一种基于旋转磁体测量的千分表制造技术

本实用新型专利技术涉及测量仪器领域，具体涉及一种基于旋转磁体测量的千分表。一种基于旋转磁体测量的千分表，包括测量杆、粗测组件、精测组件和至少一个旋转传动组件，粗测组件包括第一旋转磁体组件和第一磁场角度编码器，第一磁场角度编码器通过检测第一旋转磁体组件的磁场方位角及其变化数据测量粗读数，测量杆控制旋转传动部件旋转从而分别带动第一旋转磁体组件和精测组件运动。本申请的一种基于旋转磁体测量的千分表，稳定性好，装配简单，装配成本低，同时，能够避免在计数中断后重新测量粗读数，减少了重新测量被测读数的工作量，减少了因重测而造成的测量成本。

A dial indicator based on rotating magnet measurement

【技术实现步骤摘要】
一种基于旋转磁体测量的千分表
本技术涉及测量仪器领域，具体涉及一种基于旋转磁体测量的千分表。
技术介绍
数显千分表通常为通过容珊、光栅、电感等元件直接测量直线位移并输出至显示模块显示读数的长度测量仪器。由千分表测量的被测数据分为两部分，即粗读数和精读数，其中，粗读数为基础读数，精读数能够显示其数据的精度，精读数的精度及范围与两个粗读数之间的数值差相对应。例如：两个粗读数之间的数值差为0.2，最终被测数据为3.453，则其中，粗读数“3.4”，精读数为“0.053”；例如：两个粗读数之间的数值差为0.2，最终被测数据为3.553，则其中，粗读数“3.4”，精读数为“0.153”，也可视为，粗读数“3.6”，精读数为“-0.047”；例如：两个粗读数之间的数值差为1，最终被测数据为3.453，则其中，粗读数“3”，精读数为“0.453”，也可视为，粗读数“4”，精读数为“-0.547”。目前，现有的数显千分表普遍利用容栅，光栅等电子元件将精读数和粗读数一体测量，即直接将直线位移转换电信号输出，得到被测数据，能本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于旋转磁体测量的千分表，其特征在于，包括，/n测量杆(1)，用于与被测物体相接触，且能够沿自身轴向移动；/n粗测组件(2)，与所述测量杆(1)相配合，所述粗测组件(2)包括第一旋转磁体组件(21)和第一磁场角度编码器(22)，所述测量杆(1)能够带动所述第一旋转磁体组件(21)绕其第一安装轴(211)旋转，所述第一磁场角度编码器(22)通过检测所述第一旋转磁体组件(21)的磁场方位角及其变化数据测量粗读数；/n精测组件(3)，用于根据所述测量杆(1)的轴向位移来测量精读数，所述精测组件(3)与所述测量杆(1)相配合。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于旋转磁体测量的千分表，其特征在于，包括，
测量杆(1)，用于与被测物体相接触，且能够沿自身轴向移动；
粗测组件(2)，与所述测量杆(1)相配合，所述粗测组件(2)包括第一旋转磁体组件(21)和第一磁场角度编码器(22)，所述测量杆(1)能够带动所述第一旋转磁体组件(21)绕其第一安装轴(211)旋转，所述第一磁场角度编码器(22)通过检测所述第一旋转磁体组件(21)的磁场方位角及其变化数据测量粗读数；
精测组件(3)，用于根据所述测量杆(1)的轴向位移来测量精读数，所述精测组件(3)与所述测量杆(1)相配合。


2.根据权利要求1所述的一种基于旋转磁体测量的千分表，其特征在于，所述第一旋转磁体组件(21)与所述测量杆(1)相啮合。


3.根据权利要求1所述的一种基于旋转磁体测量的千分表，其特征在于，所述测量杆(1)上设置有旋转传动组件(4)，所述旋转传动组件(4)分别与所述测量杆(1)和所述精测组件(3)相配合，所述测量杆(1)能够控制所述旋转传动组件(4)旋转从而带动所述精测组件(3)运动。


4.根据权利要求3所述的一种基于旋转磁体测量的千分表，其特征在于，所述旋转传动组件(4)与所述第一旋转磁体组件(21)相配合，所述测量杆(1)能够控制所述旋转传动组件(4)旋转从而带动所述第一旋转磁体组件(21)运动。


5.根据权利要求4所述的一种基于旋转磁体测量的千分表，其特征在于，所述旋转传动组件(4)包括同轴设置的第一齿轮(41)和第二齿轮(42)，所述第一齿轮(41)和所述第二齿轮(42)能够同步转动，所述第一齿轮(41)与所述第一旋转磁体组件(21)转动配合，所述第二齿轮(...

【专利技术属性】
技术研发人员：王佶，唐臻宇，
申请(专利权)人：成都太微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51