基于F-P干涉仪透射式正交偏振相位显微成像装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供的是一种基于F‑P干涉仪腔内增强型透射式正交偏振相位显微成像装置。其特征是：它由激光光源1、光衰减系统2、激光扩束系统3、F‑P干涉仪4、PBS偏振分光棱镜5、显微物镜6和8、探测相机7和9、计算机10组成。本发明专利技术可用于微小物体的数字全息测量，可广泛用于各种物体内部的折射率三维显微成像领域。

Transmission type orthogonal polarization phase micro imaging device based on F-P interferometer

【技术实现步骤摘要】
基于F-P干涉仪透射式正交偏振相位显微成像装置(一)
本专利技术涉及的是一种基于F-P干涉仪腔内增强型透射式正交偏振相位显微成像装置，可用于光纤及细胞等各种微小物体内部的折射率三维显微成像，属于光学成像
(二)
技术介绍
显微光学成像，通常也称“光学显微成像”(OpticalMicroscopy)或“光学显微术”(LightMicroscopy)，是指透过样品或从样品反射回来的可见光，通过一个或多个透镜后，能够得到微小样品的放大图像的技术。所得图像可以通过目镜直接用眼睛观察，也可以用感光板或数字化图像探测器如电荷耦合器件(CCD)、互补金属氧化物半导体(CMOS)进行记录，还可以在计算机上进行显示和分析处理。采用明场照明方式的普通光学显微术通常存在三个方面的局限性：一是只能对深色样品(透射型)或强反光样品(反射型)进行成像；二是光学衍射极限限制了该技术的最高分辨率约为200nm；三是离焦信息会降低图像对比度。基于样品中(外源或内源)荧光分子的激发和荧光发射的荧光显微术(FluorescenceMicroscopy)，可以突破无法本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于F-P干涉仪腔内增强型的透射式正交偏振相位显微成像装置。其特征是：它由激光光源1、光衰减系统2、激光扩束系统3、F-P干涉仪4、偏振分光棱镜(PBS)5、显微物镜6和8、探测相机7和9、计算机10组成。所述装置中，将待测微粒放入F-P干涉仪(法布里-珀罗干涉仪)，激光光源1发出的光经光衰减系统2衰减后，再由激光扩束系统3扩束，随后进入到F-P干涉仪4，光束在F-P干涉仪的腔内每反射一次，都有相应的透射光传至PBS偏振分光棱镜5中，经过多次反射后，PBS分光棱镜产生两束传播方向垂直且偏振态相互垂直的光束，分别传至显微物镜6和8，由探测相机7和9分别接收信号后，将得到的信号传输至计算机...

【技术特征摘要】
1.一种基于F-P干涉仪腔内增强型的透射式正交偏振相位显微成像装置。其特征是：它由激光光源1、光衰减系统2、激光扩束系统3、F-P干涉仪4、偏振分光棱镜(PBS)5、显微物镜6和8、探测相机7和9、计算机10组成。所述装置中，将待测微粒放入F-P干涉仪(法布里-珀罗干涉仪)，激光光源1发出的光经光衰减系统2衰减后，再由激光扩束系统3扩束，随后进入到F-P干涉仪4，光束在F-P干涉仪的腔内每反射一次，都有相应的透射光传至PBS偏振分光棱镜5中，经过多次反射后，PBS分光棱镜产生两束传播方向垂直且偏振态相互垂直的光束，分别传至显微物镜6和8，由探测相机7和9分别接收信号后，将得到的信号传输至计算机10进行处理。计算机10将得到的两组信号做出对比，消除掉单张图像所存在的误差，得到理想的图像。

【专利技术属性】
技术研发人员：苑立波，李晟，孟令知，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：发明
国别省市：广西;45