一种中子束流的脉冲周期测试装置制造方法及图纸

技术编号:24225841 阅读:61 留言:0更新日期:2020-05-21 00:44
本实用新型专利技术提出了一种中子束流的脉冲周期测试装置,包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机,所述壳体为密闭壳体,中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束,所述的闪烁体可转动的设置在壳体内,所述的电机用于驱动闪烁体,中子发生源朝向闪烁体的入射面设置,光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件,光纤对应连接闪烁体设置,若干个光检测元件对应连接光纤设置,光检测元件与微处理器连接。

A pulse period testing device for neutron beam

【技术实现步骤摘要】
一种中子束流的脉冲周期测试装置
本技术涉及一种中子束流的脉冲周期测试装置。
技术介绍
散裂中子源是通过加速器驱动高能质子轰击重金属靶体,从而得到高中子通量的中子束流。先进的中子源是中子科学研究的基础,能够为物质微观结构和运动状态的研究提供必要的工具。质子加速轰击钨靶产生出脉冲中子束流,同时也产生了快中子束。快中子束在每个中子束流脉冲周期的零时刻发出,随中子束流传输,如果全部到达样品,会对测试结果造成很大的背底,在不同研究和实验需要的中子束流波段不尽相同,因此,在快中子束流传输过程中,需要设计一种装置对快中子进行滤除,而又能放行需要的脉冲中子流束。例如:专利号为2017200036286的专利公开了一种散裂中子源快中子滤除装置。这样就需要对中子束流脉冲周期进行测量,以便于根据不同波段的中子束流来进行过滤快中子。
技术实现思路
针对
技术介绍
中指出的问题,本技术提出一种可对中子束流脉冲周期进行测试的装置。本技术的技术方案是这样实现的:一种中子束流的脉冲周期测试装置,包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种中子束流的脉冲周期测试装置,其特征在于:包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机,所述壳体为密闭壳体,中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束,所述的闪烁体可转动的设置在壳体内,所述的电机用于驱动闪烁体,中子发生源朝向闪烁体的入射面设置,光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件,光纤对应连接闪烁体设置,若干个光检测元件对应连接光纤设置,光检测元件与微处理器连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种中子束流的脉冲周期测试装置,其特征在于:包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机,所述壳体为密闭壳体,中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束,所述的闪烁体可转动的设置在壳体内,所述的电机用于驱动闪烁体,中子发生源朝向闪烁体的入射面设置,光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件,光纤对应连接闪烁体设置,若干个光检测元件对应连接光纤设置,光检测元件与微处理器连接。


2.根据权利要求1所述的一种中...

【专利技术属性】
技术研发人员:钱铁威
申请(专利权)人:广东太微加速器有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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