一种结构构件裂缝测量方法及装置制造方法及图纸

技术编号:24348020 阅读:26 留言:0更新日期:2020-06-03 01:04
本发明专利技术提供了一种结构构件裂缝测量方法,包括以下步骤:步骤S01:设置基准测点,所述基准测点设置于裂缝上,或者是独立于裂缝设置;步骤S02:设置裂缝测点,根据裂缝形状在裂缝上设置至少两个裂缝测点;步骤S03:裂缝测点位置测量,测量单个裂缝测点到基准测点之间的最小距离L,以及裂缝测点和基准测点最小距离连线与基准测点所在基准平面间的夹角α;步骤S04:裂缝图绘制,重复步骤S03对每个裂缝测点进行测量,并根据测得的数据采用描点法绘制裂缝图。使用本发明专利技术的测量方法得到结构构件裂缝位置、长度、走向、形态等信息。本发明专利技术还提供了一种测量装置,该测量装置结构简单,可以满足长度和角度测量。

A method and device for crack measurement of structural members

【技术实现步骤摘要】
一种结构构件裂缝测量方法及装置
本专利技术涉及裂缝测量
,具体涉及一种结构构件裂缝测量方法及装置。
技术介绍
结构构件裂缝是混凝土结构、砌体结构等常见的一种病害,在土木工程混凝土结构中广泛存在。结构构件裂缝的位置、长度、走向、形态测量在《公路桥涵养护规范JTGH11-2004》、《公路桥梁技术状况评定标准JTGTH21-2011》、《公路桥梁承载能力检测评定规程JTGTJ21-2011》、《公路桥梁荷载试验规程JTGTJ21-01-2015》等土木工程行业规范中均有严格的测试要求。目前混凝土结构构件裂缝长度、位置的测量方法主要采用钢卷尺或直钢尺测量,存在以下问题:1)不能同时准确测量出裂缝的位置、长度、走向和形态;2)对部分表面非平面的构件裂缝长度和形态测量困难。综上所述,急需一种结构构件裂缝测量方法及装置以解决现有技术中存在的问题。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种结构构件裂缝测量方法及装置,具体技术方案如下:一种结构构件裂缝测量方法,包括以下步骤:步骤S01:设置基准测点,所述基准测点设置于裂缝上,或者是独立于裂缝设置;步骤S02:设置裂缝测点,根据裂缝形状在裂缝上设置至少两个裂缝测点;步骤S03:裂缝测点位置测量,测量单个裂缝测点到基准测点之间的最小距离L,以及裂缝测点和基准测点最小距离连线与基准测点所在基准平面间的夹角α;步骤S04:裂缝图绘制,重复步骤S03对每个裂缝测点进行测量,并根据测得的数据采用描点法绘制裂缝图;所述裂缝位于结构物的平面或曲面上,所述基准平面与裂缝所在的平面或曲面相垂直,所述基准测点位于基准平面与裂缝所在平面或曲面的相交线上。以上技术方案中优选的,所述基准平面为水平面、竖直平面或者是结构物上的平面。以上技术方案中优选的,所述裂缝位于曲面上,具体测量方法如下:步骤A:在结构物的曲面上设置N个基准测点,且各基准测点之间的距离已知,通过N个基准测点将裂缝所在的曲面对应划分为N个测量区域,所述基准测点与测量区域一一对应,其中N为大于等于1的自然数;步骤B:在每个测量区域的裂缝上设置至少两个裂缝测点;步骤C:测量单个测量区域中每个裂缝测点与对应基准测点之间的最小距离L,以及每个裂缝测点和对应基准测点最小距离连线与对应基准测点所在基准平面间的夹角α;步骤D:重复步骤C对每个测量区域的每个裂缝测点进行测量,根据各测量区域的每个裂缝测点与对应基准测点之间的测量数据,以及各基准测点之间的距离数据采用描点法绘制曲面裂缝展开图。以上技术方案中优选的,步骤A中的各基准测点位于同一基准平面上,或者是各基准测点分别位于不同基准平面上。以上技术方案中优选的,步骤A中的各基准测点位于同一水平基准平面上,或者是各基准测点分别位于不同水平基准平面上。应用本专利技术的测量方法,具有以下有益效果:(1)本专利技术的结构构件裂缝测量方法操作简单,可同时确定结构构件裂缝的位置、长度、走向、形态,采用本专利技术的测量方法可以根据裂缝的实际情况设置裂缝测点的数量,裂缝测点设置越密集测得的裂缝数据越精确,适用于对裂缝测量要求高的情况下,满足测量需求。(2)本专利技术的结构构件裂缝测量方法相对于现有技术中使用钢尺进行测量,精度更高,现有技术中使用钢尺只能测量裂缝直线部分的长度,无法测量裂缝曲线部分的长度,并且无法准确测量裂缝的形态;同时使用本专利技术测量方法无需昂贵的测量设备,使用成本低。(3)本专利技术的结构构件裂缝测量方法可以实现对非平面的构件裂缝长度和形态进行测量,解决现有技术中无法测量非平面构件(即曲面)裂缝的问题,通过设置多个基准测点,可以将曲面划分为多个测量区域,实现对非平面构件裂缝的测量;根据测量精度的要求,可以将基准测点设置的越密集,测量区域越密集,单个测量区域越接近于平面,满足实际测试要求。本专利技术还提供了一种用于上述测量方法的测量装置,包括角度测量器和柔性测量尺,所述柔性测量尺的一端可转动设置于所述角度测量器上且柔性测量尺与角度测量器间的转动点与角度测量器的中心点位置重合,通过柔性测量尺测量基准测点与裂缝测点之间的最小距离L,通过柔性测量尺与角度测量器配合测量裂缝测点和基准测点最小距离连线与基准测点所在基准平面间的夹角α。以上技术方案中优选的,还包括基座,所述角度测量器设置于所述基座上。以上技术方案中优选的,还包括自动回收线盒,所述自动回收线盒设置于所述基座上,所述柔性测量尺设置于所述自动回收线盒中,所述自动回收线盒上设有收放柔性测量尺的开口,所述开口与所述角度测量器的中心点重合。以上技术方案中优选的,还包括水准管,所述水准管设置于所述基座上。应用本专利技术的测量装置,具有以下有益效果:(1)本专利技术的测量装置包括角度测量器和柔性测量尺,可以实现同时测量角度和测点到基准测点(中心点)的距离,满足实际的测试需求,减少测量的次数。(2)本专利技术的测量装置还包括自动回收线盒,实现柔性测量尺的自动收回,便于整理测量装置,同时在自动回收线盒中可以存储大量柔性测量尺,增加测量的量程。(3)本专利技术的测量装置还包括水准管,通过水准管可以实现测量装置调节至水平状态,避免多次测量、或测量基准点变化产生误差,实现对裂缝形态进行精准的测量。除了上面所描述的目的、特征和优点之外,本专利技术还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图,对本专利技术作进一步详细的说明。附图说明构成本申请的一部分的附图用来提供对本专利技术的进一步理解,本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:图1是本专利技术测量装置的结构示意图;图2是本专利技术测量方法绘制裂缝示意图(基准点不与裂缝重合);图3是本专利技术测量方法绘制裂缝示意图(基准点与裂缝重合);图4是本专利技术测量方法绘制圆柱体结构上裂缝示意图;其中,1、基座,2、水准管,3、自动回收线盒,4、角度测量器,5、柔性测量尺,6、裂缝。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明,但是本专利技术可以根据权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。实施例1:参见图1-2,本实施例以裂缝位于平面结构物上为例,裂缝测量方法包括以下步骤:步骤S01:设置基准测点,所述基准测点独立于裂缝设置(即基准测点不设置于裂缝上),所述基准测点位于裂缝所在的平面上;步骤S02:设置裂缝测点,根据裂缝形状在裂缝上设置至少两个裂缝测点,并且对裂缝测点进行标号,例如:1号测点、2号测点、3号测点……i号测点,其中i为大于0的自然数;步骤S03:裂缝测点位置测量,测量单个裂缝测点到基准测点之间的最小距离L,以及裂缝测点和基准测点最小距离连线与基准测点所在基准平面间的夹角α;步骤S04:裂缝图绘制,重复步骤S03对每个裂缝测点进行测量,得出Li与αi,并根据测得的数据(即Li与αi)采用描点法绘制裂缝图。...

【技术保护点】
1.一种结构构件裂缝测量方法,其特征在于,包括以下步骤:/n步骤S01:设置基准测点,所述基准测点设置于裂缝上,或者是独立于裂缝设置;/n步骤S02:设置裂缝测点,根据裂缝形状在裂缝上设置至少两个裂缝测点;/n步骤S03:裂缝测点位置测量,测量单个裂缝测点到基准测点之间的最小距离L,以及裂缝测点和基准测点最小距离连线与基准测点所在基准平面间的夹角α;/n步骤S04:裂缝图绘制,重复步骤S03对每个裂缝测点进行测量,并根据测得的数据采用描点法绘制裂缝图;/n所述裂缝位于结构物的平面或曲面上,所述基准平面与裂缝所在的平面或曲面相垂直,所述基准测点位于基准平面与裂缝所在平面或曲面的相交线上。/n

【技术特征摘要】
1.一种结构构件裂缝测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S01:设置基准测点,所述基准测点设置于裂缝上,或者是独立于裂缝设置;
步骤S02:设置裂缝测点,根据裂缝形状在裂缝上设置至少两个裂缝测点;
步骤S03:裂缝测点位置测量,测量单个裂缝测点到基准测点之间的最小距离L,以及裂缝测点和基准测点最小距离连线与基准测点所在基准平面间的夹角α;
步骤S04:裂缝图绘制,重复步骤S03对每个裂缝测点进行测量,并根据测得的数据采用描点法绘制裂缝图;
所述裂缝位于结构物的平面或曲面上,所述基准平面与裂缝所在的平面或曲面相垂直,所述基准测点位于基准平面与裂缝所在平面或曲面的相交线上。


2.根据权利要求1所述的结构构件裂缝测量方法,其特征在于,所述基准平面为水平面、竖直平面或者是结构物上的平面。


3.根据权利要求2所述的结构构件裂缝测量方法,其特征在于,所述裂缝位于曲面上,具体测量方法如下:
步骤A:在结构物的曲面上设置N个基准测点,且各基准测点之间的距离已知,通过N个基准测点将裂缝所在的曲面对应划分为N个测量区域,所述基准测点与测量区域一一对应,其中N为大于等于1的自然数;
步骤B:在每个测量区域的裂缝上设置至少两个裂缝测点;
步骤C:测量单个测量区域中每个裂缝测点与对应基准测点之间的最小距离L,以及每个裂缝测点和对应基准测点最小距离连线与对应基准测点所在基准平面间的夹角α;
步骤D:重复步骤C对每个测量区域的每个裂缝测点进行测量,根据各测量区域的每个裂缝测点与对应基准测点之间的测量数据,以及...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙艳华徐善中赵露李求源
申请(专利权)人:湖南联智科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖南;43

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