激光清洗方法及装置制造方法及图纸

技术编号:24153358 阅读:60 留言:0更新日期:2020-05-15 22:22
本发明专利技术揭示了一种激光清洗方法,其包括以下步骤,获得带材涂覆膜的涂覆基准位,根据涂覆基准位对带材进行预设长度的定段走带,对定段走带后的带材的涂覆膜进行激光清洗;本发明专利技术还揭示了一种激光清洗装置。本申请的发明专利技术在对带材的涂覆膜进行激光清洗之前,会先检测涂覆基准位,并根据涂覆基准位对带材进行预设长度的定位走带,从而使得涂覆膜的移动是确定的,进而使得带材的涂覆膜的待清洗位置能够被准确的确定,保证了形成清洗槽的位置一致性。

Laser cleaning method and device

【技术实现步骤摘要】
激光清洗方法及装置
本专利技术涉及激光清洗
,具体地,涉及一种激光清洗方法及装置。
技术介绍
在电池的生产过程中需要通过激光清洗去除阳极极片设定位置区域的涂膜,以形成清洗槽,进而使得清洗槽置的基材裸露并达到tab焊接的要求。在现有技术中,虽然已有采用激光清洗的方式在基带的涂膜处形成清洗槽,但是无法保证每次都准确对应待清洗位置进行清洗,进而导致形成清洗槽的位置一致性较差。
技术实现思路
针对现有技术的不足,本专利技术提供一种激光清洗方法及装置。本专利技术公开的一种激光清洗方法,包括以下步骤:获得带材涂覆膜的涂覆基准位;根据涂覆基准位对带材进行预设长度的定段走带;对定段走带后的带材的涂覆膜进行激光清洗。根据本专利技术一实施方式,对定段走带后的带材的涂覆膜进行激光清洗,并形式清洗槽。根据本专利技术一实施方式,获得带材涂覆膜的涂覆基准位,包括以下子步骤:对经过的带材进行检测;带材包括基带以及多个涂覆膜,多个涂覆膜依次间隔涂覆于基带;识别出涂覆膜与基带的分界位置,获得涂覆基准位。根据本专利技术一实施方式,根据涂覆基准位对带材进行预设长度的定段走带,包括以下子步骤:预设清洗位置;根据涂覆基准位以及预设清洗位置计算出定段走带长度;根据定段走带长度进行定段走带。根据本专利技术一实施方式,对定段走带后的带材的涂覆膜进行激光清洗,包括:对带材A面的涂覆膜进行激光清洗。根据本专利技术一实施方式,对带材A面的涂覆膜进行激光清洗,包括:对带材A面的奇数位涂覆膜进行激光清洗,或对带材A面的偶数位涂覆膜进行激光清洗;对带材A面的偶数位涂覆膜进行激光清洗,或对带材A面的奇数位涂覆膜进行激光清洗。根据本专利技术一实施方式,对定段走带后的带材的涂覆膜进行激光清洗,包括:对带材A面的涂覆膜进行激光清洗;对带材进行翻面;对带材B面的涂覆膜进行激光清洗。一种激光清洗装置,包括第一清洗装置;第一清洗装置包括第一基准位检测机构、第一激光清洗机构以及第一主驱机构;带材依次经过第一基准位检测机构、第一激光清洗机构以及第一主驱机构;第一基准位检测机构用于获得带材涂覆膜的涂覆基准位,第一主驱机构根据涂覆基准位对带材进行预设长度的定段走带,使得定段走带后的带材的涂覆膜置于第一激光清洗机构的清洗位,第一激光清洗机构对定段走带后的带材的涂覆膜进行激光清洗。根据本专利技术一实施方式,其还包括第二清洗装置;第二清洗装置包括第二基准位检测机构、第二激光清洗机构以及第二主驱机构;第二基准位检测机构与第一主驱机构相邻;第一基准位检测机构、第一激光清洗机构以及第一主驱机构配合对带材A面的奇数位涂覆膜进行激光清洗,或对带材A面的偶数位涂覆膜进行激光清洗;第二基准位检测机构、第二激光清洗机构以及第二主驱机构配合对带材A面的偶数位涂覆膜进行激光清洗,或带材A面的奇数位涂覆膜进行激光清洗。根据本专利技术一实施方式,第一基准位检测机构、第一激光清洗机构以及第一主驱机构配合对带材A面的涂覆膜进行激光清洗;第二清洗机构还包括换面走带机构;换面走带机构用于对激光清洗前的带材进行换面,使得第二基准位检测机构、换面走带机构、第二激光清洗机构及第二主驱机构配合对带材B面的涂覆膜进行激光清洗。本申请在对带材的涂覆膜进行激光清洗之前,会先检测涂覆基准位,并根据涂覆基准位对带材进行预设长度的定位走带从而使得涂覆膜的移动是确定的,进而使得带材的涂覆膜的待清洗位置能够被准确的确定,保证了形成清洗槽的位置一致性。附图说明此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:图1为实施例一中激光清洗方法的流程图;图2为实施例一中获得带材涂覆膜的涂覆基准位的流程图;图3为实施例一中带材的结构示意图;图4为实施例一中定段走带的流程图;图5为实施例一中带材另一视角的结构示意图;图6为实施例二中激光清洗装置的结构示意图;图7为实施例二中第二清洗装置中的带材走向示意图;图8为实施例三中第二清洗装置中的带材走向示意图。附图标记说明:1、第一清洗装置;11、第一基准位检测机构;111、过带组件;112、检测组件;12、第一激光清洗机构;121、清洗平台;122、激光清洗组件;123、除尘组件;13、第一主驱机构;2、第二清洗装置;21、第二基准位检测机构;22、第二激光清洗机构;23、第二主驱机构;24、换面走带机构;241、第一换面辊;242、第二换面辊;243、第三换面辊;10、架体;20、放卷机构;30、放卷主驱机构;40、第一缓存机构;50、第二缓存机构;60、第三缓存机构;70、除尘机构;80、视觉检测机构;90、贴标机构;200、收卷机构;100、带材;110、基带;120、涂覆膜;130、清洗槽;140、涂覆基准位。具体实施方式以下将以图式揭露本专利技术的多个实施方式,为明确说明起见,许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而,应了解到,这些实务上的细节不应用以限制本专利技术。也就是说,在本专利技术的部分实施方式中,这些实务上的细节是非必要的。此外,为简化图式起见,一些习知惯用的结构与组件在图式中将以简单的示意的方式绘示之。需要说明,本专利技术实施例中所有方向性指示诸如上、下、左、右、前、后......仅用于解释在某一特定姿态如附图所示下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。另外,在本专利技术中如涉及"第一″、"第二″等的描述仅用于描述目的,并非特别指称次序或顺位的意思,亦非用以限定本专利技术,其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的组件或操作而已,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有"第一″、"第二″的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本专利技术要求的保护范围之内。为能进一步了解本专利技术的
技术实现思路
、特点及功效,兹例举以下实施例,并配合附图详细说明如下:实施例一参照图1,图1为实施例一中激光清洗方法的流程图。本实施例中的激光清洗方法包括以下步骤:S1,获得带材涂覆膜的涂覆基准位。S2,根据涂覆基准位对带材进行预设长度的定段走带。S3,对定段走带后的带材的涂覆膜进行激光清洗。在对带材的涂覆膜进行激光清洗之前,会先检测涂覆基准位,并根据涂覆基准位对带材进行预设长度的定位走带,从而使得涂覆膜的移动是确定的,进而使得带材的涂覆膜的待清洗位置能够被准确的确定,保证了形成清洗槽的位置一致性。优选的,在步骤S3中,对定段走带后的带材的涂覆膜本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种激光清洗方法,其特征在于,包括以下步骤:/n获得带材涂覆膜的涂覆基准位;/n根据所述涂覆基准位对所述带材进行预设长度的定段走带;/n对定段走带后的所述带材的涂覆膜进行激光清洗。/n

【技术特征摘要】
1.一种激光清洗方法,其特征在于,包括以下步骤:
获得带材涂覆膜的涂覆基准位;
根据所述涂覆基准位对所述带材进行预设长度的定段走带;
对定段走带后的所述带材的涂覆膜进行激光清洗。


2.根据权利要求1所述的激光清洗方法,其特征在于,对定段走带后的所述带材的涂覆膜进行激光清洗,并形式清洗槽。


3.根据权利要求1或2所述的激光清洗方法,其特征在于,获得带材涂覆膜的涂覆基准位,包括以下子步骤:
对经过的所述带材进行检测;所述带材包括基带以及多个涂覆膜,多个涂覆膜依次间隔涂覆于所述基带;
识别出所述涂覆膜与所述基带的分界位置,获得所述涂覆基准位。


4.根据权利要求1或2所述的激光清洗方法,其特征在于,根据所述涂覆基准位对所述带材进行预设长度的定段走带,包括以下子步骤:
预设清洗位置;
根据所述涂覆基准位以及所述预设清洗位置计算出定段走带长度;
根据所述定段走带长度进行定段走带。


5.根据权利要求1或2所述的激光清洗方法,其特征在于,对定段走带后的所述带材的涂覆膜进行激光清洗,包括:
对所述带材A面的涂覆膜进行激光清洗。


6.根据权利要求5所述的激光清洗方法,其特征在于,对所述带材A面的涂覆膜进行激光清洗,包括:
对所述带材A面的奇数位涂覆膜进行激光清洗,或对所述带材A面的偶数位涂覆膜进行激光清洗;
对所述带材A面的偶数位涂覆膜进行激光清洗,或对所述带材A面的奇数位涂覆膜进行激光清洗。


7.根据权利要求1或2所述的激光清洗方法,其特征在于,对定段走带后的所述带材的涂覆膜进行激光清洗,包括:
对所述带材A面的涂覆膜进行激光清洗;
对所述带材进行翻面;
对所述带材B面的涂覆膜进行激光清洗。


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【专利技术属性】
技术研发人员:周明浪蔡文杰钟小兰
申请(专利权)人:广东利元亨智能装备股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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