传感器装置和传感器装置支架制造方法及图纸

技术编号:24201751 阅读:85 留言:0更新日期:2020-05-20 13:01
本发明专利技术涉及用于检测容器中的介质的物位的传感器装置(100)、用于传感器装置(100)的传感器装置支架(130)、具有传感器装置(100)和传感器装置支架(130)的IBC容器(200)以及传感器装置支架(130)的用于将传感器装置(100)的探头(110)固定在容器(200)的排出口(202)附近的用途。

Sensor unit and sensor unit bracket

【技术实现步骤摘要】
传感器装置和传感器装置支架
本专利技术涉及借助传感器,特别是借助电容式、电感式或TDR传感器或极限物位传感器的物位测量的领域。特别地,本专利技术涉及可选地可枢转的用于检测容器中的介质的物位的传感器装置、用于传感器装置的传感器装置支架、具有传感器装置和传感器装置支架的容器和传感器装置支架的用于将传感器装置的探头固定在容器的排出口附近的用途。
技术介绍
TDR(TimeDomainReflectometry:时域反射仪)传感器或电容式或电感式物位测量装置或极限物位传感器的探头常用于诸如IBC(IntermediateBulkContainer:中型散装容器)等移动容器中的物位测量。在此,在许多应用中,探头自由伸入到容器中。为了避免机械损害或者为了确保更好的测量,特别是在可移动的或可倾斜的容器中使用探头时,需要探头的稳定设计。可以通过将传感器安装并因此固定在容器的开口中将探头机械地固定在容器中。额外地,可以进行设置使得探头的端部以钥匙形状连接到容器底部的形状。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供可灵活部署的传感器装置和传本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种被配置为用于检测容器(200)中的介质的物位的传感器装置(100),其包括:/n传感器(110),其包括探头(111),/n其中,所述探头(111)被配置为固定地固定在传感器装置支架(130)的固定元件(133)上。/n

【技术特征摘要】
20181113 DE 102018219366.51.一种被配置为用于检测容器(200)中的介质的物位的传感器装置(100),其包括:
传感器(110),其包括探头(111),
其中,所述探头(111)被配置为固定地固定在传感器装置支架(130)的固定元件(133)上。


2.根据权利要求1所述的传感器装置(100),其还包括:
枢转装置(120),其被配置为用于将所述传感器(110)附接到容器开口(210),并且在所述传感器(110)被附接到所述容器开口(210)之后使所述传感器(110)枢转。


3.根据权利要求2所述的传感器装置(100),
其中,所述枢转装置(120)包括球窝接头(121)。


4.根据前述任一项权利要求所述的传感器装置(100),其还包括:
耦合元件(112),其用于将所述探头(111)固定到所述固定元件(133),
其中,所述耦合元件(112)包括铁磁性元件。


5.根据前述任一项权利要求所述的传感器装置(100),
其中,所述探头(111)被设计为雷达探头或微波探头。


6.一种用于根据权利要求1至5中任一项所述的传感器装置(100)的传感器装置支架(130),其包括:
锚定件(131),其被配置为将所述传感器装置支架(130)锚定在容器(200)的排出口(202)上或所述排出口(202)中;
固定元件(133),其被配置为用于固定所述传感器装置(100)的所述探头(111)。


7.根据权利要求6所述的传感器装置支架(130),其还包括:
间隔件(132),其被配置为用于将所述固定元件(133)附...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗伯特·劳恩
申请(专利权)人:VEGA格里沙贝两合公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

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