X射线时间演化过程测量装置制造方法及图纸

一种X射线时间演化过程测量装置，涉及X射线辐射流定量测量领域，所述X射线时间演化过程测量装置包括：脉冲展宽系统和信号处理系统，所述脉冲展宽系统包括加速区、漂移区和收集区，所述加速区用于对电子进行加速，且使得不同时间段进入所述加速区的电子的速度不同，所述漂移区用于使电子匀速运动，所述收集区用于收集电子；所述信号处理系统与所述收集区连接，用于通过展宽回推计算获得信号测量结果。所述X射线时间演化过程测量装置能够将信号展宽，然后通过展宽回推计算获得短脉冲信号的测量结果，从而实现高时间分辨的测量。

X-ray time evolution measurement device

【技术实现步骤摘要】
X射线时间演化过程测量装置
本专利技术涉及X射线辐射流定量测量领域，具体而言，涉及一种X射线时间演化过程测量装置。
技术介绍
在惯性约束激光聚变研究中，X光辐射流诊断目前采用两种互补技术测量。一种技术是利用X射线二极管(XRD)阵列组成的软X光能谱仪，测量X光辐射流与辐射能谱。目前，通过能道响应可得到分辨为100ps量级的时间分辨能谱。另外一种技术是利用平响应膜配金阴极XRD构成的平响应探测器，该探测器也是基于XRD探测器进行测量的，其时间分辨与XRD阵列组成的软X光能谱仪一致。尽管该技术与装置在X射线时间演化测量中可实现定量测量，能满足研究需要，但是仍存在以下缺点：时间分辨不够高，无法满足更快信号的X射线时间演化过程的测量。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种X射线时间演化过程测量装置，其能够将信号展宽，然后通过展宽回推计算获得短脉冲信号的测量结果，从而实现高时间分辨的测量。本专利技术是这样实现的：一种X射线时间演化过程测量装置，包括：脉冲展宽系统和信号处理系统，其中：所述脉本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线时间演化过程测量装置，其特征在于，包括：脉冲展宽系统和信号处理系统，/n所述脉冲展宽系统包括加速区、漂移区和收集区，所述加速区用于对电子进行加速，且使得不同时间段进入所述加速区的电子的速度不同，所述漂移区用于使电子匀速运动，所述收集区用于收集电子；/n所述信号处理系统与所述收集区连接，用于通过展宽回推计算获得信号测量结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种X射线时间演化过程测量装置，其特征在于，包括：脉冲展宽系统和信号处理系统，
所述脉冲展宽系统包括加速区、漂移区和收集区，所述加速区用于对电子进行加速，且使得不同时间段进入所述加速区的电子的速度不同，所述漂移区用于使电子匀速运动，所述收集区用于收集电子；
所述信号处理系统与所述收集区连接，用于通过展宽回推计算获得信号测量结果。


2.根据权利要求1所述的X射线时间演化过程测量装置，其特征在于，所述脉冲展宽系统包括磁聚焦管，所述磁聚焦管内形成磁聚焦飞行区，所述加速区、所述漂移区与所述收集区均位于所述磁聚焦飞行区。


3.根据权利要求2所述的X射线时间演化过程测量装置，其特征在于，所述磁聚焦管内设置有阴极板和阳极栅网，所述阴极板与所述阳极栅网在斜坡偏压的作用下产生射频激励时变电场，以形成所述加速区。


4.根据权利要求3所述的X射线时间演化过程测量装置，其特征在于，所述阴极板为平响应透射阴极板。


5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯立飞，刘慎业，杨家敏，袁铮，杨国洪，杜华冰，李晋，陈韬，杨轶濛，车兴森，韦敏习，孙奥，尚万里，王峰，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心，
类型：发明
国别省市：四川;51