【技术实现步骤摘要】
一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置
本专利技术涉及光电系统中的精密光轴调节
,更具体的说是涉及一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置。
技术介绍
在当前光电
中,需要对观测目标进行激光照明和激光干扰,这需要将激光发射光轴校正到被观测目标同轴,在射击等场合以提高对准精度。现有的同轴检测一般基于图像识别,譬如申请号为201621252195.X的“一种新型测距瞄准镜光轴校正仪”,其包括球面反射镜、光管组件、靶标、CCD相机等,球面反射镜将被校产品发射的光聚到靶面上,光管组件可移动,CCD相机接收靶标十字线的像,将十字线的像调至CCD图像采集窗口的中央,实现矫正。采用该方式,其结构复杂,且基于CCD相机进行矫正,其成本高。
技术实现思路
本专利技术为了解决上述技术问题提供一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置。本专利技术通过下述技术方案实现:一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,包括光斑探测模块和目标观测模块,所述光斑探测模块包括依次同轴设置光源、聚光镜、分划板、准直物镜,所述光斑探测模块还包括将分划板的部分光线汇聚至光斑探测器上的分光器件;所述目标观测模块包括激光器、将激光器部分光源分至准直物镜光源路线中的第二分光镜和依次与准直物镜同轴设置的第二成像物镜、物体探测器,所述激光器安装在位置角度调整装置上。本方案基于双探测器,分划板作为基准目标,光源、聚光镜、分划板、准直物镜、第二成像物镜、物体探测器同轴,通过调整激光器的光源在光斑探测器上的位置与 ...
【技术保护点】
1.一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,其特征在于,包括光斑探测模块和目标观测模块,/n所述光斑探测模块包括依次同轴设置光源(1)、聚光镜(2)、分划板(5)、准直物镜(6),所述光斑探测模块还包括将分划板(5)的部分光线汇聚至光斑探测器(9)上的分光器件;/n所述目标观测模块包括激光器(11)、将激光器(11)部分光源分至准直物镜(6)光源路线中的第二分光镜(7)和依次与准直物镜(6)同轴设置的第二成像物镜(8)、物体探测器(10),所述激光器(11)安装在 位置角度调整装置上。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置,其特征在于,包括光斑探测模块和目标观测模块,
所述光斑探测模块包括依次同轴设置光源(1)、聚光镜(2)、分划板(5)、准直物镜(6),所述光斑探测模块还包括将分划板(5)的部分光线汇聚至光斑探测器(9)上的分光器件;
所述目标观测模块包括激光器(11)、将激光器(11)部分光源分至准直物镜(6)光源路线中的第二分光镜(7)和依次与准直物镜(6)同轴设置的第二成像物镜(8)、物体...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨博,宋伟红,高大华,
申请(专利权)人:四川中科朗星光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:四川;51
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