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基于F-P干涉仪透射式正交偏振相位显微成像装置制造方法及图纸
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下载基于F-P干涉仪透射式正交偏振相位显微成像装置的技术资料
文档序号:24085537
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本发明提供的是一种基于F‑P干涉仪腔内增强型透射式正交偏振相位显微成像装置。其特征是:它由激光光源1、光衰减系统2、激光扩束系统3、F‑P干涉仪4、PBS偏振分光棱镜5、显微物镜6和8、探测相机7和9、计算机10组成。本发明可用于微小物体的...
该专利属于桂林电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过桂林电子科技大学授权不得商用。
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