一种太赫兹辐射检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种太赫兹辐射检测装置，包括辐射源、光线导管和计算机，所述光线导管右侧的后端且位于辐射源的左侧连通有进光管，所述光线导管内表面的后端且位于进光管的左侧固定连接有抛物面镜，所述光线导管的前端连通有第一出光管，本发明专利技术涉及光学检测装置技术领域。该太赫兹辐射检测装置，通过设置进光管与光线导管内抛物面镜的配合，将光线聚集发射至太赫兹分光镜上进行分光，利用第一出光管将其中一束光导向波长检测模块，可检测太赫兹辐射的波长，利用第二出光管将另一束光导向能量检测模块，可检测太赫兹辐射的能量值，两者配合，可同时检测太赫兹辐射两组数据，效率较高且可更全面的检测太赫兹辐射。

【技术实现步骤摘要】
一种太赫兹辐射检测装置
本专利技术涉及光学检测装置
，具体为一种太赫兹辐射检测装置。
技术介绍
太赫兹是一种新的、有很多独特优点的辐射源；太赫兹技术是一个非常重要的交叉前沿领域，给技术创新、国民经济发展和国家安全提供了一个非常诱人的机遇。太赫兹辐射是指频率从0.37THz到10THz，波长介于无线波中的毫米波与红外线之间电磁辐射区域，所产生电磁波辐射的在物体成像、医疗诊断、环境检测、通讯等方面具有广阔的应用前景。目前市面有越来越多的太赫兹产品，但是市面上没有一款装置能够检测出太赫兹产品辐射的能量是否属于太赫兹频段范围，或者只能检测出其中一项指标，不能完整的检测出辐射源的参数指标。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种太赫兹辐射检测装置，解决了市面上没有一款装置能够检测出太赫兹产品辐射的能量是否属于太赫兹频段范围，或者只能检测出其中一项指标，不能完整的检测出辐射源的参数指标的问题。为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种太赫兹辐射检测装置，包括辐射源、光线导管和计算机，所述光线导管右侧的后端且位于辐射源的左侧连通有进光管，所述光线导管内表面的后端且位于进光管的左侧固定连接有抛物面镜，所述光线导管的前端连通有第一出光管，且第一出光管的前端设置有波长检测模块，所述光线导管右侧的前端连通有第二出光管，且第二出光管的右端连通有能量检测模块，所述光线导管内表面的前端且位于第二出光管的左侧固定连接有太赫兹分光镜上。优选的，所述波长检测模块包括干涉仪，所述干涉仪的背面连通有第一套管，且第一套管套设在第一出光管的外部。优选的，所述干涉仪的右侧通过数据线电性连接有接收器，所述接收器的右侧通过数据线电性连接有第一放大器。优选的，所述能量检测模块包括斩波器，且斩波器的左侧与第二出光管的右端连通，所述斩波器的右侧通过短管连通有滤波盒，且滤波盒的内部固定连接有滤波片。优选的，所述滤波盒的右侧连通有内管，且内管的外部套设有第二套管，所述第二套管的右端固定连接有太赫兹探测器，所述太赫兹探测器的前侧通过数据线电性连接有第二放大器。优选的，所述干涉仪的底部固定连接有第一控制器，且太赫兹探测器的底部固定连接有第二控制器，所述计算机的数据串口通过数据线分别与第一放大器和第二放大器电性连接。有益效果本专利技术提供了一种太赫兹辐射检测装置。与现有技术相比具备以下有益效果：(1)、该太赫兹辐射检测装置，通过在光线导管右侧的后端且位于辐射源的左侧连通有进光管，光线导管内表面的后端且位于进光管的左侧固定连接有抛物面镜，光线导管的前端连通有第一出光管，且第一出光管的前端设置有波长检测模块，光线导管右侧的前端连通有第二出光管，且第二出光管的右端连通有能量检测模块，光线导管内表面的前端且位于第二出光管的左侧固定连接有太赫兹分光镜上，通过设置进光管与光线导管内抛物面镜的配合，将光线聚集发射至太赫兹分光镜上进行分光，利用第一出光管将其中一束光导向波长检测模块，可检测太赫兹辐射的波长，利用第二出光管将另一束光导向能量检测模块，可检测太赫兹辐射的能量值，两者配合，可同时检测太赫兹辐射两组数据，效率较高且可更全面的检测太赫兹辐射。(2)、该太赫兹辐射检测装置，通过在干涉仪的底部固定连接有第一控制器，且太赫兹探测器的底部固定连接有第二控制器，两个控制器均为线性电机，第一控制器可改变干涉仪的位置，进而测量相应的THz波长数据，而通过第二控制器可改变太赫兹探测器的位置，从而改变辐射角，通过计算机来显示辐射角的大小，可测量更多的实验数据。附图说明图1为本专利技术结构的俯视图；图2为本专利技术光线导管的剖视图；图3为本专利技术图1中A处的局部放大图。图中：1-辐射源、2-光线导管、3-计算机、4-进光管、5-抛物面镜、6-第一出光管、7-波长检测模块、71-干涉仪、72-接收器、73-第一放大器、74-第一控制器、8-第二出光管、9-能量检测模块、91-斩波器、92-滤波盒、93-滤波片、94-太赫兹探测器、95-第二放大器、96-第二控制器、10-太赫兹分光镜上、11-第一套管、12-短管、13-内管、14-第二套管。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-3，本专利技术提供一种技术方案：一种太赫兹辐射检测装置，包括辐射源1、光线导管2和计算机3，辐射源1不局限于专业的太赫兹辐射源，能够产生太赫兹波的都可以作为被测对象，光线导管2等各个管道均用于屏蔽外界光线干扰，光线导管2右侧的后端且位于辐射源1的左侧连通有进光管4，光线导管2内表面的后端且位于进光管4的左侧固定连接有抛物面镜5，光线导管2的前端连通有第一出光管6，且第一出光管6的前端设置有波长检测模块7，波长检测模块7包括干涉仪71，干涉仪71为太赫兹扫描法布里珀罗干涉仪，用于测量单频太赫兹辐射的波长和定标窄带太赫兹辐射的波长，干涉仪71的背面连通有第一套管11，且第一套管11套设在第一出光管6的外部，第一套管11与第一出光管6之间可相互滑动，使其不影响干涉仪71的移动，干涉仪71的右侧通过数据线电性连接有接收器72，接收器72的右侧通过数据线电性连接有第一放大器73，干涉仪71的底部固定连接有第一控制器74，且太赫兹探测器94的底部固定连接有第二控制器96，两个控制器均为线性电机，第一控制器74可改变干涉仪71的位置，进而测量相应的THz波长数据，而通过第二控制器96可改变太赫兹探测器10的位置，从而改变辐射角，通过计算机13来显示辐射角的大小，可测量更多的实验数据，计算机3的数据串口通过数据线分别与第一放大器73和第二放大器75电性连接，光线导管2右侧的前端连通有第二出光管8，且第二出光管8的右端连通有能量检测模块9，能量检测模块9包括斩波器91，高莱盒作为太赫兹探测器94用来处理正弦调制信号，所以需要斩波器8调制入射光的信号，斩波器8需要提前准备好并打开，且斩波器91的左侧与第二出光管8的右端连通，斩波器91的右侧通过短管12连通有滤波盒92，且滤波盒92的内部固定连接有滤波片93，滤波盒92的右侧连通有内管13，且内管13的外部套设有第二套管14，第二套管14与内管13之间可相互滑动，使其不影响太赫兹探测器94的移动，第二套管14的右端固定连接有太赫兹探测器94，太赫兹探测器94的前侧通过数据线电性连接有第二放大器95，放大器为信号放大器，光线导管2内表面的前端且位于第二出光管8的左侧固定连接有太赫兹分光镜上10，通过设置进光管4与光线导管2内抛物面镜5的配合，将光线聚集发射至太赫兹分光镜上10进行分光，利用第一出光管6将其中一束光导向波长检测模块7，可检测太赫兹辐射的波长，利用第二出光管8将另一束光导向能量检测模块9，可检测太本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种太赫兹辐射检测装置，包括辐射源(1)、光线导管(2)和计算机(3)，其特征在于：所述光线导管(2)右侧的后端且位于辐射源(1)的左侧连通有进光管(4)，所述光线导管(2)内表面的后端且位于进光管(4)的左侧固定连接有抛物面镜(5)，所述光线导管(2)的前端连通有第一出光管(6)，且第一出光管(6)的前端设置有波长检测模块(7)，所述光线导管(2)右侧的前端连通有第二出光管(8)，且第二出光管(8)的右端连通有能量检测模块(9)，所述光线导管(2)内表面的前端且位于第二出光管(8)的左侧固定连接有太赫兹分光镜上(10)。/n

【技术特征摘要】
1.一种太赫兹辐射检测装置，包括辐射源(1)、光线导管(2)和计算机(3)，其特征在于：所述光线导管(2)右侧的后端且位于辐射源(1)的左侧连通有进光管(4)，所述光线导管(2)内表面的后端且位于进光管(4)的左侧固定连接有抛物面镜(5)，所述光线导管(2)的前端连通有第一出光管(6)，且第一出光管(6)的前端设置有波长检测模块(7)，所述光线导管(2)右侧的前端连通有第二出光管(8)，且第二出光管(8)的右端连通有能量检测模块(9)，所述光线导管(2)内表面的前端且位于第二出光管(8)的左侧固定连接有太赫兹分光镜上(10)。


2.根据权利要求1所述的一种太赫兹辐射检测装置，其特征在于：所述波长检测模块(7)包括干涉仪(71)，所述干涉仪(71)的背面连通有第一套管(11)，且第一套管(11)套设在第一出光管(6)的外部。


3.根据权利要求2所述的一种太赫兹辐射检测装置，其特征在于：所述干涉仪(71)的右侧通过数据线电性连接有接收器(72)，所述接收器(72)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：曲秋红，赵荧，
申请(专利权)人：莱仪特太赫兹天津科技有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12