用于TEM切片结构分析的放置装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了用于TEM切片结构分析的放置装置，包括放置台，所述放置台上开设有观察槽，所述放置台底部设置有支撑块，所述支撑块内开设有安装腔，所述安装腔内侧壁开设有贯穿侧壁的贯穿口，所述贯穿口内转动连接有连接杆，所述连接杆一端固定连接有转动块，所述连接杆另一端固定连接有支撑机构，所述支撑块通过连接机构与放置台连接。本实用新型专利技术当进行样品失效性分析时，将样品切片放置在碳片，将碳片放置在观察槽内，经TEM观察样品与碳片是否平行，当出现角度偏差时，通过缓慢的转动位于支撑块上的转动块进行上下角度的调节，当调节好角度时，通过转动放置台侧壁实现对位于放置台上的样品转动，实现对样品进行多角度的观察。

Placement device for TEM slice structure analysis

【技术实现步骤摘要】
用于TEM切片结构分析的放置装置
本技术涉及样品分析装置
，尤其涉及用于TEM切片结构分析的放置装置。
技术介绍
透射电子显微镜(TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出。由于电子束的穿透力很弱，因此用于电子显微镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片，现有的放置装置是将样品切片放置在铜网中的碳片上，再将铜网放置在观察台上进行观察，由于电子显微镜观察的样品很薄，在将样品切片放到碳片上时会造成切片倾斜，这样经TEM观察的数据就不准确，会对观察者造成很大的分析误差，影响结论的准确性，现有的切片观察时不能转换贯穿角度，只能在同一角度进行转动观察，无法实现多角度转动观察。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有的样品放置台无本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于TEM切片结构分析的放置装置，包括放置台(1)，其特征在于，所述放置台(1)上开设有观察槽(2)，所述观察槽(2)内侧壁上固定连接有连接环，所述放置台(1)底部设置有支撑块(3)，所述支撑块(3)内开设有安装腔(4)，所述安装腔(4)内侧壁开设有贯穿侧壁的贯穿口，所述贯穿口内转动连接有连接杆(5)，所述连接杆(5)一端固定连接有转动块(6)，所述连接杆(5)另一端固定连接有支撑机构，所述支撑块(3)通过连接机构与放置台(1)连接。/n

【技术特征摘要】
1.用于TEM切片结构分析的放置装置，包括放置台(1)，其特征在于，所述放置台(1)上开设有观察槽(2)，所述观察槽(2)内侧壁上固定连接有连接环，所述放置台(1)底部设置有支撑块(3)，所述支撑块(3)内开设有安装腔(4)，所述安装腔(4)内侧壁开设有贯穿侧壁的贯穿口，所述贯穿口内转动连接有连接杆(5)，所述连接杆(5)一端固定连接有转动块(6)，所述连接杆(5)另一端固定连接有支撑机构，所述支撑块(3)通过连接机构与放置台(1)连接。


2.根据权利要求1所述的用于TEM切片结构分析的放置装置，其特征在于，所述支撑机构包括与连接杆(5)端部固定连接的直齿轮(71)，所述直齿轮(71)两端啮合连接有两个直齿条(72)，所述直齿条(72)固定连接有支撑杆(73)，所述支撑杆(73)贯穿安装腔(4)内侧壁并向外延伸。


3.根据权利要求2所述的用于TEM切片结构分析的放置装置，其特征在于，所述放置台(1)上开设有呈T型的环状槽(74)，位于安装腔(4)外侧的所述支撑杆(7...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕灼菲，苏耿贤，何永强，刘焱，王亮，
申请(专利权)人：苏州博飞克分析技术服务有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32