探测器制造技术

用于计测试样体(10)的电阻抗的探测器(100)具备：作为第一电极的屏蔽导体(101)，呈中空结构，具有收纳试样体(10)的封闭空间(104)；以及作为第二电极的中心导体(106)，在封闭空间(104)内延伸，并且与屏蔽导体(101)绝缘。中心导体(106)，以与屏蔽导体(101)的壁部之间留有空隙的方式延伸，且与所述壁部之间夹着试样体(10)，封闭空间(104)是真空或者被填充惰性气体(110)。

detector

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】探测器
本专利技术涉及用于计测电阻抗的探测器。
技术介绍
已知有对试样的电阻抗进行计测的探测器。例如，在专利文献1公开了对位于炉等特殊环境下的被测定物的物性进行测定的物性测定装置。该物性测定装置被构成为，在炉内使用探测器来计测被测定物的试样的电阻抗。探测器贯通收纳试样的收纳框而垂下，相对于载置在收纳框的朝上面上的试样，进行升降。探测器以及收纳框分别与阻抗测定器的两个端子的一方以及他方电连接。(现有技术文献)(专利文献)专利文献1∶日本特开平5－240816号公报在专利文献1的物性测定装置中，探测器以及收纳框分别构成与试样接触的电极。为了正确地计测试样的电阻抗，不管周围的温度变化，探测器以及收纳框之间需要保持电绝缘。
技术实现思路
本专利技术提供一种用于提高与试样即试样体接触的电极之间的电绝缘性的探测器。本专利技术的一个方案涉及的探测器，是用于计测试样体的电阻抗的探测器，所述探测器具备：第一电极，呈中空结构，具有收纳试样体的封闭空间；以及第二电极，在所述封闭空间内延伸，并且与所述第一电极本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探测器，是用于计测试样体的电阻抗的探测器，/n所述探测器具备：/n第一电极，呈中空结构，具有收纳试样体的封闭空间；以及/n第二电极，在所述封闭空间内延伸，并且与所述第一电极绝缘，/n所述第二电极，以与所述第一电极的壁部之间留有空隙的方式延伸，且与所述壁部之间夹着所述试样体，/n所述封闭空间是真空或者被填充惰性气体。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种探测器，是用于计测试样体的电阻抗的探测器，
所述探测器具备：
第一电极，呈中空结构，具有收纳试样体的封闭空间；以及
第二电极，在所述封闭空间内延伸，并且与所述第一电极绝缘，
所述第二电极，以与所述第一电极的壁部之间留有空隙的方式延伸，且与所述壁部之间夹着所述试样体，
所述封闭空间是真空或者被填充惰性气体。


2.如权利要求1所述的探测器，
所述探测器还具备：
绝缘性的保持部件，相对于所述第一电极保持所述第二电极，
所述壁部包括第一壁部和第二壁部，所述第一壁部与所述第二电极之间夹着所述试样体，所述第二壁部以与所述第二电极之间留有空隙的方式延伸，
所述保持部件，从所述第二壁部延伸到所述第二电极，至少在一个方向上保持所述第二电极。


3.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：山口政纪，北原忠，
申请(专利权)人：株式会社东阳特克尼卡，
类型：发明
国别省市：日本;JP