【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试机的翻转机构
本技术涉及芯片测试机
，尤其涉及一种芯片测试机的翻转机构。
技术介绍
在芯片生产过程中，为了有效的检测芯片的性能质量，需要通过芯片测试机对其进行检测，由于芯片测试机独特的测试手法，需要在测试过程中对其翻转移动，从而使对芯片进行准确的接触测试。现有芯片测试机的翻转是通过电机设备对其进行翻转，电力设备在使用过程中会产生振动，使得对芯片测试机与芯片之间的接触会发生误差，另外，在对芯片测试机进行翻转的过程中，未对芯片测试机进行有效的稳定，使得芯片测试机在翻转后对芯片进行测试时，芯片测试机的位置会发生偏差，影响对芯片的性能质量检测。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片测试机的翻转机构。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种芯片测试机的翻转机构，包括底座以及测试机本体，所述底座上端固定连接有测试座，所述底座上端通过连接柱固定连接有顶板，所述顶板下端开设有圆槽，所述圆槽内壁滑动连接有圆盘，所述圆盘上安装有对测试机本体进...
【技术保护点】
1.一种芯片测试机的翻转机构，包括底座（1）以及测试机本体（4），所述底座（1）上端固定连接有测试座（3），其特征在于，所述底座（1）上端通过连接柱固定连接有顶板（2），所述顶板（2）下端开设有圆槽（5），所述圆槽（5）内壁滑动连接有圆盘（6），所述圆盘（6）上安装有对测试机本体（4）进行翻转的翻转装置。/n
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试机的翻转机构，包括底座（1）以及测试机本体（4），所述底座（1）上端固定连接有测试座（3），其特征在于，所述底座（1）上端通过连接柱固定连接有顶板（2），所述顶板（2）下端开设有圆槽（5），所述圆槽（5）内壁滑动连接有圆盘（6），所述圆盘（6）上安装有对测试机本体（4）进行翻转的翻转装置。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于，所述翻转装置包括固定连接在圆盘（6）下端的第一伸缩杆（7），所述第一伸缩杆（7）活动轴侧壁固定连接有第二伸缩杆（8），所述第二伸缩杆（8）活动端与测试机本体（4）侧壁固定连接，所述顶板（2）上安装有对测试机本体（4）进行稳定的稳定装置，所述顶板（2）上安装有驱动测试机本体（4）转动的驱动装置。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于，所述稳定装置包括滑块（10），所述顶板（2）下端开设有环形槽（9），所述滑块（10）与环形槽（...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏毅超，
申请(专利权)人：深圳市中航工控半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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