【技术实现步骤摘要】
一种辐射流探测器阵列
本专利属于激光聚变诊断领域,具体涉及一种辐射流探测器阵列。
技术介绍
在激光聚变研究工作的发展中,随着物理机制研究的不断深入,对常规X射线辐射流及能谱测量提出越来越高的要求。激光聚变研究中,当前使用的谱仪由单通道辐射流探测器拼合而成,由于其作为基本测量单元的辐射流探测器自身体积就较大,在进行能谱测量时还需要为每个探测单元单独建立单色化选能光路,因此整个谱仪系统体积相当庞大,且在设备安装过程中存在光路调校及瞄准问题,导致整个系统相对复杂,为应用过程中的运输、安装、调试及维护都带来不少困难。同时由于探测单元本身体积庞大的这一缺陷,导致该类型系统在测量能谱/辐射流时的空间分辨能力受到极大制约。综上,现有能谱测量系统存在结构复杂、可靠性低、质量大、空间分辨低的缺点。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术旨在提供一种结构简单、高可靠性、高分辨率的辐射流探测器阵列。为达此目的,本专利技术具体采用如下技术方案:一种辐射流探测器阵列,其特点是,该辐射流探测器阵列包括安装于安装基 ...
【技术保护点】
1.一种辐射流探测器阵列,其特征在于,该辐射流探测器阵列包括安装于安装基座上的多个带通滤波单元(2)和多个探测单元(4),各探测单元(4)末端连接有输出接口(5)。/n
【技术特征摘要】
1.一种辐射流探测器阵列,其特征在于,该辐射流探测器阵列包括安装于安装基座上的多个带通滤波单元(2)和多个探测单元(4),各探测单元(4)末端连接有输出接口(5)。
2.根据权利要求1所述的辐射流探测器阵列,其特征在于:所述的探测单元(4)与带通滤波单元(2)相对的一端的端面设有阴极面(7),带通滤波单元(2)与所述的探测单元(4)相对的一端的端面设有阳极面。
3.根据权利要求1所述的辐射流探测器阵列,其特征在于:所述的阴极面(7)选用Au、CsI、Al中任一种。...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈韬,曹柱荣,王强强,邓克立,邓博,黎宇坤,
申请(专利权)人:中国工程物理研究院激光聚变研究中心,
类型:发明
国别省市:四川;51
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