一种温度计、测温的控制方法及存储介质技术

本发明专利技术实施例提供了一种温度计，包括：一种温度计，包括：探针组件，所述探针组件包括有探针以及温度传感器，所述温度传感器设置在所述探针内；主体，所述主体包括有外壳、显示装置以及电路板，所述电路板设置在所述外壳内，所述显示装置设置在所述外壳上；转动控制装置，所述转动控制装置用于检测用户的转动操作，在用户的转动操作的转动速度大于设定的速度时，按照第一方式来切换到设定的测试模式；当用户转动操作的转动速度小于或等于设定的速度时，按照第二方式来切换到设定的测试模式。本发明专利技术实施例还提供了一种测温的控制方法以及计算机存储介质。

A kind of thermometer, control method of temperature measurement and storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种温度计、测温的控制方法及存储介质
本专利技术涉及温度检测领域，尤其涉及一种温度计、测温的控制方法及存储介质。
技术介绍
伴随着温度传感器性能和成本不断优化，使得温度传感器的应用场景更加丰富。传统热敏传感器以电阻受温度的大小改变电阻值进而达到测温目的如使用电阻式温度传感器。目前测量食物温度的温度计，通常包括有一个探针以及主机，但是因为探针的结构比较细长，在有些时候使用不方便。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种温度计。本专利技术实施例提供了一种温度计，包括：探针组件，所述探针组件包括有探针以及温度传感器，所述温度传感器设置在所述探针内；主体，所述主体包括有外壳、显示装置以及电路板，所述电路板设置在所述外壳内，所述显示装置设置在所述外壳上；转动控制装置，所述转动控制装置用于检测用户的转动操作，在用户的转动操作的转动速度大于设定的速度时，按照第一方式来切换到设定的测试模式；当用户转动操作的转动速度小于或等于设定的速度时，按照第二方式来切换到设定的测试模式。本专利技本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温度计，其特征在于，包括：/n探针组件，所述探针组件包括有探针以及温度传感器，所述温度传感器设置在所述探针内；/n主体，所述主体包括有外壳、显示装置以及电路板，所述电路板设置在所述外壳内，所述显示装置设置在所述外壳上；/n转动控制装置，所述转动控制装置用于检测用户的转动操作，在用户的转动操作的转动速度大于设定的速度时，按照第一方式来切换到设定的测试模式；当用户转动操作的转动速度小于或等于设定的速度时，按照第二方式来切换到设定的测试模式。/n

【技术特征摘要】
1.一种温度计，其特征在于，包括：
探针组件，所述探针组件包括有探针以及温度传感器，所述温度传感器设置在所述探针内；
主体，所述主体包括有外壳、显示装置以及电路板，所述电路板设置在所述外壳内，所述显示装置设置在所述外壳上；
转动控制装置，所述转动控制装置用于检测用户的转动操作，在用户的转动操作的转动速度大于设定的速度时，按照第一方式来切换到设定的测试模式；当用户转动操作的转动速度小于或等于设定的速度时，按照第二方式来切换到设定的测试模式。


2.如权利要求1所述的温度计，其特征在于，所述在用户的转动操作的转动速度大于设定的速度时，按照第一方式来切换到设定的操作模式具体为：
在用户的转动操作的转动速度大于设定的速度时，切换到下一待测物类型模式，其中所述一个待测物类型模式包括有至少一个测试模式。


3.如权利要求2所述的温度计，其特征在于，所述在用户的转动操作的转动速度大于设定的速度时，按照间隔第一转动角度，来切换到下一个测物类型模式。


4.如权利要求2所述的温度计，其特征在于，所述在用户沿第一方向的转动操作的转动速度大于设定的速度时，按照第一顺序间隔第一转动角度，来切换到下一个测物类型模式。


5.如权利要求1所述的温度计，其特征在于，所述在用户的转...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘林青，
申请(专利权)人：深圳市海博思科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44