具有冷却系统的X射线检测器技术方案

技术编号:24365833 阅读:56 留言:0更新日期:2020-06-03 04:45
适合于X射线检测的系统(200),该系统包括检测器(100)和冷却系统(210),其配置成控制检测器(100)的温度,并且防止水蒸汽在检测器(100)上的冷凝。检测器(100)包括X射线吸收层(110)和电子层(120)。X射线吸收层(110)包括多个像素(150),每个像素(150)配置成对某个时间段之内入射到其上、其能量落入多个格中的X射线光子的数量进行计数。电子层(120)包括电子系统(121),其配置成相加全部像素(150)所计数的相同能量范围的格的X射线光子的数量。冷却系统(210)包括配置成降低空气的温度和水分水平的冷却器(220)以及配置成向检测器(100)吹送被冷却和干燥的空气的风扇(213)。

X-ray detector with cooling system

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有冷却系统的X射线检测器
本公开涉及X射线检测器,具体来说涉及具有冷却系统的X射线检测器。
技术介绍
X射线检测器可以是用来测量X射线的通量、空间分布、谱或其他性质的装置。X射线检测器可用于许多应用。一个重要应用是成像。X射线成像是一种射线照相技术,并且能够用来展现不均匀组成和不透明对象(例如人体)的内部结构。用于成像的早期X射线检测器包括照相底板和胶片。照相底板可以是具有光敏乳剂的涂层的玻璃板。虽然照相底板被胶片来取代,但是它们因所提供的优良质量及其极高稳定性而仍然可用于特殊状况中。胶片可以是具有光敏乳剂的涂层的塑料膜(例如条或片)。在20世纪80年代,光激励磷光板(PSP板)变得可用。PSP板可包含其晶格中具有色心的磷光体材料。当PSP板暴露于X射线时,通过X射线所激发的电子在色心中被捕集,直到它们被对底板表面扫描的激光束来激励。当底板被激光来扫描时,所捕集的激发电子发出光,其由光电倍增管来收集。所收集光被转换为数字图像。与照相底板和胶片形成对照,PSP板能够再使用。另一种X射线检测器是X射线图像增本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种系统,包括:/n检测器,包括X射线吸收层和电子层;/n冷却系统,配置成控制所述检测器的温度,并且防止水蒸汽在所述检测器上的冷凝;/n其中所述X射线吸收层包括多个像素,每个像素配置成对某个时间段之内入射到其上、其能量落入多个格中的X射线光子的数量进行计数;/n其中所述电子层包括电子系统,其配置成相加全部所述像素所计数的相同能量范围的所述格的X射线光子的所述数量;/n其中所述冷却系统包括配置成降低空气的温度和水分水平的冷却器以及配置成向所述检测器吹送被冷却和干燥的所述空气的风扇。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种系统,包括:
检测器,包括X射线吸收层和电子层;
冷却系统,配置成控制所述检测器的温度,并且防止水蒸汽在所述检测器上的冷凝;
其中所述X射线吸收层包括多个像素,每个像素配置成对某个时间段之内入射到其上、其能量落入多个格中的X射线光子的数量进行计数;
其中所述电子层包括电子系统,其配置成相加全部所述像素所计数的相同能量范围的所述格的X射线光子的所述数量;
其中所述冷却系统包括配置成降低空气的温度和水分水平的冷却器以及配置成向所述检测器吹送被冷却和干燥的所述空气的风扇。


2.如权利要求第1项所述的系统,其中,所述冷却器包括珀耳帖致冷器。


3.如权利要求第1项所述的系统,其中,所述冷却器包括压缩机、冷凝器、蒸发器和膨胀阀。


4.如权利要求第1项所述的系统,其中,所述冷却系统还包括干燥剂除湿器,其配置成在向所述检测器吹送所述空气之前从所述空气中抽取水分。


5.如权利要求第1项所述的系统,其中,所述系统还包括覆盖所述X射线吸收层的X射线接收表面的透射窗口,其中所述透射窗口配置成允许X射线光子通过并且到达所述X射线吸收层。


6.如权利要求第5项所述的系统,其中,所述透射窗口包括聚酰亚胺、石墨烯、聚碳酸酯、聚(对二甲苯)、氮化硅、铝、铍或者其组合。


7.如权利要求第1项所述的系统,其中,检测器没有在气密壳体中真空封装。


8.如权利要求第1项所述的系统,其中,所述系统还包括冷板,其配置成通过吸收来自所述检测器的热量来冷却所述检测器,其中所述检测器安装在所述冷板上。


9.如权利要求第8项所述的系统,其中,所述冷板是散热器,其中所述散热器配置成将从所述检测器所吸收的热量传递到来自所述冷却系统、经过和围绕所述散热器流动的所述空气。


10.如权利要求第8项所述的系统,其中,所述冷板是珀耳帖致冷器的冷却板。


11.如权利要求第8项所述的系统,其中,所述冷板是通过珀耳帖致冷器或空气调节器所冷却的金属板。


12.如权利要求第1项所述的系统,其中,所述检测器配置成将所述相加数量编制为入射到所述检测器上的所述X射线光子的光谱。


13.如权利要求第1项所述的系统,其中,所述多个像素按照阵列来布置。


14.如权利要求第1项所述的系统,其中,所述像素配置成对相同时间段之内的X射线光子的所述数量进行计数。


15.如权利要求第1项所...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹培炎刘雨润
申请(专利权)人:深圳帧观德芯科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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