【技术实现步骤摘要】
边缘抗锯齿的图形处理方法、系统、存储介质及装置
本专利技术涉及图像处理
，特别是涉及一种边缘抗锯齿的图形处理方法、系统、存储介质及装置。
技术介绍
在3D图形中，每个区域由像素组成，每段瞬间由帧组成，由于技术所限，我们没有足够的采样来表现出3D世界中的所有物品，在过渡的边缘就会产生锯齿和闪烁等失真现象，严重影响了画面的质量。在现有3D图形处理器的中，三角形边缘的像素由于分辨率的缘故，像素本身具有大小，会呈现出锯齿效应。为了消除锯齿效应，传统的多采样抗锯齿算法(MSAA：MultiSamplingAnti-Aliasing)做法是通过对每个像素提高采样率来解决。当一个像素只有部分采样点在当前三角形之内时，当前三角形对此像素点颜色的贡献与采样点的覆盖率成比例。由此三角形边界处的颜色为相邻三角形对应像素颜色的按比例的混合的效果，从而消除了三角形边缘的锯齿效应。多采样所做的正是不再使用单一采样点来决定三角形的覆盖范围，而是采用多个采样点。我们不再使用每个像素中心的采样点，取而代之的是4个子样本，用它们来决定像素的覆盖率...
【技术保护点】
1.一种边缘抗锯齿的图形处理方法，其特征在于，包括以下步骤：/n对像素进行水平和垂直二倍的采样处理，并进行光栅化，获得四个采样点，判断所述四个采样点是否被三角形全覆盖；若所述四个采样点被三角形全覆盖则只计算像素中心点位置的深度值并复制所述像素中心点位置的深度值到所述四个采样点，并将所述四个采样点所属像素的一倍像素标志位设为第一值；若所述四个采样点未被三角形全覆盖则分别计算所述四个采样点的深度值，并将所述四个采样点的所属像素的一倍像素标志位设为第二值；/n对像素进行深度值测试，判断像素的四个采样点是否被三角形全覆盖；若四个采样点被三角形全覆盖则按照第一预设规则只进行像素中心深...
【技术特征摘要】
1.一种边缘抗锯齿的图形处理方法，其特征在于，包括以下步骤：
对像素进行水平和垂直二倍的采样处理，并进行光栅化，获得四个采样点，判断所述四个采样点是否被三角形全覆盖；若所述四个采样点被三角形全覆盖则只计算像素中心点位置的深度值并复制所述像素中心点位置的深度值到所述四个采样点，并将所述四个采样点所属像素的一倍像素标志位设为第一值；若所述四个采样点未被三角形全覆盖则分别计算所述四个采样点的深度值，并将所述四个采样点的所属像素的一倍像素标志位设为第二值；
对像素进行深度值测试，判断像素的四个采样点是否被三角形全覆盖；若四个采样点被三角形全覆盖则按照第一预设规则只进行像素中心深度值的比较并采用比较得到的中心深度值替换四个采样点的深度值；若四个采样点未被三角形全覆盖则按照第二预设规则进行每个采样点的深度值比较并将比较得到的四个采样点的深度值存储至缓存并最终写到外部存储器；
对像素进行最终颜色处理，判断所述四个采样点是否被三角形全覆盖，若被三角形全覆盖则将像素中心点位置的颜色复制到所述四个采样点，若未被三角形全覆盖则对所述像素的四个采样点进行颜色混合。
2.根据权利要求1所述的边缘抗锯齿的图形处理方法，其特征在于，对像素进行深度值测试后还包括：对像素进行颜色计算，对像素进行可编程着色处理。
3.根据权利要求1所述的边缘抗锯齿的图形处理方法，其特征在于，还包括：将数据转换成显示器对应的格式传输至外部存储器。
4.根据权利要求1所述的边缘抗锯齿的图形处理方法，其特征在于，对像素进行最终颜色处理前还包括进行纹理贴图。
5.根据权利要求1所述的边缘抗锯齿的图形处理方法，其特征在于，对像素进行最终颜色处理之前还包括：对像素进行深度值测试，判断四个采样点是否被三角形全覆盖，若四个采样点被三角形全覆盖则按照第一预设规则只进行像素中心深度值的比较并采用比较得到的中心深度值替换四个采样点的深度值，若四个采样点未被三角形全覆盖则按照第二预设规则进行每个采样点的深度值比较并将比较得到的四个采样点的深度值存储至缓存并最终写到外部存储器。
6.根据权利要求1所述的边缘抗锯齿的图形处理方法，其特征在于，在做深度值测试时，若深度值未存储至缓存中，则需从外部存储器读取数据，若像素块所包含的像素的一倍像素标志位全为第一值则解压所述像素块并根据所述像素块的比特数大小返回64B或32B的数据，再将所述数据展开为256B或128B存储至缓存；若像素块的所包含的像素的一倍像素标志位不全为第一值则解压所述像素块并根据所述像素块的比特数大小返回256B或12...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈勇军，张慧明，迈克·蔡，王平，
申请(专利权)人：芯原微电子上海股份有限公司，芯原控股有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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