一种激光测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉一种激光测量装置，包括待测激光光源；用于衰减待测激光光源出射的激光能量的衰减装置；积分球，积分球设置在衰减装置后，激光经过衰减装置后，通过积分球的入射孔进入积分球内；光测量装置，光测量装置设置在积分球上。其中，衰减装置包括衰减器和冷却装置，光测量装置包括光探测器和光谱分析仪。本实用新型专利技术公开一种激光测量装置，通过衰减装置配备积分球来衰减被测激光的功率密度，使其衰减至常规光电/光伏传感器可以承受的水平，继而采用光测量装置进行直接测量，适用于连续和脉冲激光的功率、波形等参数测量。

A laser measuring device

【技术实现步骤摘要】
一种激光测量装置
本技术涉及光学测量
，具体涉及一种激光测量装置。
技术介绍
在激光测量领域，针对大功率的激光测量，传统且较为成熟的主要是基于量热型原理，现有产品如热电堆式探测器等，此类探测器主要采用吸收体将入射光尽可能高效率地转化为热，由于吸收体材料的温升与入射光能量成正比，即可通过测量吸收体的温升实现激光功率/能量等参数的测量。然而，此类激光探测器普遍响应速度慢，恢复时间长，不适用于脉冲激光的测量，且无法检测脉冲波形等参数，测量精度也不高。近些年，有研究人员提出了分光测量的方案（CN201610305698.7）：首先使用分光元件将大功率的激光光束进行分光，然后将分光后的各路光束分别入射到各个测量仪器中，实现对多个参数的同步测量。然而此类方案存在较大的问题，如光学元件吸收部分激光功率后，温度上升继而影响光学元件的光学行为，即光路上的各种元件对测量结果的准确性存在较大的影响；同时，不同功率的被测激光对光学元件的温度影响存在一定差异，即不同被测激光所造成光路上的各种元件对测量结果准确性影响也不一致，因此无法较好地对测量结果实现准确本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光测量装置，其特征在于，包括：/n待测激光光源（1）；用于衰减待测激光光源（1）出射的激光（7）能量的衰减装置（2）；/n积分球（5），所述积分球（5）设置在所述的衰减装置（2）后，所述的激光（7）经过所述衰减装置（2）后，通过积分球（5）的入射孔（3）进入所述积分球（5）内；/n光测量装置（6），所述光测量装置（6）设置在积分球（5）上。/n

【技术特征摘要】
1.一种激光测量装置，其特征在于，包括：
待测激光光源（1）；用于衰减待测激光光源（1）出射的激光（7）能量的衰减装置（2）；
积分球（5），所述积分球（5）设置在所述的衰减装置（2）后，所述的激光（7）经过所述衰减装置（2）后，通过积分球（5）的入射孔（3）进入所述积分球（5）内；
光测量装置（6），所述光测量装置（6）设置在积分球（5）上。


2.如权利要求1所述的一种激光测量装置，其特征在于，所述的衰减装置（2）包括衰减器（2-1）和与所述的衰减器（2-1）热接触的冷却装置（2-2）。


3.如权利要求2所述的一种激光测量装置，其特征在于，所述的衰减器（2-1）具有网孔结构。


4.如权利要求2或3所述的一种激光测量装置，其特征在于，所述的衰减器（2-1）为金属或者玻璃材质。

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【专利技术属性】
技术研发人员：潘建根，许耀东，徐秉政，
申请(专利权)人：杭州远方光电信息股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33