探测器制造技术

用于计测试样体(10)的电阻抗的探测器(100)具备：作为第一电极的屏蔽导体(101)，呈中空结构，具有收纳试样体(10)的封闭空间(104)；以及作为第二电极的中心导体(106)，在封闭空间(104)内延伸，并且与屏蔽导体(101)绝缘。中心导体(106)，以与屏蔽导体(101)的壁部之间留有空隙的方式延伸，且与所述壁部之间夹着试样体(10)，封闭空间(104)是真空或者被填充惰性气体(110)。

detector

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】探测器
本专利技术涉及用于计测电阻抗的探测器。
技术介绍
已知有对试样的电阻抗进行计测的探测器。例如，在专利文献1公开了对位于炉等特殊环境下的被测定物的物性进行测定的物性测定装置。该物性测定装置被构成为，在炉内使用探测器来计测被测定物的试样的电阻抗。探测器贯通收纳试样的收纳框而垂下，相对于载置在收纳框的朝上面上的试样，进行升降。探测器以及收纳框分别与阻抗测定器的两个端子的一方以及他方电连接。(现有技术文献)(专利文献)专利文献1∶日本特开平5－240816号公报在专利文献1的物性测定装置中，探测器以及收纳框分别构成与试样接触的电极。为了正确地计测试样的电阻抗，不管周围的温度变化，探测器以及收纳框之间需要保持电绝缘。
技术实现思路
本专利技术提供一种用于提高与试样即试样体接触的电极之间的电绝缘性的探测器。本专利技术的一个方案涉及的探测器，是用于计测试样体的电阻抗的探测器，所述探测器具备：第一电极，呈中空结构，具有收纳试样体的封闭空间；以及第二电极，在所述封闭空间内延伸，并且与所述第一电极绝缘，所述第二电极，以与所述第一电极的壁部之间留有空隙的方式延伸，且与所述壁部之间夹着所述试样体，所述封闭空间是真空或者被填充惰性气体。通过本专利技术涉及的探测器，能够提高与试样体接触的电极之间的电绝缘性。附图说明图1是示出实施方式涉及的探测器的计测时的状态的一例的模式的截面侧面图。图2是图1的探测器的模式的截面侧面图。图3是沿着图2的III-III线的模式的截面图。图4是与图3同样模式地示出实施方式的变形例涉及的探测器的截面图。具体实施方式如同
技术介绍
部分的记载，本专利技术者们研究了对试样体的电阻抗进行计测的探测器。以往，材料的电阻抗被定位在材料的基本物性之一。因此，在开发出新材料时，利用探测器等计测其电阻抗。这时，在符合材料的使用目的的温度环境下，计测材料的电阻抗。然而，计测中使用的探测器的电缆、保持试样体的探测器的夹具等的电绝缘性，随着周围的温度而变化，与室温有很大差距的温度环境下，难以进行准确的计测。因此，本专利技术者们研究了能够减少由于温度环境的变化带来的计测结果的影响的探测器。锐意研究的结果，本专利技术者们提出了如下能够提高与试样体接触的电极之间的电绝缘性的探测器。于是，本专利技术的一个方案涉及的探测器，是用于计测试样体的电阻抗的探测器，所述探测器具备：第一电极，呈中空结构，具有收纳试样体的封闭空间；以及第二电极，在所述封闭空间内延伸，并且与所述第一电极绝缘，所述第二电极，以与所述第一电极的壁部之间留有空隙的方式延伸，且与所述壁部之间夹着所述试样体，所述封闭空间是真空或者被填充惰性气体。本专利技术的一个方案涉及的探测器还可以具备：绝缘性的保持部件，相对于所述第一电极保持所述第二电极，所述壁部包括第一壁部和第二壁部，所述第一壁部与所述第二电极之间夹着所述试样体，所述第二壁部以与所述第二电极之间留有空隙的方式延伸，所述保持部件，从所述第二壁部延伸到所述第二电极，至少在一个方向上保持所述第二电极。在本专利技术的一个方案涉及的探测器中，可以是至少两个所述保持部件，从所述第二电极向所述第二壁部呈放射状而被配置。在本专利技术的一个方案涉及的探测器中，可以是所述保持部件，能够从所述第二壁部伸缩。在本专利技术的一个方案涉及的探测器中，可以是所述第二电极，被设置为能够在向所述第一壁部接近的方向以及从所述第一壁部离开的方向上滑动。本专利技术的一个方案涉及的探测器，还可以具备：施力部件，使所述第二电极向所述第一壁部施力。本专利技术的一个方案涉及的探测器，还可以具备：探测器连接器，使所述第一电极以及所述第二电极分别与阻抗计测装置电连接，并且所述探测器连接器与所述阻抗计测装置的电连接器以自由装拆的方式而被连接。以下，针对本专利技术的实施方式，参考附图进行说明。另外，以下说明的实施方式都是示出本公开的一个具体例子。以下实施方式中示出的数值、形状、材料、构成要素、构成要素的配置位置、连接形式、以及步骤(工序)及步骤的顺序等是一个例子，主旨并非限定本公开。此外，以下的实施方式中的构成要素中，示出最上位概念的技术方案没有记载的构成要素，作为任意的构成要素来说明。此外，在以下的实施方式的说明中，有时会使用大致平行、大致正交等使用“大致”的表现。例如，大致平行不仅包括完全平行的意思，还包括实际上平行的意思，也就是包括例如几％左右的差。其他的使用“大致”的表现也同样。此外各图是示意图，并非是严谨的图示。此外，在各个图中，对实质上相同的构成要素赋予相同的符号，省略或简化重复说明。[实施方式]对实施方式涉及的探测器100的构成进行说明。图1是示出实施方式涉及的探测器100的计测时的状态的一例的模式的截面侧面图。如图1所示，实施方式涉及的探测器100在内部收纳计测对象物的试样体，以配置在规定的温度环境的状态下，对试样体的电阻抗进行计测。规定的温度是针对计测对象物被要求电阻抗的温度。例如，规定的温度是符合计测对象物的使用目的的温度范围内的温度。探测器100，被配置在温度调整装置1内，该温度调整装置1是形成规定的温度环境的装置。而且，探测器100，经由电缆3，与阻抗计测装置2电连接。温度调整装置1，可以是使内部成为高温状态的电炉等加热炉，也可以是使内部成为低温状态的冷冻机以及低温恒温器等冷却炉。探测器100，通过温度调整装置1的安装孔1a等，部分插入到温度调整装置1的内部。此时，探测器100中的收纳试样体的部分，位于温度调整装置1的内部。探测器100中的电缆3的连接部分，可以位于温度调整装置1的外部。阻抗计测装置2，向探测器100的未图示的2个电极施加电压，对2个电极之间的电阻抗进行计测。通过试样体夹在2个电极之间，阻抗计测装置2进行的阻抗计测结果示出试样体的电阻抗。进而参考图2，图2示出了图1的探测器100的模式的截面侧面图。探测器100具备：有底筒状的屏蔽导体101、在屏蔽导体101内延伸的中心导体106、以及相对于屏蔽导体101保持中心导体106的第一保持部件109。进而，探测器100具备探测器连接器105，与阻抗计测装置2的电缆3的电连接器4以自由装拆的方式而被连接。在这里，屏蔽导体101是第一电极的一例，中心导体106是第二电极的一例。屏蔽导体101，呈筒部的两端被封闭的中空结构。屏蔽导体101，在内部具有封闭空间104，用于收纳作为计测对象物的试样体10。在本实施方式中，封闭空间104是密封的空间，但是不限于此，可以不被密封。屏蔽导体101，由能够相互连结以及分离的第一部件102以及第二部件103构成。第一部件102以及第二部件103，均呈有底筒状的形状。第一部件102以及第二部件103分别具有圆筒状的周壁102a和103a、以及平坦的底壁102b和103b。周壁102a和103a的截面形状，不限定为圆形，也可以是椭圆形，长圆形，多边形等任何形状。在这里，底壁103b是第一壁部的一例，周壁本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探测器，是用于计测试样体的电阻抗的探测器，/n所述探测器具备：/n第一电极，呈中空结构，具有收纳试样体的封闭空间；以及/n第二电极，在所述封闭空间内延伸，并且与所述第一电极绝缘，/n所述第二电极，以与所述第一电极的壁部之间留有空隙的方式延伸，且与所述壁部之间夹着所述试样体，/n所述封闭空间是真空或者被填充惰性气体。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种探测器，是用于计测试样体的电阻抗的探测器，
所述探测器具备：
第一电极，呈中空结构，具有收纳试样体的封闭空间；以及
第二电极，在所述封闭空间内延伸，并且与所述第一电极绝缘，
所述第二电极，以与所述第一电极的壁部之间留有空隙的方式延伸，且与所述壁部之间夹着所述试样体，
所述封闭空间是真空或者被填充惰性气体。


2.如权利要求1所述的探测器，
所述探测器还具备：
绝缘性的保持部件，相对于所述第一电极保持所述第二电极，
所述壁部包括第一壁部和第二壁部，所述第一壁部与所述第二电极之间夹着所述试样体，所述第二壁部以与所述第二电极之间留有空隙的方式延伸，
所述保持部件，从所述第二壁部延伸到所述第二电极，至少在一个方向上保持所述第二电极。


3.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：山口政纪，北原忠，
申请(专利权)人：株式会社东阳特克尼卡，
类型：发明
国别省市：日本;JP