高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统，该激光光纤干涉仪诊断系统采用光纤耦合器，减少了开放式光束系统中光学平台及其它光学器件的使用，进而结构简单，成本低。并且，该激光光纤干涉仪诊断系统利用光纤的可弯曲和易扩展特性，可使光电探测器足够远离待测等离子体区域，避免了等离子体产生过程的电磁干扰对测量的影响。

Diagnosis system of laser fiber interferometer for high density plasma density measurement

【技术实现步骤摘要】
高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统
本技术涉及等离子体密度诊断
，更具体地说，涉及一种高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统。
技术介绍
干涉测量法作为一种“非入侵式”测量等离子体密度的方法已经十分成熟，干涉法测量等离子体密度的干涉仪有很多种类型，可大致分为两类：空间分辨干涉仪和时间分辨干涉仪。目前用于测量等离子体密度的干涉仪通常被构建为开放式光束系统，即该系统中的相干光在自由空间中传播，其主要具有反射镜、分束器和探测器等器件。但是，在诸多情况下，开放式干涉仪对等离子体密度演变的准确记录十分困难，特别是等离子体密度变化幅度很小时，条纹偏移非常小，这就意味着需要干涉仪在时间尺度上非常稳定，稳定的时间尺度需远大于研究中的时间，用于消除背景噪声，如外部支撑结构的机械振动和光束传播光路中气流的干扰。为了消除这些干扰，开放式光束干涉仪系统需要固定在消除振动的大型光学平台上，甚至还需要将光路放置于隔绝周围空气的管道中。并且，用于测量高密度等离子体的激光位于可见光及近红外波段，传统上开放式光束干涉仪系统使用气本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统，其特征在于，所述激光光纤干涉仪诊断系统包括：激光器、第一光纤耦合器、衰减器、第一光功率计、第二光功率计、第二光纤耦合器、第一至第三光电探测器以及信号处理装置；/n其中，所述激光器用于输出相干激光；/n所述第一光纤耦合器用于将所述相干激光分束为信号光束和参考光束；/n所述信号光束用于依次通过待测等离子体区域、所述第一光功率计和所述第二光纤耦合器；/n所述参考光束用于依次通过所述衰减器、所述第二光功率计和所述第二光纤耦合器；/n所述第二光纤耦合器用于将三路输出端分别连接至所述第一至第三光电探测器；/n所述信号处理装置用于对所述第一至第三光电探...

【技术特征摘要】
1.一种高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统，其特征在于，所述激光光纤干涉仪诊断系统包括：激光器、第一光纤耦合器、衰减器、第一光功率计、第二光功率计、第二光纤耦合器、第一至第三光电探测器以及信号处理装置；
其中，所述激光器用于输出相干激光；
所述第一光纤耦合器用于将所述相干激光分束为信号光束和参考光束；
所述信号光束用于依次通过待测等离子体区域、所述第一光功率计和所述第二光纤耦合器；
所述参考光束用于依次通过所述衰减器、所述第二光功率计和所述第二光纤耦合器；
所述第二光纤耦合器用于将三路输出端分别连接至所述第一至第三光电探测器；
所述信号处理装置用于对所述第一至第三光电探测器的输出电压信号进行解析以获得所述待测等离子体的密度参数；
其中，通过调节所述衰减器以使进入所述第二光纤耦合器的所述信号光束的光强和所述参考光束的光强相等。


2.根据权利要求1所述的激光光纤干涉仪诊断系统，其特征在于，所述激光器为超窄线宽激光器；
所述超窄线宽激光器用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：张森，兰涛，
申请(专利权)人：中国科学技术大学，
类型：新型
国别省市：安徽;34