【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有片上雷达系统的物位测量装置
本专利技术涉及物位测量。特别地，本专利技术涉及具有片上雷达系统形式的集成微波电路的物位测量装置、用于测量容器中的介质的物位的方法、用于测量容器中的介质的表面拓扑的方法、程序元件和计算机可读介质。
技术介绍
雷达进行物位测量的使用是目前的现有技术。与许多其它领域相比，雷达技术在物位测量中的突破只有在测量装置的电子器件能够检测和处理极小的反射信号之后才有可能。现代测量装置不仅以高发射频率(通常可以在75至85GHz的范围内)为特征，而且还能够可靠地处理反射信号的处于高达120dB的范围内的振幅差。现代测量装置是通过使用噪声极低的高频电路组件实现的，这些组件通常在基于砷化镓(GaAs)的集成微波电路(MMIC)形式的装置中使用。通过使用砷化镓组分，也可以增加对测量可用的高频功率。然而，该解决方案的缺点在于部件成本的增加。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种适合于物位测量的具有片上雷达系统形式的集成微波电路的物位测量装置。该目的通过独立权利要求的主题实...
【技术保护点】
1.一种物位测量装置(100)，其包括：/n片上雷达系统形式的集成微波电路(201、301、1001)，其具有分别被构造为产生高频发射信号的多个发射信道(904、905、906、907、804、805)和分别被构造为接收在填充材料表面上反射的所述发射信号的一个或多个接收信道(904、905、906、907、804、805)；/n噪声水平降低装置(206、303)，其被构造为通过对连续执行的多次测量的结果取平均来增加接收信号的信噪比，所述接收信号源自于在所述填充材料表面上反射的所述发射信号；和/或/n信号电平增加装置(802)，其被构造为组合两个所述发射信道(804、805)...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种物位测量装置(100)，其包括：
片上雷达系统形式的集成微波电路(201、301、1001)，其具有分别被构造为产生高频发射信号的多个发射信道(904、905、906、907、804、805)和分别被构造为接收在填充材料表面上反射的所述发射信号的一个或多个接收信道(904、905、906、907、804、805)；
噪声水平降低装置(206、303)，其被构造为通过对连续执行的多次测量的结果取平均来增加接收信号的信噪比，所述接收信号源自于在所述填充材料表面上反射的所述发射信号；和/或
信号电平增加装置(802)，其被构造为组合两个所述发射信道(804、805)以产生具有增加的功率的组合发射信号和/或组合两个所述接收信道(804/805)以产生具有增加的功率的组合接收信号。
2.根据权利要求1所述的物位测量装置(100)，
其中，所述噪声水平降低装置(206、303)被构造为：在对连续执行的所述多次测量的结果进行取平均之后，确定是否已经对足够数量的测量取平均，并且在必要时触发另外的测量，所述另外的测量的结果也用于取平均。
3.根据前述任一项权利要求所述的物位测量装置(100)，
其中，所述物位测量装置(100)被设计为FMCW物位测量装置，并且连续执行的所述测量中的每一者包括频率扫描。
4.根据前述任一项权利要求所述的物位测量装置(100)，
其中，所述集成微波电路具有至少一个集成模数转换器，所述集成模数转换器被构造为产生数字化中频信号形式的所述接收信号，所述接收信号源自于在所述填充材料表面上反射的一个或多个所述发射信号。
5.根据前述任一项权利要求所述的物位测量装置(100)，
其中，每至少两个所述发射信道连接至一个天线(902、908、909、910)。
6.根据前述任一项...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗兰·韦勒，约尔格·博尔希格，斯特芬·瓦尔德，
申请(专利权)人：VEGA格里沙贝两合公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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