红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装技术

本发明专利技术公开了一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装，红外探测器杜瓦制冷组件包括可拆卸连接的杜瓦组件和制冷机，制冷机的推移活塞组件适于在杜瓦组件的冷指内往返运动，杜瓦组件的耦合面与制冷机的耦合面接触；所述方法，包括：测试杜瓦组件的耦合面与冷指的内底壁之间的距离H1；驱动推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试推移活塞组件的自由端的端面与制冷机的耦合面之间的距离H2；根据H1、H2，计算红外探测器杜瓦制冷组件的死隙H1‑H2。采用本发明专利技术，可以实现对红外探测器的推移活塞组件死隙的测试，且测量方法设计简单、操作性强，能有效避免斯特林制冷机与杜瓦组件耦合时可能出现的干涉问题。

Dead gap test method and test fixture of Dewar refrigeration module of infrared detector

【技术实现步骤摘要】
红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装
本专利技术涉及红外探测器
，尤其涉及一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装。
技术介绍
制冷机在结构上一般采用直流无刷电机带动曲轴连杆机构往复运动实现逆向制冷循环完成制冷。在实际应用中，需要将制冷机和红外探测器杜瓦组件(DDA组件)耦合在一起，形成完整的红外探测器杜瓦制冷组件(IDDCA组件)。在IDDCA组件工作时，推移活塞组件在制冷机冷指内往复运动。对于集成式杜瓦结构，杜瓦冷指也是制冷机冷指，如果杜瓦结构和制冷机尺寸不匹配，将可能导致制冷机推移活塞组件与杜瓦冷指发生干涉引起撞击，进而导致红外探测器组件失效。因此，在制冷机与红外探测器杜瓦组件耦合时，需要测试制冷机推移活塞组件与杜瓦冷指底部最小间隙，即制冷机推移活塞组件运动到上止点时推移活塞组件顶端到杜瓦冷指底部的距离。由于推移活塞组件属于运动部件，而且无径向约束，所以很难测量。建立一套行之有效的制冷机死隙测试方法显得非常重要。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法，其特征在于，所述红外探测器杜瓦制冷组件包括可拆卸连接的杜瓦组件和制冷机，所述制冷机的推移活塞组件适于在所述杜瓦组件的冷指内往返运动，所述杜瓦组件的耦合面与所述制冷机的耦合面接触；/n所述方法，包括：/n测试所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1；/n驱动所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试所述推移活塞组件的自由端的端面与所述制冷机的耦合面之间的距离H2；/n根据所述H1、所述H2，计算所述红外探测器杜瓦制冷组件的死隙H1-H2。/n

【技术特征摘要】
1.一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法，其特征在于，所述红外探测器杜瓦制冷组件包括可拆卸连接的杜瓦组件和制冷机，所述制冷机的推移活塞组件适于在所述杜瓦组件的冷指内往返运动，所述杜瓦组件的耦合面与所述制冷机的耦合面接触；
所述方法，包括：
测试所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1；
驱动所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试所述推移活塞组件的自由端的端面与所述制冷机的耦合面之间的距离H2；
根据所述H1、所述H2，计算所述红外探测器杜瓦制冷组件的死隙H1-H2。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1，包括：
测量所述杜瓦组件靠近所述推移活塞组件一端的端面与所述冷指的内底壁之间的距离Ha；
测量所述杜瓦组件靠近所述推移活塞组件一端的端面与所述杜瓦组件的耦合面之间的距离Hb；
根据所述Ha、所述Hb，计算所述杜瓦组件的耦合面与所述冷指的内底壁之间的距离H1。


3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述驱动所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，测试所述推移活塞组件的自由端的端面与所述制冷机的耦合面之间的距离H2，包括：
将百分表装配至套筒的一端形成推移活塞组件高度量规；
将所述推移活塞组件高度量规装配至标准高度量规，基于所述标准高度量规调整所述百分表的指针初始位置；
将所述推移活塞组件高度量规装配至所述推移活塞组件；
拆除所述制冷机的定子组件，将磁性件置于所述制冷机的转子保护套上并沿所述转子保护套的外周旋转，以驱动所述推移活塞组件运动；
当所述推移活塞组件的自由端的端面运动至上止点位置，记录所述百分表的读数；
根据所述百分表的读数，...

【专利技术属性】
技术研发人员：迟国春，卢旭辰，饶启超，辛光磊，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十一研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11