一种时域交织型模数转换器失配效应的数字校正方法技术

一种时域交织型模数转换器失配效应的数字校正方法，属于数字集成电路技术领域。本发明专利技术为基于采用分裂式ADC结构的时域交织型模数转换器的全数字片上失配效应校准技术，解决了时域交织型模数转换器因工艺精度导致的失配效应降低ADC性能的问题。其中，所述的校正方法每次通过两个独立大通道中的两个独立子ADC对同一时刻的输入信号进行采样和转换，对若干个采样值进行估算得到失配效应参数的估计值，校正时域交织型模数转换器原始转换数据中失配效应引入的误差值，得到接近模拟输入的正确量化值并输出，以达到提升时域交织型模数转换器精度与线性度的目的。

A digital correction method for mismatch effect of interleaved ADC in time domain

【技术实现步骤摘要】
一种时域交织型模数转换器失配效应的数字校正方法
本专利技术属于数字集成电路领域，涉及一种时域交织型模数转换器(TimeInterleavedAnalogtoDigitalConverter，以下简称TIADC)的子通道失配效应的校正方法，用于校正TIADC中各个子通道之间的失配参数产生的影响，以提高TIADC的性能指标。
技术介绍
数字电路是专门为处理数字信号所设计的电路。相比于模拟信号而言，数字信号抗干扰能力更强、可靠性更高，而且数字电路可以做到更高的集成度，大规模的开发也更加容易。因此在信号处理等领域数字电路有着更为广泛的应用。在自然界中，绝大多数的信号为模拟信号，为了利用数字电路对信号进行分析与处理的优势，需要使用模数转换器(AnalogtoDigitalConverter，以下简称ADC)将模拟信号转化为数字信号。不同的ADC根据电路结构可分为Σ-Δ型ADC、逐次逼近型ADC、流水线型ADC、快闪型ADC以及TIADC等，具有不同的转换速度与转换精度，可根据实际需求选择不同型号的ADC。TIADC由于其结构在同等工艺下可以实现更高的速度本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种时域交织型模数转换器失配效应的数字校正方法，其特征在于通过两个独立大通道中的两个独立子ADC对同一时刻的输入信号进行采样和转换，对若干个采样值进行估算得到失配效应参数的估计值，校正TI ADC原始转换数据中失配效应引入的误差值，得到接近模拟输入的正确量化值，解决TI ADC因工艺偏差导致失配效应降低性能的问题。/n

【技术特征摘要】
1.一种时域交织型模数转换器失配效应的数字校正方法，其特征在于通过两个独立大通道中的两个独立子ADC对同一时刻的输入信号进行采样和转换，对若干个采样值进行估算得到失配效应参数的估计值，校正TIADC原始转换数据中失配效应引入的误差值，得到接近模拟输入的正确量化值，解决TIADC因工艺偏差导致失配效应降低性能的问题。


2.根据权利要求1所述的一种时域交织型模数转换器失配效应的数字校正方法，其特征在于，所述的校正方法为一种后台的校正方法，校正过程中不需要中断ADC的正常工作，在输入信号未知的前提下进行失配参数的提取和误差的补偿，避免了前台校正方法需要中断ADC正常工作来进...

【专利技术属性】
技术研发人员：高晨，周雄，李强，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川;51