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本发明提供一种边缘抗锯齿的图形处理方法、系统、存储介质及装置，包括以下步骤：对像素进行水平和垂直二倍的采样处理，并进行光栅化，获得四个采样点，判断所述四个采样点是否被三角形全覆盖；对像素进行深度值测试，判断像素的四个采样点是否被三角形全覆盖...该专利属于芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原控股有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原控股有限公司授权不得商用。