用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法及装置，其中方法包括：导入点云数据；建立第一基准坐标系；框选出第一基准坐标系内的点云区域；在第一点云数据中点选出基准坐标原点P

Coordinate correction method and device of 3D data for 3C glass panel detection

【技术实现步骤摘要】
用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法及装置
本专利技术涉及三维测量
，具体涉及一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法及装置。
技术介绍
随着科技的发展，3C电子产品面板开始采用一些柔软、自由度高、曲面复杂的玻璃面板。此类玻璃面板的品控要求很严格，传统的人工检测或接触式检测已经无法完成此类玻璃面板的精密测量，特别是曲率较大的曲面位置。基于光学方法的三维测量技术已成为玻璃面板检测的主流技术，可实现非接触、高分辨率、高精度、自动化程度高的玻璃面板数字化检测。采用光线投射法，可对玻璃面板的外形形貌进行扫描，将玻璃面板的立体信息转换为精细的三维点云数据。目前，基于光学方法的三维测量系统所采集的点云数据基本都是以其传感器自身的坐标系为基准，即玻璃面板的立体信息是在传感器坐标系下的三维点云数据。当实施多角度或多系统测量时，再加上玻璃面板的几何参数均是以其自身的某一几何特征为基准的，处于多个不同坐标系下的点云数据的融合难度较大，不便于进行整体三维建模。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法及装置，以解决现有技术中基于光学方法的三维测量系统在实施多角度或多系统测量时，处于多个不同坐标系下的点云数据的融合难度较大，不便于进行整体三维建模的问题。本专利技术实施例提供了一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法，包括：导入点云数据；建立第一基准坐标系；框选出第一基准坐标系内的点云区域；在第一点云数据中点选出基准坐标原点PO(xo，yo)；对点云区域内的第一点云数据进行直线拟合并获取直线lX；其中，直线lX：ax+by+c＝0；获取方向向量为第二基准坐标系的X轴向量；其中，方向向量获取第二基准坐标系下点云数据的坐标值。可选地，获取第二基准坐标系下点云数据的坐标值，包括：对点云数据中的每个点Pi(xi，yi)，构建其与基准坐标原点PO(xo，yo)的向量可选地，获取第二基准坐标系下点云数据的坐标值，还包括：计算向量与方向向量的点乘值作为点云数据在第二基准坐标系下的坐标XNi，即可选地，获取第二基准坐标系下点云数据的坐标值，还包括：计算向量与向量的叉乘值作为点云数据在第二基准坐标系下的坐标YNi，即将PNi(XNi，YNi)更新为点云数据在第二基准坐标系下的坐标值。可选地，框选出第一基准坐标系内的点云区域，包括：选取与第一基准坐标系的X轴或Y轴相交的部分点云数据；部分点云数据至少包括三个点云数据的坐标。可选地，在第一点云数据中点选出基准坐标原点PO(xo，yo)，包括：选取第一基准坐标系的坐标轴与第一点云数据的交点为基准坐标原点。可选地，在导入点云数据之前，还包括：用线扫描获取点云数据。本专利技术实施例还提供了一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正装置，包括：导入模块，用于导入点云数据；建立模块，用于建立第一基准坐标系；框选模块，用于框选出第一基准坐标系内的点云区域；点选模块，用于在第一点云数据中点选出基准坐标原点PO(xo，yo)；直线拟合模块，用于对点云区域内的第一点云数据进行直线拟合并获取直线lX；其中，直线lX：ax+by+c＝0；第一获取模块，用于获取方向向量为第二基准坐标系的X轴向量；其中，方向向量第二获取模块，用于获取第二基准坐标系下点云数据的坐标值。本专利技术实施例提供了一种适用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正算法，在测量得到的玻璃面板表面形貌三维数据中，依据玻璃面板自身的直线特征，完成线扫描点的坐标系校正，使点云数据转换到玻璃面板本身的基准坐标系中，当实施多角度或多系统测量时，降低了处于多个不同坐标系下的点云数据的融合难度。附图说明通过参考附图会更加清楚的理解本专利技术的特征和优点，附图是示意性的而不应理解为对本专利技术进行任何限制，在附图中：图1示出了本专利技术实施例中一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法的流程图；图2示出了本专利技术实施例中一种玻璃面板表面的原始线扫描点云数据图；图3示出了本专利技术实施例校正过程中的玻璃面板表面线扫描点云图；图4示出了本专利技术实施例中校正后的玻璃面板表面线扫描点云图；图5示出了本专利技术实施例中一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正装置；图6出了本专利技术实施例中一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正设备。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供了一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法，如图1至4所示，包括：步骤S10，导入点云数据。在本实施例中，获取玻璃面板表面的原始线扫描点云数据，导入到校正软件中，获得如图2所示的点云数据图形。步骤S20，建立第一基准坐标系。在本实施例中，如图3所示，在点云数据图1上建立第一基准坐标系2。步骤S30，框选出第一基准坐标系内的点云区域。在本实施例中，如图3所示，框处区域3内包含部分点云数据和第一基准坐标系的坐标轴。步骤S40，在第一点云数据中点选出基准坐标原点PO(xo，yo)。在本实施例中，在框内的第一点云数据中任意选择一点作为基准坐标原点。步骤S50，对点云区域内的第一点云数据进行直线拟合并获取直线lX。其中，直线lX：ax+by+c＝0。在本实施例中，如图3所示，框内的第一点云数据拟合为一条直线lX，且在第一基准坐标系中，该直线lX可以用公式ax+by+c＝0表达。在具体实施例中，步骤S40与步骤S50不分先后顺序。步骤S60，获取方向向量为第二基准坐标系的X轴向量；其中，方向向量在本实施例中，根据步骤S50中拟合的直线lX，计算出该直线在第一基准坐标系中的斜率，即向量根据基准坐标原点PO(xo，yo)以及向量即可确定一条直线l1，并将这条直线作为第二基准坐标系的X轴，则第二基准坐标系的Y轴为经过基准坐标原点PO、且与直线l垂直的直线l2。步骤S70，获取第二基准坐标系下点云数据的坐标值。在本实施例中，将点云数据的坐标从第一基准坐标系转换到第二基准坐标系中。本专利技术实施例提供了一种适用用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法，在测量得到的玻璃面板表面形貌三维数据中，依据玻璃面板自身的直线特征，完成线扫描点的坐标系校正，使点云数据转换到玻璃面板本身的基准坐标系中，当实施多角度或多系统测量时，降低了处于多个不同坐标系下的点云数据的融合本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法，其特征在于，包括：/n导入点云数据；/n建立第一基准坐标系；/n框选出所述第一基准坐标系内的点云区域；/n在所述第一点云数据中点选出基准坐标原点P

【技术特征摘要】
1.一种用于3C玻璃面板检测的三维数据坐标校正方法，其特征在于，包括：
导入点云数据；
建立第一基准坐标系；
框选出所述第一基准坐标系内的点云区域；
在所述第一点云数据中点选出基准坐标原点PO(xo，yo)；
对所述点云区域内的第一点云数据进行直线拟合并获取直线lX；其中，所述直线lX：ax+by+c＝0；
获取方向向量为第二基准坐标系的X轴向量；其中，所述方向向量
获取所述第二基准坐标系下所述点云数据的坐标值。


2.根据权利要求1所述的三维数据坐标校正方法，其特征在于，获取所述第二基准坐标系下所述点云数据的坐标值，包括：
对所述点云数据中的每个点Pi(xi，yi)，构建其与所述基准坐标原点PO(xo，yo)的向量


3.根据权利要求2所述的三维数据坐标校正方法，其特征在于，获取所述第二基准坐标系下所述点云数据的坐标值，还包括：
获取所述向量与所述方向向量的点乘值作为所述点云数据在所述第二基准坐标系中的坐标XNi，即


4.根据权利要求3所述的三维数据坐标校正方法，其特征在于，获取所述第二基准坐标系下所述点云数据的坐标值，还包括：
获取向量与向量的叉乘值作为所述点云数据在所述第二基准坐标系中的坐标YNi，即
将PNi(XNi，YNi)更新为所述点云数据在所述第二基准坐标系下的坐...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙丰，张宝峰，刘斌，
申请(专利权)人：苏州赛腾精密电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32