存储装置及其操作方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种存储器控制器，该存储器控制器控制存储器装置，该存储器装置包括存储多个参数的寄存器。存储器控制器包括：寄存器信息存储装置，将多个参数作为多个设置参数进行存储；寄存器控制器，向存储器装置提供用于请求将所选择参数改变为设置值的参数改变命令，并且从存储器装置获取通过对包括所选择参数的多个参数执行循环冗余校验(CRC)计算而获得的CRC计算信息；CRC参考信息生成器，通过对包括被改变为设置值的设置参数的多个设置参数执行CRC计算来生成CRC参考信息；以及CRC信息比较器，根据CRC计算信息和CRC参考信息之间的比较结果来确定多个参数中是否包括错误。

【技术实现步骤摘要】
存储装置及其操作方法相关申请的交叉引用本申请要求于2018年11月22日提交的申请号为10-2018-0145785的韩国专利申请的优先权，其全部公开内容通过引用整体并入本文。
本公开总体涉及一种电子装置，更特别地涉及一种存储装置及其操作方法。
技术介绍
存储装置在诸如计算机或智能电话的主机装置的控制下存储数据。存储装置可包括用于存储数据的存储器装置和用于控制存储器装置的存储器控制器。存储器装置可以是易失性存储器装置或非易失性存储器装置。在易失性存储器装置中，数据仅当供应电力时被存储；当电力的供应中断时，所存储的数据丢失。易失性存储器装置的示例包括静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)等。在非易失性存储器装置中，即使当电力供应中断时也保留数据。非易失性存储器装置的示例包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除ROM(EEROM)、闪速存储器等。
技术实现思路
实施例提供了一种具有提高的可靠性的存储装置及其操作方法。根据本公开的一方面，提供了一种用于控制存储器装置的存储器控制器，该存储器装置包括用于存储多个参数的寄存器，该存储器控制器包括：寄存器信息存储装置，被配置为当向存储器装置供应电力时，从存储器装置接收多个参数，并将多个参数作为分别对应于多个参数的多个设置参数进行存储；寄存器控制器，被配置为向存储器装置提供用于请求将多个参数之中的所选择参数改变为设置值的参数改变命令，并从存储器装置获取循环冗余校验(CRC)计算信息，CRC计算信息通过对包括响应于参数改变命令而改变的所选择参数的多个参数执行CRC计算而获得；CRC参考信息生成器，被配置为通过对包括与所选择参数对应并改变为所述设置值的设置参数的多个设置参数执行CRC计算而生成CRC参考信息；以及CRC信息比较器，被配置为根据CRC计算信息和CRC参考信息之间的比较结果来确定多个参数中是否包括错误。根据本公开的另一方面，提供了一种用于控制存储器装置的存储器控制器，该存储器装置包括存储多个参数的寄存器，该存储器控制器包括：寄存器信息存储装置，被配置为当向存储器装置供应电力时，从存储器装置接收多个参数并将多个参数作为分别对应于多个参数的多个设置参数进行存储；以及寄存器管理器，被配置为向存储器装置提供用于请求将多个参数之中的所选择参数改变为设置值的参数改变命令，并根据响应于参数改变命令而改变的所选择参数是否具有设置值来确定多个参数中是否包括错误。根据本公开的又一方面，提供了一种存储器装置，包括：寄存器，被配置为存储多个参数；寄存器设置器，被配置为响应于请求改变所选择参数的参数改变命令，改变多个参数之中的所选择参数；以及CRC计算控制器，被配置为对包括响应于参数改变命令而改变的所选择参数的多个参数执行CRC计算。根据本公开的又一方面，提供了一种操作存储器控制器的方法，该存储器控制器控制包括存储多个参数的寄存器的存储器装置，该方法包括：当向存储器装置供应电力时，从存储器装置接收多个参数并将多个参数作为分别对应于多个参数的多个设置参数存储在寄存器信息存储装置中；向存储器装置提供用于请求将多个参数之中的所选择参数改变为设置值的参数改变命令；从存储器装置获取循环冗余校验(CRC)计算信息，CRC计算信息通过对包括响应于参数改变命令而改变的所选择参数的多个参数执行CRC计算而获得；通过对包括与所选择参数对应并且改变为设置值的设置参数的多个设置参数执行CRC计算而生成CRC参考信息；以及根据CRC计算信息和CRC参考信息之间的比较结果确定多个参数中是否包括错误。根据本公开的又一方面，提供了一种存储装置，包括：存储器装置，包括被配置为存储多个参数的寄存器,多个参数表示与存储器装置有关的装置设置信息；以及存储器控制器，被配置为：当向存储器装置供应电力时，从存储器装置接收多个参数并将多个参数作为分别对应于多个参数的多个设置参数进行存储；向存储器装置提供用于请求将多个参数之中的所选择参数改变为设置值的参数改变命令；并且根据通过对多个设置参数执行循环冗余校验(CRC)计算获得的结果与通过对多个参数执行CRC计算获得的结果是否相同，来确定多个参数中是否包括错误；其中多个设置参数包括与所选择参数对应并改变为设置值的设置参数，并且其中多个参数包括从存储器装置接收的、响应于参数改变命令而改变的所选择参数。根据本公开的又一方面，提供了一种存储器系统，包括：存储器装置，被配置为存储表示装置设置信息的多个装置参数；以及控制器，被配置为控制存储器装置将装置参数之中的所选择装置参数改变为设置值；将装置参数作为各自的设置参数进行存储，并且根据所选择装置参数的改变，来更新设置参数之中的、与所选择装置参数对应的所选择设置参数，并且当对所有装置参数和所有设置参数的循环冗余校验(CRC)操作的结果彼此不同时，初始化装置参数。附图说明现在将参照附图更全面地描述各个实施例；然而，本专利技术的元件和特征可以不同于本公开而进行配置或布置。因此，本专利技术不限于本文阐述的实施例。相反，提供这些实施例是为了使本公开是彻底的和完整的，并且向本领域技术人员充分传达实施例的范围。在附图中，为了清楚说明，可夸大尺寸。将理解的是，当元件被称为在两个元件“之间”时，两个元件之间可以仅有一个元件或也可存在一个或多个中间元件。在整个公开中相同的附图标记表示相同的元件。而且，在整个说明书中，对“实施例”、“另一实施例”等的参考不一定仅针对一个实施例，并且对任何这种短语的不同参考不一定针对相同的实施例。图1是示出根据本公开的实施例的存储装置的框图。图2是示出诸如在图1中示出的存储器装置的结构的示图。图3是示出诸如在图2中示出的存储器单元阵列的实施例的示图。图4是示出诸如在图3中示出的存储块之中的任意一个存储块的电路图。图5是示出诸如在图3中示出的存储块之中的存储块的另一实施例的电路图。图6是示出根据本公开的实施例的存储器控制器和存储器装置的操作的示图。图7是示出循环冗余校验(CRC)计算信息和CRC参考信息的示图。图8是示出根据本公开的实施例的存储器控制器的操作的流程图。图9是示出根据本公开的另一实施例的存储器控制器的操作的流程图。图10是示出根据本公开的实施例的存储器装置的操作的流程图。图11是示出诸如在图1中示出的存储器控制器的另一实施例的示图。图12是示出根据本公开的实施例的应用了存储装置的存储卡系统的框图。图13是示例性示出根据本公开的实施例的应用了存储装置的固态驱动器(SSD)系统的框图。图14是示出根据本公开的实施例的应用了存储装置的用户系统的框图。具体实施方式本文的具体结构和功能描述是为了描述本公开的实施例的目的。这些实施例可以以各种形式实施，因此本专利技术不限于本文阐述的实施例。可以以各种方式修改本公开的实施例。因此，虽然详细说明和描本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器控制器，所述存储器控制器控制存储器装置，所述存储器装置包括存储多个参数的寄存器，所述存储器控制器包括：/n寄存器信息存储装置，当向所述存储器装置供应电力时，从所述存储器装置接收所述多个参数，并且将所述多个参数作为分别对应于所述多个参数的多个设置参数进行存储；/n寄存器控制器，向所述存储器装置提供用于请求将所述多个参数之中的所选择参数改变为设置值的参数改变命令，并且从所述存储器装置获取循环冗余校验计算信息，即CRC计算信息，所述CRC计算信息通过对包括响应于所述参数改变命令而改变的所述所选择参数的所述多个参数执行CRC计算而获得；/nCRC参考信息生成器，通过对包括与所述所选择参数对应并且改变为所述设置值的设置参数的所述多个设置参数执行CRC计算而生成CRC参考信息；以及/nCRC信息比较器，根据所述CRC计算信息和所述CRC参考信息之间的比较结果来确定所述多个参数中是否包括错误。/n

【技术特征摘要】
20181122 KR 10-2018-01457851.一种存储器控制器，所述存储器控制器控制存储器装置，所述存储器装置包括存储多个参数的寄存器，所述存储器控制器包括：
寄存器信息存储装置，当向所述存储器装置供应电力时，从所述存储器装置接收所述多个参数，并且将所述多个参数作为分别对应于所述多个参数的多个设置参数进行存储；
寄存器控制器，向所述存储器装置提供用于请求将所述多个参数之中的所选择参数改变为设置值的参数改变命令，并且从所述存储器装置获取循环冗余校验计算信息，即CRC计算信息，所述CRC计算信息通过对包括响应于所述参数改变命令而改变的所述所选择参数的所述多个参数执行CRC计算而获得；
CRC参考信息生成器，通过对包括与所述所选择参数对应并且改变为所述设置值的设置参数的所述多个设置参数执行CRC计算而生成CRC参考信息；以及
CRC信息比较器，根据所述CRC计算信息和所述CRC参考信息之间的比较结果来确定所述多个参数中是否包括错误。


2.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中当所述CRC信息比较器确定所述多个参数中包括错误时，所述寄存器控制器向所述存储器装置提供用于初始化所述寄存器的命令。


3.根据权利要求1所述的存储器控制器，其中当所述CRC比较器确定所述CRC参考信息与所述CRC计算信息不相同时，所述CRC信息比较器确定所述多个参数中包括错误。


4.根据权利要求1所述的存储器控制器，
其中所述多个参数表示与所述存储器装置相关的装置设置信息，
其中所述装置设置信息包括表示所述存储器装置的坏存储块的坏块信息、表示所述存储器装置的坏列的列修复信息以及表示所述存储器装置的操作条件的逻辑信息中的至少一个。


5.根据权利要求1所述的存储器控制器，
其中所述寄存器控制器向所述存储器装置提供用于请求所述CRC计算信息的获取参数命令，
其中所述参数改变命令包括设置参数命令。


6.一种存储器控制器，所述存储器控制器控制存储器装置，所述存储器装置包括存储多个参数的寄存器，所述存储器控制器包括：
寄存器信息存储装置，当向所述存储器装置供应电力时，从所述存储器装置接收所述多个参数并且将所述多个参数作为分别对应于所述多个参数的多个设置参数进行存储；以及
寄存器管理器，向所述存储器装置提供用于请求将所述多个参数之中的所选择参数改变为设置值的参数改变命令，并且根据响应于所述参数改变命令而改变的所述所选择参数是否具有所述设置值来确定所述多个参数中是否包括错误。


7.根据权利要求6所述的存储器控制器，其中当所述寄存器管理器确定所述多个参数中包括错误时，所述寄存器管理器向所述存储器装置提供用于初始化所述寄存器的命令。


8.根据权利要求7所述的存储器控制器，其中所述寄存器管理器包括：
寄存器控制器，向所述存储器装置提供所述参数改变命令和用于请求所述所选择参数的参数检查命令；以及
寄存器错误检测器，根据响应于所述参数检查命令而获取的所述所选择参数是否具有所述设置值来确定所述多个参数中是否包括错误。


9.根据权利要求8所述的存储器控制器，其中当所述寄存器错误检测器确定所述所选择参数不具有所述设置值时，所述寄存器错误检测器确定所述多个参数中包括错误。


10.根据权利要求8所述的存储器控制器，其中当所述寄存器错误检测器确定所述所选择参数具有所述设置值时，所述寄存器控制器从所述存储器装置获取循环冗余校验计算信息，即CRC计算信息，所述CRC计算信息通过对包括响应于所述参数改变命令而改变的所述所选择参数的所述多个参数执行CRC计算而获得，并且将所述CRC计算信息提供到所述寄存器错误检测器。


11.根据权利要求10所述的存储器控制器，其中所述寄存器错误检测器包括：
CRC参考信息生成器，通过对包括与所述所选择参数对应并且改变为所述设置值的设置参数的所述多个设置参数执行CRC计算而生成CRC参考信息；以及
CR...

【专利技术属性】
技术研发人员：许民虎，金东眩，金承日，郑然镐，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR