寸测量机构，其特征在于：所述驱动件驱动所述标定件在标定件所在平面内移动。


5.根据权利要求4所述的一种尺寸测量机构，其特征在于：所述标定件与所述第一探头和第二探头发出的探测信号传输方向...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡金辉，
申请(专利权)人：漳州捷龙自动化技术有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35