一种OCP转PCIE标准卡用转接卡制造技术

本实用新型专利技术公开的一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，包括转接卡和滑轨，所述转接卡上端设有支撑部，支撑部左右对称地设有两个，所述滑轨安装在支撑部上，所述滑轨与OCP板卡侧边配合，所述转接卡下端设有金手指，所述转接卡下端与滑轨对应的位置设有连接器，将待测DUT OCP板卡插接到转接卡上的连接器，将转接卡的金手指插入PCIE CBB测试治具上，CBB上电后实现OCP3.0板卡的信号测试。可以将OCP3.0板卡的PCIE信号引出，连接到PCIE标准测试治具CBB上，实现OCP板卡PCIE TX信号的测试，从而更好的保证OCP板卡性能。

A transfer card for OCP to PCIe standard card

【技术实现步骤摘要】
一种OCP转PCIE标准卡用转接卡
本技术涉及OCP测试
，具体地说是一种OCP转PCIE标准卡用转接卡。
技术介绍
数据中心是需要高成本、高投入，高维护的产业，硬件设计要求高，开放起来更是困难重重。而OCP的诞生，目的是打造了更低成本的数据中心，也将协助提供开源硬件和数据中心设计，推动硬件开放的脚步，OCP设备也在逐步更新升级，目前已经发展到了OCP3.0技术。但是现在并没有OCP板卡相关的测试方案，OCP3.0PCIETX信号无法测试，只能通过测试RX信号，查看margin来进行预估，无法实现OCP信号的准确测试，无法保障OCP3.0板卡的电性能特性。
技术实现思路
本技术的目的在于解决上述问题，提供一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，可以将OCP3.0板卡的PCIE信号引出，连接到PCIE标准测试治具CBB上，实现OCP板卡PCIETX信号的测试，从而更好的保证OCP板卡性能。本技术解决其技术问题所采取的技术方案是：一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，包括转接卡和滑轨，所述转接卡上端设有支撑部，支撑部左右对称地设有两个，所述滑轨安装在支撑部上，所述滑轨与OCP板卡侧边配合，所述转接卡下端设有金手指，所述转接卡下端与滑轨对应的位置设有连接器。进一步地，所述滑轨包括连接头和滑槽，连接头位于滑槽外侧一端，OCP板卡侧边与滑槽配合。进一步地，所述支撑部上设有连接孔，所述滑轨上的连接头与支撑部连接。进一步地，所述滑槽上端设有第一倒角。进一步地，所述滑槽内侧设有第二倒角。进一步地，所述滑轨上下两端均设有减重槽。进一步地，所述滑轨外侧一端设有连接板，连接板上设有长条孔。本技术的有益效果是：1、本技术设计转接卡，所述转接卡下端设有金手指，所述转接卡下端与滑轨对应的位置设有连接器，将待测DUTOCP板卡插接到转接卡上的连接器，将转接卡的金手指插入PCIECBB测试治具上，CBB上电后实现OCP3.0板卡的信号测试。可以将OCP3.0板卡的PCIE信号引出，连接到PCIE标准测试治具CBB上，实现OCP板卡PCIETX信号的测试，从而更好的保证OCP板卡性能。2、本技术设有滑轨，所述转接卡上端设有支撑部，结构采用U型设计，可以将OCP3.0网卡完全包住，实现更稳定的接触，支撑部左右对称地设有两个，所述滑轨安装在支撑部上，所述滑轨与OCP板卡侧边配合，滑轨方便待测DUTOCP3.0板卡的插接，避免插接不稳定，实现待测DUTOCP3.0板卡垂直方向的定位，避免板卡的歪斜，同时也是对待测板卡的保护，延长板卡寿命。3、本技术中滑槽内侧设有第二倒角，第二倒角方便将OCP板卡插入到滑槽内，减少磕碰。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例一结构示意图一；图2为本技术实施例一结构示意图二；图3为本技术实施例一转接板结构示意图；图4为本技术实施例一滑轨结构示意图；图5为本技术实施例二结构示意图。图中：转接卡1，滑轨2，支撑部3，金手指4，连接器5，连接头6，滑槽7，连接孔8，第一倒角9，第二倒角10，减重槽11，连接板12，长条孔13。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本技术中的技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。tx信号是指发送端的信号，rx信号是接收端信号。为方便描述，现定义坐标系如图1所示。实施例一：如图1和图2所示，一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，包括转接卡1和滑轨2，所述转接卡1上端设有支撑部3，结构采用U型设计，可以将OCP3.0网卡完全包住，实现更稳定的接触，支撑部3左右对称地设有两个，所述滑轨2安装在支撑部3上，所述滑轨2与OCP板卡侧边配合，所述转接卡1下端设有金手指4，金手指4选用标准PCIEX16金手指，可实现转接卡与PCIE的标准测试治具CBB的连接，从而实现PCIE信号的测试，所述转接卡1下端与滑轨2对应的位置设有连接器5，所述连接器5选用OPC3.0连接器，使用螺丝将导轨固定在转接卡上，将待测DUTOCP3.0板卡顺着导轨方向插接到转接卡上，将转接卡的金手指插入PCIECBB测试治具上，CBB通过SMP转SMA线缆连接到示波器上，CBB上电后实现OCP3.0板卡的信号测试。可以将OCP3.0板卡的PCIE信号引出，连接到PCIE标准测试治具CBB上，实现OCP板卡PCIETX信号的测试，从而更好的保证OCP板卡性能。滑轨2方便待测DUTOCP3.0板卡的插接，避免插接不稳定，实现待测DUTOCP3.0板卡垂直方向的定位，避免板卡的歪斜，同时也是对待测板卡的保护，延长板卡寿命。测试时需要将待测DUTOCP3.0板卡与转接卡、标准PCIE测试治具CBB连接，然后CBB连接到电源即可。结构比较简单，因此本技术的PCIEX16的标准金手指的开口方向走哪个方向均可以。转接卡的设计会引入部分损耗，因此板卡走线越短引入的损耗就越少，PCIETX、RX信号灯走线尽可能的短。另外PCIETX信号、RX信号各自需做等长处理，保证引入损耗的一致性，例如走线线长均设定为1000+-mil。如图4所示，所述滑轨2包括连接头6和滑槽7，连接头6位于滑槽7外侧一端，本实施例中连接头6设有三个，滑槽7呈U形，OCP板卡侧边与滑槽7配合，滑槽7固定OCP板卡，同时起到导向作用。如图3所示，所述支撑部3上设有连接孔8，连接孔8与连接头6一一对应，所述滑轨2上的连接头6与支撑部3通过螺栓连接。如图4所示，所述滑槽7上端设有第一倒角9。如图4所示，所述滑槽7内侧设有第二倒角10，第二倒角10方便将OCP板卡插入到滑槽7内，减少磕碰。如图2所示，所述滑轨2上下两端均设有减重槽11。实施例二：如图5所示，所述滑轨2外侧一端设有连接板12，连接板12上设有长条孔13，长条孔13能够降低加工精度，方便安装滑轨。其余部分与实施例一相同。在对本技术的描述中，需要说明的是，术语“左”、“右”、“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，其特征在于，包括转接卡(1)和滑轨(2)，所述转接卡(1)上端设有支撑部(3)，支撑部(3)左右对称地设有两个，所述滑轨(2)安装在支撑部(3)上，所述滑轨(2)与OCP板卡侧边配合，所述转接卡(1)下端设有金手指(4)，所述转接卡(1)下端与滑轨(2)对应的位置设有连接器(5)。/n

【技术特征摘要】
1.一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，其特征在于，包括转接卡(1)和滑轨(2)，所述转接卡(1)上端设有支撑部(3)，支撑部(3)左右对称地设有两个，所述滑轨(2)安装在支撑部(3)上，所述滑轨(2)与OCP板卡侧边配合，所述转接卡(1)下端设有金手指(4)，所述转接卡(1)下端与滑轨(2)对应的位置设有连接器(5)。


2.如权利要求1所述的一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，其特征在于，所述滑轨(2)包括连接头(6)和滑槽(7)，连接头(6)位于滑槽(7)外侧一端，OCP板卡侧边与滑槽(7)配合。


3.如权利要求2所述的一种OCP转PCIE标准卡用转接卡，其特征在于，所述支撑部(3)上设...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱黎，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32