【技术实现步骤摘要】
一种对微光学谐振腔腔长测量的方法和装置
本专利技术涉及微光学腔测量
,具体是一种对微光学谐振腔腔长测量的方法和装置。
技术介绍
随着激光技术的不断发展,从激光的产生、激光模式的检测、模式选择到腔增强的各种效应,光学腔的用途越来越广泛,光学微腔是现代光学测试、计量和分析不可缺少的工具之一。微光学谐振腔由于其品质因子高、谱宽窄、有效模体积小、振荡阈值低等优势在低阈值激光器、腔量子电动力学、生物探测、高性能滤波器等领域具有广泛的应用。高精细度光学腔因其极窄的线宽,可以获得极高的光学谱分辨率和位移分辨率,在激光光钟、引力波的探测、热噪声的测量方面有着独特的作用;同时高精细度光学腔不但可以在空间选择特定的光学模式,而且可以增强光子的相干性。随着技术的不断进步,光学微腔其应用领域不仅局限于传统光学,被越来越多地应用到精密测量、微弱信号监测以及弱光(单光子)控制和测量方面,在量子信息和集成量子芯片方面更是有广阔的应用前景。微光学谐振腔应用于实际中必须要对微光学腔的腔长进行测量,并锁定满足实际应用的腔长,使其谐振频率稳定在特定 ...
【技术保护点】
1.一种对微光学谐振腔腔长的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:/n(1).将第一腔镜(3)与第二腔镜(4)放置于隔振底座(11)上组成微光学腔;/n(2).用高压放大器(10)对微光学腔的腔长进行扫描,在示波器(9)上得到微光学腔的透射曲线;/n(3).将示波器(9)上得到的透射曲线时间展开,得到零阶透射峰和一阶透射峰与透射峰的一个自由光谱区之间的时间比;/n(4).根据光在微光学腔内往返一周一阶透射峰在腔内共振比零阶透射峰在腔内共振多走的相位从而推算出微光学腔在零阶透射峰共振时的腔长,根据式子/n
【技术特征摘要】
1.一种对微光学谐振腔腔长的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1).将第一腔镜(3)与第二腔镜(4)放置于隔振底座(11)上组成微光学腔;
(2).用高压放大器(10)对微光学腔的腔长进行扫描,在示波器(9)上得到微光学腔的透射曲线;
(3).将示波器(9)上得到的透射曲线时间展开,得到零阶透射峰和一阶透射峰与透射峰的一个自由光谱区之间的时间比;
(4).根据光在微光学腔内往返一周一阶透射峰在腔内共振比零阶透射峰在腔内共振多走的相位从而推算出微光学腔在零阶透射峰共振时的腔长,根据式子
(5).得到腔长的表达式利用该式子可以算出微光学腔的腔长;
式中:ZR是腰斑的瑞利长度,k是扫描一阶透射峰与零阶透射峰之间的时间展开...
【专利技术属性】
技术研发人员:翟泽辉,郝温静,刘建丽,
申请(专利权)人:山西大学,
类型:发明
国别省市:山西;14
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