平行平面透明固体材料折射率的测量方法技术

一种测量平行平面透明固体材料折射率的方法，通过测量会聚光束在有无经过平行平面透明固体材料时的焦点位置变化来测量平面透明固体材料的折射率，该方法简单易行，可以方便地实现对平行平面透明固体材料折射率的测量。

Measurement of refractive index of transparent solid materials in parallel plane

【技术实现步骤摘要】
平行平面透明固体材料折射率的测量方法
本专利技术涉及透明材料折射率测量，尤其是涉及平行平面透明固体材料折射率的测量方法。
技术介绍
折射率是材料光学性质的重要参数，透明材料折射率常用最小偏向角法和全反射法进行测量。其中最小偏向角法测量对被测材料的折射率大小没有限制，但需要将被测材料加工成棱镜，这给测量人员带来了较大的麻烦，除了破坏材料原有的形状外，棱镜加工难度也比较大。全反射法测试方便，但仅适用于一定范围折射率大小的材料。此外，对于角度的测量需要专业工具及相应配套条件，局限性较大，并且测量步骤繁琐，这给最终的折射率测量结果带来一定的不确定性。相对而言，两面平行结构的材料加工技术难度低，适用范围广，实际应用中大部分光学元件都具有两面平行的平面结构，所以建立一种简单方便适用于平行平面透明固体材料的折射率测量方法对具有非常重要的实用价值。
技术实现思路
本专利技术为克服上述现有技术的不足，提出一种测量具有两平行平面透明固体材料折射率的方法。该方法简单易行，可以较为方便地测量具备两个平行平面透明固体材料的折射率。本专利技术的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种平行平面透明固体材料折射率的测量方法，其特征在于，该测量方法包括如下步骤：/n①搭建测量光路：在激光器(11)的输出光方向上同光轴依次放置聚焦透镜(12)和光束质量分析仪(14)，该光束质量分析仪(14)与计算机(15)相连；/n②将待测平行平面透明固体材料(13)放置在所述的聚焦透镜(12)和光束质量分析仪(14)之间，且待测平面透明固体材料(13)靠近所述的聚焦透镜(12)，聚焦后的光束以近垂直角度入射到待测平行平面透明固体；/n③沿光轴前后移动所述光束质量分析仪(14)，直到所述计算机(15)测量的光斑尺寸最小；/n④利用卷尺(16)测量所述光束质量分析仪(14)到聚焦透镜(12...

【技术特征摘要】
1.一种平行平面透明固体材料折射率的测量方法，其特征在于，该测量方法包括如下步骤：
①搭建测量光路：在激光器(11)的输出光方向上同光轴依次放置聚焦透镜(12)和光束质量分析仪(14)，该光束质量分析仪(14)与计算机(15)相连；
②将待测平行平面透明固体材料(13)放置在所述的聚焦透镜(12)和光束质量分析仪(14)之间，且待测平面透明固体材料(13)靠近所述的聚焦透镜(12)，聚焦后的光束以近垂直角度入射到待测平行平面透明固体；
③沿光轴前后移动所述光束质量分析仪(14)，直到所述计算机(15)测量的光斑尺寸最小；
④利用卷尺(16)测量所述光束质量分析仪...

【专利技术属性】
技术研发人员：李大伟，刘晓凤，赵元安，连亚飞，朱美萍，易葵，邵建达，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31