一种检测物体接近距离的方法技术

一种检测物体接近距离的方法，至少具有第一电极和第二电极，第一电极构成第一电容传感器单元，第二电极构成第二电容传感器单元；第一电极和第二电极布置成朝向待检测物体接近的方向，所述第一电极与第二电极在物体接近方向上成相互有距离差的布置；还包括电容检测电路和计算处理装置，检测电路分别连接至第一、第二电容传感器单元，分别检测第一、第二电容传感器单元的电容值；计算处理装置采用除法运算获得二个电容传感器单元电容值的比值，并计算出物体接近电容传感器的基础距离。采用此方法，可以完全消除电容检测中介电常数等受到环境严重影响的问题，非常准确地检测物体接近的距离，为低成本的电容测距方案开拓了广阔的应用前景。

A method to detect the close distance of objects

【技术实现步骤摘要】
一种检测物体接近距离的方法
本专利技术涉及一种检测物体接近距离的方法。
技术介绍
低成本、低功耗的近距离物体接近距离传感器有广阔的应用市场，常用的技术路线有光电测距、超声波测距，电容测距等，其中电容测距有成本低和功耗小的优势，但依据电容基本公式C＝εS/d，电容值与介电常数ε成正比，而介电常数随着测量环境的介质、温度、湿度变化而变化，导致在实际应用中很难利用电容技术精确测量距离。现有技术大多利用布置在同一平面上的多个电容电极或电容电极点阵，测量物体在电容电极同一平面上水平方向的位置，例如电容式触摸屏，采用的方法基本都是利用减法比较触摸位置与附近位置电容的差计算出触摸点的水平坐标。例如专利申请号201410640098.7，提出在平面上有多个电容触摸传感器情形下先求的多个电容的平均电容量再用触摸点个电容量与平均电容比较大小以确定触摸发生的水平位置的方法。现有技术的这些方法，在测量电容值时，受到环境的介质、温度、湿度变化的严重影响，为此，应用了现有技术中各种补偿的办法，但又同时带来电路结构的复杂性；另外，对于垂直方法的接近距离的测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测物体接近距离的方法，至少具有第一电极和第二电极，第一电极构成第一电容传感器单元，第二电极构成第二电容传感器单元；第一电极和第二电极布置成朝向待检测物体接近的方向，其特征在于，所述第一电极与第二电极在物体接近方向上成相互有距离差的布置，并且该距离差大于1mm；还包括电容检测电路和计算处理装置，检测电路分别连接至第一、第二电容传感器单元，分别检测第一、第二电容传感器单元的电容值；计算处理装置采用除法运算获得二个电容传感器单元电容值的比值，该比值与物体接近电容传感器的距离成反比关系的单调函数关系，通过该比值依据下列公式即可计算出物体接近电容传感器的基础距离，其公式为：/n

【技术特征摘要】
1.一种检测物体接近距离的方法，至少具有第一电极和第二电极，第一电极构成第一电容传感器单元，第二电极构成第二电容传感器单元；第一电极和第二电极布置成朝向待检测物体接近的方向，其特征在于，所述第一电极与第二电极在物体接近方向上成相互有距离差的布置，并且该距离差大于1mm；还包括电容检测电路和计算处理装置，检测电路分别连接至第一、第二电容传感器单元，分别检测第一、第二电容传感器单元的电容值；计算处理装置采用除法运算获得二个电容传感器单元电容值的比值，该比值与物体接近电容传感器的距离成反比关系的单调函数关系，通过该比值依据下列公式即可计算出物体接近电容传感器的基础距离，其公式为：



其中d1为物体离第一电容传感器的电极的距离；△d为第一电极与第二电极的距离差，k为二个电极结构设置确定后的一个常数。


2.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙滕谌，张大华，庄玮，
申请(专利权)人：北京他山科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11